镧系元素的软X射线出现电势谱

软X射线出现电势谱(SXAPS)测定固体表面受电子轰击后特征X射线的产额与轰击电子能量之间的关系,可用于分析固体的表面成分、原子内层电子的束缚能和提供空带电子能态密度的有用信息.近年来还发现它与表面的原子结构有关,因此是研究表面物理的一     

封闭式出现电势谱仪及其应用

一、引言七十年代期间,由于表面科学迅速发展的需要,研究固体表面组分、表面结构或表面原子的电子结构的各种谱仪不断出现.软X射线出现电势谱(SXAPS)就是其中之一.在出现电势谱仪中,用一定能量的电子轰击固体(靶)表面,然后用光电法测定所产生的软X射线强度与轰击电子能量之间的关系.大家知道,在这种软X射线中包含着     

一种用作分子电子材料的螺杂环化合物

设计并合成了一种具有螺环结构的高熔点有机分子。这种分子能够和银形成络合物薄膜，并具有很好的热稳定性和电双稳特性。络合物薄膜 8V电压作用下，可以从高阻态转变成低阻态，跃迁时间为15ns。