数字电视机顶盒综述

在介绍数字电视机项盒的定义、功能及分类的基础上，着重探讨了数字电视机顶盒的软、硬件结构以及该产品的市场前景等问题。     

汽车修竣后的检验

长期以来，如何对修竣后的汽车进行系统性的检验，如何了解汽车的技术性能是否得到完全恢复，这些问题一直困扰着广大汽车维修和检测人员。主要对修竣后的汽车，如何进行路试前、路试中及路试后检验进行了详细的探讨。     

图析宁波电视收视格局

文章对宁波的电视收视总体格局、晚间时段各电视频道的竞争态势,以及电视剧在宁波的收视情况作了由总及分的探讨和分析,将数据做成图表的形式形象、科学地解构了宁波电视的收视格局,对了解宁波电视收视情况和促进各台竞争提供了实际的参考价值.     

Robustness of alternative non‐linearity tests for SETAR models

In recent years there has been a growing interest in exploiting potential forecast gains from the non‐linear structure of self‐exciting threshold autoregressive (SETAR) models. Statistical tests have been proposed in the literature to help analysts check for the presence of SETAR‐type non‐linearities in an observed time series. It is important to study the power and robustness properties of these tests since erroneous test results might lead to misspecified prediction problems. In this paper we investigate the robustness properties of several commonly used non‐linearity tests. Both the robustness with respect to outlying observations and the robustness with respect to model specification are considered. The power comparison of these testing procedures is carried out using Monte Carlo simulation. The results indicate that all of the existing tests are not robust to outliers and model misspecification. Finally, an empirical application applies the statistical tests to stock market returns of the four little dragons (Hong Kong, South Korea, Singapore and Taiwan) in East Asia. The non‐linearity tests fail to provide consistent conclusions most of the time. The results in this article stress the need for a more robust test for SETAR‐type non‐linearity in time series analysis and forecasting. Copyright © 2004 John Wiley & Sons, Ltd.     

1151系列式传感器上毛细管的疲劳寿命对比试验

设计了1151系列电容式传感器上非标准件的疲劳寿命对比试验,对铂-铑合金毛细管和铂-铱合金毛细管试件进行对比试验。采用等强度悬臂梁对试件施力,电阻应变片接收施力反馈信号,并采取多项措施提高试验精度。结果表明,铂-铱合金毛细管可以代替铂-铑合金毛细管。     

时滞测试能量函数的局限性分析和改进模型

针对时滞试能量函数，分析了它在无冒险强健测试矢量生成时存在局限性和表达式较复杂的不足。在此基础上建立了无冒险条件下的时滞试能量函数，从而完善了Chakradhar提出的时滞测试能量和相应的测试生成算法。     

硅栅CMOS集成电路测试图形的研究

本文介绍了用于硅栅CMOSIC园片级工艺诊断和可靠性监控的微电子测试图形。重点论述了(1)用于检测漏、源及多晶硅薄层电阻和因扩散及腐蚀引起的横向变化量的组合结构,(2)用于监测CMOSIC动态参数的结构设计及其对工艺的评价。     

第二类三分子模型的球对称不稳定性

本文采用Hopf分岔理论对第二类三分子模型进行了详细的研究。结果表明,在固定边界条件下,自振荡不稳定性只能出现在稀释过程中。此外,本文还给出了时间周期解的解析表达式。     

数据域与微机应用系统

本文着重描述在数据转换过程中如何把数据信息按区域进行细分，以弄清数据信息的性质，进而确定一个最优数据通路，建立高效应用系统。     

轴外物点理想成像的条件

用费马原理证明了轴外物点理想成像的条件