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991.
为深入了解莱州湾东岸三山岛地区的表层地质特征,本次研究使用X射线衍射、近红外光谱技术和土壤含盐量测试方法,对研究区表层土壤进行矿物成分及其特征识别,综合分析发现:研究区表层土壤主要由白云母、方解石、石英、硅灰石、伊利石、高岭石、绿泥石、菱镁矿、磷灰石等9种矿物组成,根据近红外光谱特征峰分析,土壤样品中白云母Al-OH的吸收峰集中在2 206 nm附近,位于2 200~2 210 nm区间,表明其为形成于较低温度的富Al、K白云母;样品中绿泥石Fe-OH的吸收峰集中在2 245 nm处,位于2 240~2 250 nm区间,并结合X射线衍射分析结果可以确定其为富镁绿泥石,符合绿泥石在表生环境中的地球化学特征。土壤含盐量平均值为1.195 g·kg-1,属轻度盐渍化。结果表明,一方面有效地识别了研究区土壤矿物成分及组合,为未来找矿相关研究提供土壤矿物成分背景信息,另一方面,土壤矿物成分及组合与研究区地质背景和地表气候环境条件密切相关,土壤含盐量测试结果提示研究区可能存在一定的土壤盐渍化风险。使用X射线衍射和近红外光谱技术及土壤含盐量测试进行综合分析,具有快速简单、经济环保、精确可靠等优势,为土壤矿物研究提供了一种科学的技术手段和方法。 相似文献
992.
采用聚晶金刚石(PCD)刀具,以不同的切削速度对钛合金Ti-6Al-4V进行了切削实验.通过分析切屑的金相和扫描电子显微(SEM)照片,对PCD刀具加工钛合金Ti-6Al-4V的热塑剪切失稳现象进行了深入研究,分析表明发生热塑剪切失稳时锯齿形切屑齿尖角随切削速度先增大,后减小,并通过计算锯齿形切屑内的剪应变、测量剪切带内外的显微硬度和切屑内的X射线衍射分析证实了在发生热塑剪切失稳时钛合金的组织发生了相变. 相似文献
993.
目的制备纯钙钛矿相的Pb(Mg1/2W1/2)O3-PbTiO3(PMW-PT)陶瓷。方法以Mg(Ac)2·4H2O,Pb(Ac)2.4H2O,Na2WO4·3H2O和Ti(OC4H9)4为原料,NaOH调节反应体系的pH值9~13,在200℃下12 h水热合成PMW-PT前驱体,通过煅烧该前驱体制备纯钙钛矿相的PMW-PT粉体。通过XRD分析研究水热处理温度、反应时间、溶液pH值以及煅烧温度对PMW-PT相和中间产物Pb2TiWO7相生成过程的影响。结果水热处理的粉体转化为钙钛矿相PMW-PT最佳煅烧温度为800℃,压片后1 000℃烧结2 h制备的PMW-PT陶瓷,介电常数为12 067(1 kHz)。结论与固相法和半化学法相比,这种方法制备的钙钛矿PMW-PT粉体在较低的温度下生成,而且陶瓷的介电常数较高。 相似文献
994.
基于高频逆变技术的X射线灯丝电源 总被引:2,自引:2,他引:0
X射线机是一种重要的检测设备。随着它在医疗、工业检测、食品安全等方面的广泛应用,对它的制造技术和检测精度不断提出更高的要求,相应的配套电源也成了该领域研究的重点。传统的配套电源采用工频技术,体积笨重,效率低,能耗高,稳定性不好,缺乏保护措施,使得设备输出的X射线稳定性、重复性差,导致成像质量低,分析难度增加,使用起来很不方便。随着科学技术的发展,变频技术逐渐被人们所重视,介绍了一种以脉宽调制(PMW)技术为基础的X射线灯丝加热电源,该电源不是传统的变压器供电模式,采用可控硅调压供电方式,半桥式功率转换,经测试各项性能指标均满足X射线分析设备的要求,进一步提高了X射线机的稳定性。 相似文献
995.
本文报告一种新的梯形锡氧簇合物[二氯双μ-乙氧基)双(μ3-氧)八苯基四锡(Ⅳ)]的合成及晶体结构特征。晶体分析结果表明:标题化合物分子式为C52H50Cl2O4Sn4,属于单斜晶系,P21/n空间群,具有平面中心对称的Sn4O4梯形结构。分子中所有锡原子都为五配位的变形三角双锥构型。分子间靠较弱的C—H…π作用力和范德华作用力相互聚集在一起。 相似文献
996.
简要地回顾了脉冲星、中子星和夸克星的研究历史;总结了当前(特别是笔者所在研究小组)对于夸克星研究的进展并指出所面临的主要问题,特别讨论了区分普通中子星和夸克星的可能途径;给出了一些夸克星候选体以及未来可能的观测检验。 相似文献
997.
介绍X射线荧光光谱法用于氧化铝、铝生产过程中各种材料的分析,如原料、中间物料、氢氧化铝、氧化铝、铝用炭素、氟化盐、铝及其合金等。 相似文献
998.
稠油热采锅炉结垢物的X射线衍射分析 总被引:3,自引:1,他引:2
利用热蒸汽吞吐工艺开采稠油是稠油开发的主要形式。采用X射线衍射分析技术,对热采锅炉结垢物进行了晶相分析。结果表明:对流段样品主要矿物是碳酸钙、磁铁矿。辐射1段的组成与对流段相似,含少量的碳酸盐;辐射2段有新矿物生成,如针钠钙石、碱镁闪石和锥辉石。及时检测锅炉炉管结垢物的成分,分析它产生的原因,及时排污、除垢是安全生产的重要保证: 相似文献
999.
用Monte Carlo方法计算了双层封装结构Al/Au-Si, Kovar/Au-Si, Au/Al-Si和Au/Kovar-Si对不同能量X射线在Si中的剂量增强系数, 并进行比较. 结果确定了半导体器件Si中的剂量增强灵敏区大小, 并且得到了这四种封装结构在Si中灵敏区不同位置处的剂量增强系数及引起剂量增强的X射线能量范围. 相似文献