酸性环境冻融循环对砂岩抗剪强度参数损伤效应

水化学条件与冻融循环的耦合侵蚀作用对寒区岩土工程的稳定性产生重要影响。选取砂岩为研究对象,开展不同水化学溶液以及冻融循环条件下的砂岩常规三轴实验,分析砂岩抗剪强度参数变化规律,定量分析砂岩抗剪强度参数的损伤特征。结果表明:砂岩抗剪强度参数值逐渐减小,劣化度逐渐增大,最大可达到73.06%、49.34%;抗剪强度参数值与冻融循环次数关系可定量表征为指数变化关系,得到砂岩抗剪强度参数变化规律。通过电镜扫描试验分析水化学与冻融循环作用对砂岩微观结构的变化规律,砂岩内部孔隙逐渐扩张、联通,岩石颗粒之间胶结松散,岩体结构呈现疏松多孔。研究为分析酸性冻融循环作用下砂岩力学参数劣化机制提供参考。     

东毕血吸虫幼虫期在宿主体内发育的组织化学和扫描电镜观察

在内蒙古呼伦贝尔草原检获土耳其斯坦东毕吸虫幼虫期发育程度各不相同的阳性萝卜螺，通过组织学和组织化学方法对其幼虫期进行了观察． 参考周述龙（１９９１）对日本血吸虫尾蚴幼虫期进行的分期，把土耳其斯坦东毕吸虫的尾蚴发育过程也分为 ５ 期，尾蚴发育的胚细胞期、胚球期、尾蚴雏体期、尾蚴成熟前期和尾蚴成熟期． 子胞蚴育腔内胚细胞分裂，形成胚球，胚球中出现体细胞和胚细胞的分化，胚细胞结合疏松，胞浆中含酸性粘液和大量汞溴酚蓝反应阳性的碱性蛋白成分． 尾蚴成熟前后在三种腺体的呈色反应方面和日本血吸虫相似，其后钻腺腺体部分 Ｐ Ａ Ｓ反应呈阳性的含糖类物质在雏体期后期开始分泌，逐渐由腺管通向头器末端． 两种尾蚴在尾蚴的体实质部分，对 Ｐ Ａ Ｓ和汞溴酚蓝反应的呈色结果有着较大的差异． 另外，通过扫描电镜对土耳其斯坦东毕吸虫的尾蚴进行了比较观察，它们在头器的结构、体棘的形态以及感觉器的分布上存在着一定的差异．两种血吸虫的相似性表明在系统演化上有着密切的联系．     

利用AFM电场诱导氧化实现纳米结构

利用导电原子力显微镜（AFM）在硅、其它半导体和金属表面的电场诱导氧化加工是实现纳米器件的有效方法。大气状态下样品表面吸附的水膜在电场诱导氧化加工中的必要性被证实，实验给出了相对湿度与氧化线宽度的关系。在氢钝化表面成功地制备出纳米尺度的线和图形结构，最小的线宽为22nm。     

基于扫描探针显微镜的几种洋酒AFM扫描图

在扫描探针显微镜的AFM扫描图中,国产白酒所含呈香呈味微量物质形成了聚集的颗粒状微观形态。为了观察洋酒微观形态,文章采用扫描探针显微镜对伏特加,白兰地,威士忌和配制酒做了扫描,得到这四种酒的AFM扫描图。从图中观察到了这四种酒的微观形态。     

中华绒螯蟹Eriocheir sinensis幼体丝状细菌的扫描电镜观察

应用扫描电间对中华绒螯蟹幼体附着的丝状细菌进行了详细的观察，结果表明，丝状细菌只附生于幼体表面，没有明显伸入体内的结构，丝状细菌行裂殖生殖，生长繁殖所需营养直接摄取自水环境，并对其危害性以及防治等方面进行了探讨。     

雀形目25种鸟羽的扫描电镜观察

以隶属于雀形目１０科１８属２５种鸟类的初级飞羽为材料进行扫描电镜观察。结果表明；有钩羽小枝上的腹齿数，纤毛对数，羽小钩数与无钩羽小枝上的腹齿数，背刺数在科间相似性较大，存在着性状特征的交叉与重叠；属种间差异较显著；种下亚种则未发现有显著差异。     

小肠结肠炎耶氏菌实验性感染家兔微观病变观察

应用透射电子显微镜观察致病性血清型带毒力质粒Ｙ．ｅ．Ｇ１５１及ＬＡＢ－Ｂ１８２菌株感染的家兔，其肠道及脾脏有微脓肿及菌落形成，在微脓肿形成的区域，组织细胞变性坏死严重．用ＬＡＢ—Ｂ１８２菌株感染的家兔，其肝脏可见局灶性凝固性坏死．在上述脏器无微脓肿及菌落形成的部位，肉眼观察正常，但在电子显微镜下．却呈现不同程度的组织细胞病变．细菌不在细胞内增殖．致病性血清型丢失毒力质粒的４３９—８０Ｖ－菌株感染的家兔，其肠道、肝脏及脾脏组织细胞无病理学改变．     

原子力显微镜形貌像成像质量的研究

基于针尖和样品之问的各种相互作用力，原子力显微镜可用于样品表面形貌、摩擦力等各种物理特性的研究。仪器参数的设定和干扰的排除是提高样品表面形貌像成像质量的关键。通过实验发现由原子力显微镜扫描得到的材料表面形貌像中常出现拖曳、条纹，影响了形貌像的成像质量。针对特定工艺条件下的纳米电子功能薄膜样品，着重研究了振幅参数（Amplitude reference）、积分增益（Integral gain）、比例增益（Proportiong ain）、衰减增益（Attenuation gain）和速度增益（Speed gain）对形貌像成像质量的影响。根据这些规律找出消除或减轻样品表面形貌像中出现拖曳、条纹的方法。     

在扫描电镜中用x射线荧光法(SEM-EDXRF)测硅衬底上铝膜厚度

在以前的工作中,我们实现了扫描电镜中的x射线荧光分析(SEM-EDXRF),得到了较理想的原级x射线束。现在,我们又利用SEM-EDXRF方法测量了硅片上的铝膜厚度,其原理是测量由衬底发出的x射线荧光强度。对硅片上有不同厚度铝膜样品测量结果表明,衬底的x射线荧光强度的对数与膜厚成线性关系,并与理论符合很好。本实验预示了在扫描电镜中利用EDXRF方法测微区膜厚的可能性。     

晶体叠栅的电子显微镜观察及透明片模拟

本文用电子显微镜观察了ＭｏＳ２晶体的叠栅，并通过透明片对晶体栅的模拟，对电子显微像进行定性了识别。