电磁继电器触点面的SEM和XPS研究

使用X射线光电子能谱（XPS）和扫描电子显微镜（SEM）等表面分析方法,研究未启封、使用过失失效和使用过失效的继电器触点表面和形貌、组份和结构,结构表明,经过使用后触点表面烧蚀严重并发生磨损,其组份中含Ag、Sn、C和O等原子,C和O的XPS峰显示,触点表面氧化膜和碳化物的形成,导致接触电阻增大,从而影响继电器的稳定履使用寿命。     

X射线能量色散谱表征纳米多层膜的调制结构

提出并讨论了采用 X射线色散谱 ( EDX)技术表征纳米多层膜调制结构的原理和方法 ,对Ti N/ Nb N纳米多层膜的调制结构特征进行了表征 ,并与横截面透射电子显微镜 ( TEM)表征方法进行比较 .结果表明 ,对于多层膜的调制比 ,EDX是一种更为精确和方便的方法 .采用 EDX结合 X射线衍射 ( XRD)技术可以准确、方便地表征纳米多层膜的调制结构 .     

防晒化妆品的防晒效果研究

应用分光光度法测定溶液透光率的原理,但又不同于常规的测定方法,而是净化妆品模拟上妆在比色皿的透光面上,再用一定波长的紫外线测定各种化妆品的透光率,然后根据不同化妆品的透光率大小,从而得出各种化妆品的防晒效果,取得了比较满意的实验结果,这对厂家依据消费者的不同需求,生产各种品牌的防晒化妆品,以及质检部门对防晒系列化妆品进行分类,加强规范化管理有借鉴和背景意义。     

奇数维代数簇的小收缩映射

X是2k-1维光滑射影簇．fR：X→Y是小收缩映射,如果例外集 E 的维数为k,那么在特定的条件下E是若干个k维射影空间的不连通的并．     

蒙脱石-铁(Ⅲ)催化剂的研究

制备了蒙脱石-铁(Ⅲ)催化剂.通过X射线衍射、电子显微镜 等研究了催化剂的 结构性质.在蒙脱石-铁(Ⅲ)催化剂中Fe(Ⅲ)存在于层间,蒙脱石结构没有根本变化.催化剂 中石英含量约为22%～24%.EC1,EC2中蒙脱结构缺陷较EC4,EC5和EC6少.EC4, EC5和EC6做催化剂时使反应物转化率高、速度快,与反应液分离简单,可重复使用.     

双α射线冷却法测空气湿度的研究

介绍了双α放射线性同位素检测露点的方法。使用半导体探测器及半导体制冷器构成传感器,并利用无模型控制器进一步控制半导体制冷温度,达到对露点跟踪,实施在线检测并显示输出。实验结果表明,在-40～20℃范围内,具有很好的测量精度和重复性,测量精度优于±1℃。     

蒸发波导环境下雷达电磁盲区的分布特征

蒸发波导是近海面大气环境中出现概率最高的一种大气波导,利用蒸发波导可以实现雷达超视距探测.然而,由于蒸发波导的存在,雷达的电磁盲区也会发生不同的变化,从而对岸基、舰船雷达的探测性能产生极大的影响.基于射线追踪技术,构建了电磁波传播路径的微分计算方法,并对蒸发波导环境中的岸基、舰船雷达电磁盲区随雷达天线高度变化特征进行了...     

单轴晶光率体主截面内离散角的研究

光在各向异性晶体中传播时,e光的光线方向与光波法线方向一般有一个较小的夹角,即离散角α.对光学器件设计和光路分析而言,这是经常需要考虑的问题.在单轴晶光率体主截面内,根据晶体光学相关理论,采用一种非常简便的数学方法,得到了不同情况下离散角的一般表达式.     

快速判别直线段与圆位置关系的算法研究

提出了一种直线段相对于圆形区域位置关系的快速判别方法，该算法首先利用圆心到直线段所在直线的距离以及从圆心向直线段所引的垂直射线，判别直线段与圆的位置关系，在确定直线段与圆有交点的情况下，用旋转矢量法求解交点，该算法引进的主射线、主矢量等概念思路新颖，在判断线段完全可见或完全不可见方面，计算量小，效率很高。     

矿井UWB路径损耗模型的构建及仿真

采用射线反射模型预测电波传播损耗,建立了矿井超宽带路径损耗模型,并进行了仿真验证。首先对适合窄带信道的射线反射模型进行了分析和仿真,然后结合超宽带信道的频率依赖特点,对射线反射模型进行了修正,建立了矿井UWB路径损耗预测的镜像法反射模型,并对实际UWB测量矿井环境进行了传播损耗预测,将预测结果进行了最小二乘法参量拟合,得到了与测量结果相符的路径损耗指数,验证了预测结果的正确性。