高等教育变革的新趋势:知识与市场视角

知识作为高等教育内部系统的关键变量与市场需求作为高等教育系统变革的外部动力,与高等教育自身系统紧密交织在一起,彼此相互作用与互相建构。文章从知识与市场需求的视角对高等教育中的知识属性变化,知识生产方式从模式1向模式2的转变,高等教育知识的消费者的兴起,以及营利性大学的崛起等方面做了深入探讨与分析。     

渗硼层红硬性的研究

本文较系统地研究了双相组织FeB+Fc_2B渗硼层经不同温度加热后硬度的变化,给出了一系列硬度分布曲线,对高温工作的零件渗硼将有指导意义。     

氩氢摩尔比对直流电弧等离子体喷射法等离子体放电特征影响的计算

假定氩-氢等离子体处于局部热力学平衡状态,利用理想气体分子运动论和经典查普曼-恩斯科格( Chapman-Enskog)方法,在获取符合直流电弧等离子体喷射法实际工况的等离子体热力学和输运参数的基础上,基于FLUENT软件进行二次开发,添加电磁场相关的电流连续方程、安培定律等方程及洛伦兹力、焦耳热等源项,模拟研究氩氢摩尔比对等离子体放电特征影响规律。结果表明：在气压为8 kPa,工作电流150 A,氩氢摩尔比由3：1降至1：3时,等离子体最大流速由829 m· s-1增至1127 m·s-1,最高温度由20600 K逐渐降低至16800 K,电弧对基体的加热能力逐渐增强的同时使基体表面温度均匀性变差。在其他条件不变的前提下,氩氢摩尔比为1：2时能获得适宜金刚石生长且相对均匀的基体表面温度。     

汉英翻译中的简洁策略

简洁的译文不仅以最经济的文字表达出最丰富的内容,贴切而生动地表达原文的思想感情,而且能提高译文的表达效果。简洁的翻译表现在用词精当、结构合理、重心突出、层次清楚等方面,因此要摆脱原文语言结构的束缚,用符合译语语言表达习惯的句式来实现通畅、简洁的翻译。     

双层辉光离子渗金属技术等离子体诊断初探

利用朗谬尔静电探针技术对双层辉光离子渗金属的等离子体参数进行了初步诊断,结果表明,等离子体电位和电子温度随气压的升高平缓下降,而等离子体密度则随气压的增加而提高,等离子体电位和电子温度均随源极电压和工件阴极电压的增加而降低,在适当的工艺条件下,源极和阴极之间产生了不等电位空心阴极效应,等离子体密度从１０＾１０数量级增加到１０＾１２ｃｍ＾－３。     

跨文化对比在高职英语教学中的运用

本文主要探讨跨文化对比教学在高等职业英语教学中的重要性和必要性以及对待文化差异的态度：承认文化差异、接受文化差异和超越文化差异;并对跨文化对比教学方法导入高职英语教学的具体操作方法进行阐述。     

辽河三角洲湿地景观破碎化分析

在"3S"的技术支持下,基于辽河三角洲湿地1988-2009年7年不同时期的遥感数据,选用斑块密度指数、分维数、分离度、景观多样性指数、景观优势度指数、景观香农多样性指数6种指数对辽河三角洲湿地景观破碎化程度进行分析.结果表明:(1)1988-2009年辽河三角洲湿地景观格局呈现破碎化趋势;(2)在不同湿地景观类型中,芦苇沼泽破碎化程度最为显著,其分维数最小、分离度最大;(3)景观多样性指数和景观香农多样性指数呈现上升态、景观优势度指数呈现下降态.研究表明辽河三角洲湿地景观破碎化程度具有增强的趋势.     

气体循环条件下等离子体喷射CVD金刚石膜的生长稳定性和品质

在气体循环条件下采用H2、CH4和Ar的混合气体,利用100kW直流电弧等离子喷射CVD系统,在850和950℃下在Mo衬底上沉积了不同厚度的金刚石膜;并利用扫描电镜(SEM)、X射线衍射(XRD)和Raman光谱对膜的形貌、品质、取向和残余应力进行了分析.结果表明:在850℃下,随着金刚石膜厚度的增加,膜的品质不断提高,残余应力逐渐减小,且残余应力为拉应力,膜的生长稳定性很好;在反应气体流速不变的条件下,相比950℃沉积的厚度为120μm的金刚石膜,在850℃下沉积的厚度为110μm的金刚石膜有更好的生长稳定性,膜的品质更高,残余应力更小.     

美国营利性高等教育组织的多视角研究

营利性高等教育组织自20世纪末产生以来，各界人士就对这一新生事物的看法褒贬不一。对美国营利性高等教育组织的探讨，需要从其发展、存在的争论与既有研究三个方面入手，分别从“市场的、哲学的、政治的、经济的、质量的、宏观的、微观的”等视角诠释作为新高等教育组织形式之边界的营利性大学，为我国营利性教育组织的管理与发展提供借鉴。     

静电辅助的气溶胶化学气相沉积法制备Y2O3薄膜

采用静电辅助的气溶胶化学气相沉积的方法成功地在Si(100)衬底上制备了Y2O3薄膜,利用X射线衍射(XRD)、场发射扫描电镜(FE-SEM)、原子力显微镜(AFM)和X射线光电子能谱(XRP)对薄膜进行了表征.SEM分析结果显示,薄膜的颗粒为纳米级的,并且薄膜致密、平整.AFM分析结果表明,薄膜的粗糙度为11nm.由XPS分析可知,薄膜为基本上符合化学计量比的氧化物.附着力测试表明,Y2O3薄膜与Si衬底的附着力为4.2N.X射线衍射分析结果表明,沉积得到的Y2O3薄膜在热处理前为非晶结构,热处理之后薄膜具有立方晶体结构,并且沿(111)面择优生长.