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41.
黄国华 《广西师范学院学报(自然科学版)》2000,17(4):14-16
该文讨论了导纳统一算符的运用条件,探讨了导纳统一算符在集成电路和集成光路中的应用。结果表明,导纳统一算符的分析方法不仅运用于集成电路,也运用于集成光路。 相似文献
42.
Chen Guanhua 《华南师范大学学报(自然科学版)》2014,(6)
正We have developed a multiscale method to model emerging electronic devices.It features a combination of first-principles calculation,semi-classical semiconductor device simulation,compact model generation and circuit simulation.We have applied the method to model a new type of transistors and their circuits:junctionless fieldeffect transistor.The transfer characteristics of junctionless field-effect transistors are simulated by a recently devel- 相似文献
43.
“虚拟电路”新概念及其在大规模网络撕裂分析中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
该文提出了"虚拟电路"新概念,并将其应用于大规模电路撕裂分析中,这一概念把支路撕裂、节点撕裂和混合撕裂三种不同的方法统一起来,而且根据"虚拟电路"可以直接建立标准的BBD (Bordered Block Diagonal)形式撕裂方程.该文提出的方法对于大规模网络任何一种撕裂都是适用的. 相似文献
44.
介绍了T6 96 3C液晶显示控制器及SMG2 4 0 12 8图形点阵式液晶显示模块 (LCM)的工作原理 ,并以 80 31单片机为例 ,论述了微机测控系统中LCM的硬件接口电路和软件模块设计方法。这些技术和方法对智能测控装置的人机界面设计具有参考价值 相似文献
45.
从A/D转换基本规则出发,提出了一种电流模式MOSA/D转换神经网络,并对该网络进行了分析研究,导出确定权值的公式。网络权值易存贮且调节简单。用PSPICE对4-bitA/D转换网络进行仿真,并对采用分立元件的构成的3-bitA/’D转换网络进行了实验。 相似文献
46.
崔玉岭 《山东理工大学学报:自然科学版》2007,21(5):97-100
从实际应用角度出发,对过载、短路、接触不良等家庭电气火灾原因进行分析,提出了电气火灾的预防措施,并针对日常生活电气防火提出合理建议. 相似文献
47.
在数字电路最优神经网络模型的基础上,研究基于该模型的电路测试生成方法.首先获得了多输入基本门电路的最优神经网络能量函数的一般表达式,然后对这种测试方法的原理、实现步骤、以及加速测试的措施等进行了详细研究.结果表明以最优神经网络模型为基础的电路测试方法在测试生成的速度方面快于其它类似方法,如基于Hopfield神经网络的电路测试生成,具有较好的应用潜力. 相似文献
48.
PAN Zhongliang CHEN Ling ZHANG Guangzhao 《武汉大学学报:自然科学英文版》2006,11(6):1943-1946
With the complexity of integrated circuits is continually increasing, a local defect in circuits may cause multiple faults. The behavior of a digital circuit with a multiple fault may significantly differ from that of a single fault. A new method for the detection of multiple faults in digital circuits is presented in this paper, the method is based on binary decision diagram (BDD). First of all, the BDDs for the normal circuit and faulty circuit are built respectively. Secondly, a test BDD is obtained by the XOR operation of the BDDs corresponds to normal circuit and faulty circuit. In the test BDD, each input assignment that leads to the leaf node labeled 1 is a test vector of multiple faults. Therefore, the test set of multiple faults is generated by searching for the type of input assignments in the test BDD. Experimental results on some digital circuits show the feasibility of the approach presented in this paper. 相似文献
49.
针对标准单元模式的超大规模集成电路布局问题,提出一种新的基于时延和功耗双重优化目标的布局算法.在以优化时延为目标函数的布局结果基础上,进一步降低芯片的功耗特性,并通过算法设计较好地解决了两者优化方向的一致性.通过标准单元测试电路的实验结果表明,该算法在时延及功耗优化方面综合性能良好. 相似文献
50.
以Hopfield神经网络为基础,提出一种网络模型,可以正确处理平面图着四色问题,它具有结构简单,连接规则,容错性强等优点,并可用电子电路实现,在各个神经元外加激励稍有不同或网络连接权值有偏差的情况下可以得到正确输出,用两种途径进行仿真,其结果与理论分析相吻合。 相似文献