基于粗集理论的开关电路分析和综合方法

提出一种基于粗集理论的开关电路分析和综合方法，首先阐明祖集方法与开关电路的功能表的关系，然后介绍开关电路的简化分析，最后提出开关电路的综合方法。     

基于肤色分割和AdaBoost算法的人脸检测

针对复杂背景和可变光照下的静态彩色图像人脸检测,提出了一种基于肤色分割和AdaBoost算法的人脸检测方法。首先把彩色图像转换到YCbCr空间。接着应用自适应光线补偿算法对图像进行光线补偿。再结合形态学、几何约束等方法排除背景干扰、进行肤色区域分割。其次应用改进的AdaBoost算法对分割出的区域进行验证,进而精确定位人脸。实验表明:该方法检测率高、适应性好、鲁棒性强,对人脸检测有较强实用性。     

地铁供电系统有源滤波协同无功补偿装置的研究

随着城市轨道交通的迅速发展,地铁供电系统动力照明负荷、变频设备的使用持续增多,导致无功功率和谐波问题日益严重。提出一种利用0.4 kV侧设置的有源滤波装置协同电抗器进行35 kV系统无功补偿的新方法。在地铁供电系统无功补偿领域内,首次将两者结合,探索出既节省成本,又能满足地铁供电系统功率因数要求的新无功补偿方式。     

传感器动态误差修正方法探讨

该文介绍了频域动态修正方法的原理及存在问题,采用在传感器之后增加一动态补偿环节来改善传感器之性能,探讨了补偿环节频率响应函数的求取方法,讨论了动态补偿数字滤波器的设计方法及传感器存在动态误差的判据,通过典型传感器的动标数据,用基于沃尔什函数的最小二乘建模方法获取该传感器之传递函数,设计了相应的动态补偿数字滤波器,并进行了计算机仿真计算。     

用修正AWE法分析高速集成电路中互连线时域响应

当用波形渐进估值（ＡＷＥ）法分析传输电导为很小或近似为零的情况时,导数不存在或难于收敛,基于多芯片组件（ＭＣＭ）和印刷电路板（ＰＣＢ）中介质相对损耗很小,即互连线电导很小或近似为零,通过修正ＡＷＥ法,用于模拟电导Ｇ很小或近似为零的有耗传输线,这种方法是基于对传播常数函数有理近似,从而得到更简单形式的频域传输线电报方程,然后在频域通过模式匹配,Ｐａｄｅ有理逼近,得到传递函数响应,最后结合递归卷积运算     

A Method for Dispersion Compensation Based on GLM Theory

A method used to design the waveguide gratings for dispersion compensation employing GLM theory is briefly described. By using this method a reflective grating is designed, which has both a flat amplitude and a quadratic phase response over the transfer bandwidth.     

双岛结构多晶硅压力传感器削角补偿技术的研究

详细讨论了双岛结构多晶硅压力传感器制作过程中的一种微机械加工技术,传感器采用的材料是双面抛学的（１００）晶面硅片,制作中还利用了半导体集成电路平面工艺。研制这种传感器遇到的主要问题是硅各向异性腐蚀的凸角削角问题,为削角补偿设计了两种特殊形状的掩膜结构,在实验中获得了满意的效果,并且制出了性能优良的双岛结构多晶硅压力传感器。     

MEMS-INS微型飞行器姿态确定系统的实现研究

研究了微型飞行器姿态确定系统的样机实现.在对MEMS惯性器件性能分析和零偏温度建模的基础上,提出微型飞行器九位置非正交及安装误差标定方法,利用相关理论分析MEMS惯性传感器的噪声特性,建立适合工程应用的姿态组合算法,进行了转台测试和试飞试验.误差补偿后,陀螺和加速度计零偏稳定性分别达到0.036°/s²和0.01 m/s²,俯仰和横滚的误差均方差分别达到0.33°和0.28°.试验结果表明:器件和系统级的误差补偿起到了综合补偿的效果,姿态误差减小了约50%,基于MEMS-INS的姿态确定系统可满足微型飞行器自主姿态稳定的需求.     

中子测水在酒钢高炉上的成功应用

利用中子测水技术成功地解决了酒泉钢铁公司1,2号高炉入焦炭水分波动的问题,并进行焦炭补偿,使不明炉温波动减少,从根本上解决了入炉焦炭水分波动对高炉炉况影响的问题,为高炉操作和生产提供了可靠的依据。     

专用VAD集成电路可测性设计研究

在专用集成电路设计,基于功能单元的片上系统（FCBSOC,function-core-based system-on-a-chip)设计技术正得到广泛使用。这种片上系统的可测性设计方法很多,如Fscan-Bscan法、Fscan-Tbus法和层次化测试生成法等。通过对这些可测性设计方法的研究,该文提出一种测试开销低、测试故障覆盖率高的层次化分析法来实现专用VAD（Video add data)集成电路的可测性设计。