PRBS信号发生和数据采集系统

本文介绍一种可用于系统辨识的伪随机二位式序列(PRBS)信号发生和数据采集系统,阐述了该系统的原理、电路及程序结构,并讨论了该系统的运用。     

非共沸混合工质膜状凝结小温差工况的研究

针对非共沸混合工质大空间膜状凝结小温差工况建立了一种新的解析模型，并以Ｒ２２／Ｒ１４２ｂ水平管外凝结为对象进行分析求解，理论计算重现了实验研究中出现的某些小温差工况下凝结换热恶化异常严重的现象，经过分析提出：“在混合蒸汽沿凝结物面方向的运动可以忽略的场合，非共沸混合工质凝结换热所需的最小温差等于此混合工质在相应组分浓度下的露泡点温差”的观点。     

铝钎剂中活性剂的研究

本文指出长期以来,众多研究者一直提到的铝钎剂的活性剂是重金属氯化物的说法是不够确切的。实际上,大多数重金属氯化物不能作为活性剂。同时指出氯化物标准生成自由能判据,仅仅表明取代反应能否正向进行,而不能说明该氯化物是否可以作为活性剂。本研究提出:液态时与铝形成双液层的组元,或者液态时与铝能互相溶解,但在二元合金状态图的非铝端,形成熔点较低共晶物的组元,这些组元的氯化物,原则上可以作铝钎剂的活性剂。     

二元周期序列的计数

以组合计数理论为基础，推导出特殊序列（自互反序列和自互补序列）计数公式和排除等价序列（互反、互补序列）后的本原周期序列计数公式，使搜寻可用序列的基序列数目约缩为原来的１／４，进一步，应用Ｓｔｉｒｌｉｎｇ浙近公式求出当周期较大时各种特殊序列数目的的比例关系，所导出的公式不仅完善了公用控制的设计理论，而且使长周期可用序列的搜寻工作量减少到近１／４。     

泛邻元结构公理刻画的深入探讨

对汪培庄提出的泛邻元结构的公理刻画进行了化简，给出了Ｌ上的Ｒ－泛邻元结构公理刻画的定义，同时还给出了低一个层次的Ｘ上的Ｒ－泛邻元结构公理刻画的定义，证明了这２种结构能够依提升和限制相互唯一确定，并且能够与Ｘ上的Ｒ－开元系一一对应。     

关于双星系统的能量

本文利用广义相对论理论中的后牛顿近似结果，计算出双星系统的伴星的总能量．     

基于有向图的关联规则算法

提出了一种基于有向图的关联规则挖掘算法，采用了垂直二进制位图映射数据库，根据垂直二进制位图来生成有向图，将频繁项的二进制位串作为有向图的权值，通过分析有向图生成最大频繁项集，并给出了最大频繁项集挖掘算法的优势。     

The k-Error Linear Complexity and the Linear Complexity for pq^n-Periodic Binary Sequences

The k-error linear complexity and the linear complexity of the keystream of a stream cipher are two important standards to scale the randomness of the key stream. For a pq^n-periodic binary sequences where p, q are two odd primes satisfying that 2 is a primitive root module p and q^2 and gcd（p-1, q-1） = 2, we analyze the relationship between the linear complexity and the minimum value k for which the k-error linear complexity is strictly less than the linear complexity.     

A New Method for the Detections of Multiple Faults Using Binary Decision Diagrams

With the complexity of integrated circuits is continually increasing, a local defect in circuits may cause multiple faults. The behavior of a digital circuit with a multiple fault may significantly differ from that of a single fault. A new method for the detection of multiple faults in digital circuits is presented in this paper, the method is based on binary decision diagram （BDD）. First of all, the BDDs for the normal circuit and faulty circuit are built respectively. Secondly, a test BDD is obtained by the XOR operation of the BDDs corresponds to normal circuit and faulty circuit. In the test BDD, each input assignment that leads to the leaf node labeled 1 is a test vector of multiple faults. Therefore, the test set of multiple faults is generated by searching for the type of input assignments in the test BDD. Experimental results on some digital circuits show the feasibility of the approach presented in this paper.     

基于数学形态学的细化算法

对二值图像处理中细化的算法进行了研究,介绍了基于形态学的细化算法,同时,对数学形态学的相关理论做了介绍。并利用该算法对地图图像进行了细化处理,取得了良好的实验效果。通过实验研究可以看出,该算法设计灵活,便于实现,具有一定的实用性。