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1.
计算了O
2-H
2O-CH
4-SOCl
2-SiO
2和O
2-H
2O-CH
4-CF
4-SiO
2系统与CVDSiO
2光纤有关组成的多相平衡,给出在1073~2573K温度下沉积SiO
2内的平衡羟基浓度并讨论了SOCl
2与CF
4添加剂在MCVD过程中的脱氢作用.
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2.
采用淬火法和固相反应法,并结合显微镜和X射线多晶分析,研究了Sm_2O_3-BeO、Ho_2O_3BeO和Y_2O_3-BeO体系的相平衡关系,并作出相图(图1)。试料制备和实验方法见文献[1、2],原料纯度见表1。
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3.
在EPMA(电子探针显微分析仪)电子束轰击下,快离子导体内的钠离子迁移和金属沉积服从递减源的离子迁移方程式: Q=α[1—exp(—bt)]+Q_0 exp(—bt) (1)式中Q——金属沉积量;a、b——常数,分别
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