在住宅电气设计中注意的几个问题

阐述在住宅电气设计中，从安全角度考虑，应选用铜导线，导线截面的选择要留有裕量，并作漏电保护。采用合适的接地方式，在住宅内作等电位接地。做好防雷设计。从科学用电的角度考虑，合理的划分支线回路。从电气使用发展的角度，住宅要做好弱电设计。     

Impedance spectra of hot, dry gabbro at high temperature and pressure

Impedance spectra of hot, dry gabbro have been studied at 1.0～2.0 Gpa and 593～1173 K.The experimental results indicate that complex impedance depends on frequency of altering current. Impedance arcs representing grain interiors and grain boundaries conduction mechanism are displayed in the complex impedance plane. The impedance arc corresponding to grain interiors occurs over the range of 102～105 Hz, and the impedance arc corresponding to grain boundaries occurs over the range of 12～102 Hz. Each element of equivalent circuit corresponding to grain interiors is fit for complex nonlinear least square program. When garnet occurs in gabbro, the electrical conductivity of gabbro abruptly changes.     

低温固相法合成含硫、磷配体金属钴羰基簇合衍生物及结构表征

选取了四个含P、S、N杂原子的化合物作为配位基前体:     

低强度超声激活血卟啉对S180细胞的杀伤作用

为探讨低强度超声激活血卟啉对在体S180肉瘤细胞的杀伤作用，对荷瘤小鼠采用声动力疗法处理，分别从癌组织生长状况、显微结构及超微结构等方面进行研究。结果表明：超声激活血卟啉对肿瘤生长的抑制作用明显大于其他实验组，癌细胞在处理后的不同时间段，其显微结构及超微结构均表现出不同程度的损伤。     

集值向量优化问题近似有效解的最优条件和对偶性

在Banach空间中考虑集值向量优化问题的Henig近似有效解和Global近似有效解的最优条件和对偶性. 在锥 次不变集值映射的假设条件下, 建立集值向量优化问题Henig近似有效解最小点和Global近似有效解最小点的充分性最优条件与Mond-Weir型、 Wolfe型两类对偶定理. 作为应用, 分析集值向量优化问题的Henig近似有效解最小点和Global近似有效解最小点与一类向量变分不等式两种近似有效解最小点之间的关系.     

混粉电火花加工技术的发展及在模具制造中的应用

论述了混粉电火花加工技术在国内外的发展情况 ,着重介绍了几种混粉工作液的构成及加工效果的优劣 ,混粉电火花加工方法在型腔模具制造中的应用及发展前景     

电容层析成像中场域的一种新剖分方法

电容层析成像传感器的敏感场受多相流介质分布的影响，即软场特性为图像重建带来很大的困难。为了提高重建图像质量，对敏感场分布进行分析是非常必要的。采用有限元法，通过对敏感场域采用两种不同剖分形式的比较，提出了一种新的场域剖分形式，对敏感场分布进行计算机仿真。实验证明有限元模型是正确的，说明利用不等间距的剖分或可以得到较好的仿真结果，具有较高的精度。     

锡薄膜的非金属导电特性

采用真空蒸发技术制备锡薄膜。随着薄膜生长速率的降低,锡膜由金属转变为半导体,呈现出非金属导电特性。     

用陷阱参数作为聚合物电老化特性参数的试验研究

本文以高分子聚丙烯薄膜材料为试样,在真空与均匀电场中进行加速电老化试验。试验结果表明,试样的老化场强与老化时间呈指数关系。在电老化过程中,用红外光谱分析了试样的内在化学结构变化,用电子顺磁共振测量了老化生成的自由基,用光电导谱和表面电位的测量技术测量了陷阱深度与陷阱密度的变化。试样在电老化过程中,短分子链随时间而增加,陷阱的深度与密度也随时间而增长,都与电老化寿命的经验公式有类似的形式。通过讨论电老化的化学过程,提出陷阱参数可以作为表征材料电老化特性的新参数。本文的结论将为建立新的电老化理论提供了试验依据,并为非损伤性电老化试验创造了前景。