Ne-Ar缓冲气体对T6大功率低压汞灯254nm紫外辐射效率的影响

使用Keitz方法测量了填充133～1333Pa Ne-Ar混合缓冲气体与纯Ar缓冲气体的大功率低压汞灯的紫外和可见辐射功率,得到了灯的输入功率和254nm紫外辐射效率随冷端温度、放电电流、缓冲气体种类和气压的变化关系.实验结果表明,填充Ne-Ar混合缓冲气体灯的输入功率比纯Ar缓冲气体灯高50 W/m,能够提供更高的紫外辐射功率,冷端温度在45～48℃时254nm辐射效率最高,达到40%以上,其辐射效率随电流增加和缓冲气体气压增大而降低,而汞的其他谱线(265～579nm)在不同的放电条件下的辐射效率之和低于10%.     

材料图像目标粘连点定位与分割方法研究

该文所处理的纤维材料图像由扫描电子显微镜获取.图像具有目标孔洞粘连明显、重叠、彩色信息较弱的特点.通过对图像中亮度V(Value)分量进行操作.利用方向链码可以表示曲线率的特点,计算出链码差,从而提取出目标粘连处的特征凹点,并通过凹点之间的相关性,采用局部曲率最大的原则对提取的凹点进行筛选,在此基础上实现了对凹点的定位和较为成功的目标区域分割,解决了后续参数提取工作的关键问题.     

低温淀积纳米非晶碳薄膜的场发射特性研究

以n型 ( 10 0 )Si为衬底 ,用CH4 和H2 作反应气体 ,在 150℃的衬底温度下淀积了非晶碳平面薄膜 .SEM照片和AFM均显示该薄膜具有很好的均匀性 ,非晶碳粒的尺寸为 90～ 10 0nm .喇曼谱分析表明 ,薄膜的主要成分为SP2 非晶碳 .对样品薄膜的不同区域进行了场发射特性的测试 ,各被测区域的场发射特性表现出很好的一致性 .在不同电压下进行了发光测试 .实验表明 ,样品薄膜的开启电场很低 ,约为 4V/ μm ,在 7V/ μm的电场下 ,场发射电流密度为 0 0 16A/cm2 ;用迭代法计算得薄膜的功函数为 0 65V .通过对样品的实际发射面积估算 ,得出发射点密度为 6× 10 4cm- 2 .     

鳖“黑斑病”病原的初步研究

对鳖黑斑病的病原分离、人工感染、生理生化、药物敏感试验等进行了研究和探讨,确定该病的致病菌为嗜水气单胞菌（Aeromonas hydrophila）,该病的治疗宜采用环丙沙星、庆大霉素、氟嗪酸等。     

张集矿北区地层冻结温度场的实测与分析

为了解人工冻结过程中冻结壁温度场的发展规律,现场实测了淮南矿业集团公司张集矿北区地层风井的温度变化,详细分析了不同地层冻结壁温度场的发展特性,和冻结壁内部外圈冻结管以外、内圈冻结管以内和两圈冻结管之间冻土区的发展规律,得出冻结壁发展速度等关键技术参数。对冻结凿井的设计和施工有着重要的指导意义。     

点状网络继电保护配置方案分析与改进

点状网络作为中低压配电网结构的一种,其结构特点为多电源并联供电,单母线运行,低压母联常闭．采用闭锁非故障线路保护的方法解决了传统点状网络保护方案存在非故障线路保护误动作问题,利用保护装置保存故障前信号解决了逆功率死区问题,用PSCAD建立三台变压器典型点状网络模型,对改进方法进行故障仿真,结果表明方案可行：     

小光点X射线测定锭杆残余应力的测试精度研究

X射线测定锭杆的残余应力是无损和无接触的唯一方法。它在生产过程中作为质量控制依据的重要性已被人们所认识和强调。本文讨论测定锭杆或小半径工件残余应力的基本原理。为了减少在小半径工件应力测定中X射线光束衍射强度和测角仪旋转轴精度产生的误差,必须采用新的小光点X射线管和工件旋转法。同时,讨论对测定小半径工件残余应力的修正法。所得到的结果是满意的。     

全面开发双龙风景区旅游资源

双龙风景名胜区是国家级重点名胜区,在分析了双龙风景名胜区丰富的旅游资源和优越的地理位置的基础上,提出了全面、合理开发双龙风景名胜区旅游资源的设想。     

期货与现货价格的动态关系——基于沪市期货交易所铜铝的实证分析

期货与现货价格之间的变动关系从一个侧面揭示出期货市场的运行效率,同时也是投资者十分关注的问题.借助单位根检验、协整检验、误差修正模型和Granger因果关系检验,以上海期货交易所铜、铝这2个期货品种为例,主要研究期货价格变动对现货价格变动的影响,定量地刻画出期货价格变动对现货价格变动的影响程度.研究结果显示,这2个品种期货与现货价格之间存在长期均衡关系,期货与现货价格相互作用,互为因果.     

点射光光度分析法

推导溶液对单色点射光吸收的数学方程式lna＝kcb+B,式中a是吸收池上光栏与点射光源的距离(cm);k是溶液对点射光的吸收系数;c是溶液中吸光粒子的浓度;b是吸收池厚度(2mm);B是当a＝100cm调节灯光电流使透光(电流)强度为一常数的常数值.用KMnO4标准溶液、Cu(NH3)4SO4标准溶液和Na2CuY标准溶液验证吸收方程式,并用Na2CuY为介质测定标准黄铜样(Cu＝60.93%)取得良好结果(60.95%).对吸收方程式进行误差分析得到dc/f＝da/a(lna-B)a＞0,在a＞10和T在1～100之间,此式与差示光度法的误差分析式极像.该方法适用于高浓度分析.