原位聚合PAM改性环氧树脂Ⅰ.合成与表征

以对苯二甲醛（ＰＤＡ）和对苯二胺（ＴＰＡ）为原料在环氧树脂（ＥＰ）基体中原位聚合聚甲亚胺（ＰＡＭ）,得到ＰＡＭ分散良好的改性ＥＰ体系。用红外光谱、紫外光谱对位聚合的结果进行了表征,并用ＧＰＣ测定了原位聚合生成的ＰＡＭ的相对分子质量。以三乙烯四胺（ＴＥＴＡ）固化原位聚合ＰＡＭ改性的ＥＰ,原位聚合过程中未加稀释的改性体系与纯ＥＰ相比力学性能变化不明显;原有ＰＡＭ改性的ＥＰ,原位聚合过程中未加稀释剂的改     

高吸水性树脂聚丙烯酸钠盐制备工艺研究

本工艺研究采用正交实验方法,研究了丙烯酸在聚合过程中的引发剂、交联剂,丙烯酸中和度,单体浓度和反应温度等因素对树脂吸水性的影响,从中获得最佳合成工艺,制得树脂吸水率达１４０ｇ／ｇ（去离子水）,吸水速率快,保水性较好。     

密胺树脂包覆甲基丙烯酸正丁酯微胶囊的制备

以甲基丙烯酸正丁酯（BMA）为囊芯,密胺树脂为高分子囊壁材料,采用原位聚合法制备具有自修复功能的微胶囊.利用激光粒径分布仪、光学显微镜、微机差热天平和傅里叶变换红外光谱仪分别研究了微胶囊的粒径分布、表面形态、热性能和化学结构.讨论了乳化剂用量、搅拌速度以及芯材与壁材的投料质量比对微胶囊制备工艺的影响.结果表明：所得微胶...     

绝缘环氧模塑料表面导电聚吡咯薄膜的化学聚合与表征

电磁波干扰越来越多地存在于我们的日常生活中,许多微电子封装材料需要具备屏蔽电磁波的功能.聚吡咯由于具有良好的导电性能和环境稳定性,表现出优异的电磁屏蔽能力.我们利用化学聚合法在绝缘环氧模塑料封装材料表面制备得到了导电聚吡咯薄膜,用X射线光电子能谱、红外光谱、扫描电子显微镜对聚合物薄膜进行了表征.通过SEM分析表明,经对甲基苯磺酸钠掺杂后,制备得到的聚吡咯薄膜均匀连续、致密平整,用四探针测试仪测得掺杂后聚吡咯薄膜的电导率达到了2.3×103S/m以上.     

UV聚合新型功能吸油性树脂研究

采用紫外光聚合法合成了丙烯酸酯高吸油性树脂 ,探讨了主要组分、合成工艺对吸油性能的影响 ;它能吸收 1 7 8～ 2 7 5倍的油溶剂 ,对农药乳油有 1 4倍的吸油率并有缓释功能。该产品可用作油吸收剂及农药缓释制剂     

镍-钛复合负载催化剂乙烯气相聚合研究 Ⅰ.含NiCl_2组份钛系催化剂制备支化聚乙烯

采用反应法,将ＮｉＣｌ_２与ＴｉＣｌ_４负载于复合载体ＭｇＣｌ_２－ＳＯｆ_２上,制得新型双过渡金属催化体系ＴｉＣｌ_４－ＮｉＣｌ_２／ＭｇＣｌ_２－ＳｉＯ_２／Ａｌ（ｉ－Ｂｕ）_３．该催化剂用于乙烯气相聚合,当ｘ（Ｎｉ）为１２．５％时,催化剂效率最高,聚合动力学属衰减型．催化剂因含有镍化合物具有齐聚及原位共聚性能,得到的聚乙烯具有支化度为３．６～７．２支化数／１０００Ｃ的中密度聚乙烯,且产物相对分子质量增大。     

除草剂稀禾定微胶囊的制备

用原位聚合法以脲醛树脂为壁材,制备除草剂稀禾定微胶囊.考察了预聚反应介质pH值、预聚反应温度、缩聚反应催化剂及缩聚反应终点pH值对微胶囊的结构、包覆效果和包埋率等的影响.结果表明:预聚反应pH值为8.0,预聚反应温度为70℃,反应时间60 min,可得到以二羟甲脲为主的水溶性透明黏稠预聚物,用此预聚物进行缩聚反应,以NH4Cl做缩聚催化剂,芯皮比为1∶1.5(质量比),控制缩聚反应终点pH值为3.0,可制得结构紧密、包埋率为30.6%的流动性球形缓释性固体微胶囊.     

新型高黏着力化学浆料的合成及应用

以乙酸乙烯酯、苯乙烯、丙烯酰胺、丙烯酸丁酯、丙烯酸为单体,以十二烷基苯磺酸钠等配制成的复合乳化剂为乳化剂,过硫酸铵为引发剂,采用自由基乳液聚合法,合成了高性能化学浆料,并进行了浆料性能测试及浆纱试验.结果表明：通过优化单体配比所合成的浆料具有高黏着力、低吸湿、低再黏等性能,与P24变性淀粉配合,作为主浆料取代PVA上浆,其浆纱质量好,织造效率高,布面质量好,得到用户的好评.     

宏观弥散度和阻滞系数对地下水中核素迁移模拟的影响

对宏观弥散度和阻滞系数的取值进行了理论分析,运用PHREEQCⅡ软件,以我国南方某铀水冶尾矿库为例,探讨了宏观弥散度和阻滞系数对地下水中核素迁移模拟的影响.研究表明:宏观弥散度和阻滞系数对大时空的核素迁移模拟影响显著.在其他条件相同的情况下,弥散度增大,受污染地下水中总U浓度开始降低的距离将缩短,但反而迁移得更远;随着阻滞系数的增大,同距离处234U的浓度将显著下降,但其迁移距离变短.要得到可靠的宏观弥散度和阻滞系数,可利用宏观参数与介质统计特性的关系求解介质宏观弥散参数,阻滞系数可由现场实验或实验室土柱实验直接测得.     

2,3,4,5,6-五氟苯乙烯聚合物刷的制备和表征

用原子转移自由基聚合方法在硅片表面制备了2,3,4,5,6-五氟苯乙烯聚合物刷．利用椭圆偏正光测厚仪、接触角测定仪和X射线光电子能谱仪对薄膜结构进行了表征．