［Cu_2（OAc）_4（Ur）（H_2O）］（H_2O）_2的合成和光谱及热稳定性的研究

合成了［Ｃｕ_２（ＯＡｃ）_４（Ｕｒ）（Ｈ_２Ｏ）］（Ｈ_２Ｏ）_２配合物，并对这个配合物的红外光谱和Ｘ－ｒａｙ粉末衍射及热稳定性进行了表征和研究，提出了可能的结构模型。     

高温氧化膜Cr2O3和NiO中应力松弛过程

用Ｘ射线原位应力测定了高温氧化膜Ｃｒ２Ｏ３和ＮｉＯ中的应力．结果表明,Ｃｒ２Ｏ３／Ｃｒ和ＮｉＯ／Ｎｉ体系氧化膜的生长应力分别为－１．９４９ＧＰａ和６５２ＭＰａ．在冷却过程中,Ｃｒ２Ｏ３／Ｃｒ体系发生很大的应力松弛过程,其主要表现形式为氧化膜翘曲和开裂;而在ＮｉＯ／Ｎｉ体系中,由于ＮｉＯ薄膜具有双层结构承受不同应力状态而获得松弛．     

不均匀场中静磁波的传播和导波光衍射效应

理论分析了磁光薄膜垂直不均匀静磁场对静磁波以及导波光衍射效率的影响,并以抛物线分布的不均匀磁场为例对Ｂｉ：ＹＩＧ薄膜波导进行了计算,计算表明,在适当分布的不均匀场作用下,与均匀磁场情形相比,波导中传播的静磁波振幅以及导波光的衍射效率都有显著增加。     

现场X－射线技术对碱性介质中银的电化学氧化／还原的研究

使用自制的电解池，在Ｘ－射式衍射位上现场研究了电沉积在铂电极上的银在ＫＯＨ介质中电化学氧化／还原时电极表面上结构、组成的变化，结果表明：所制作的电解池能在常规粉末衍射仪上使用，操作方便，对衍射仪部分不需作任何改动和光路词整，通用性强；根据ＣＶ研究所提供的信息，在峰电位处停留２０ｍｉｎ后，电极表面上结构、组成的变化可在Ｘ－射线衍射图上得到较直观的反映．因此，该技术可用于研究电极反应过程中固体表面的组成、结构变化，从而提供研究反应机理的直接信息．     

关于瑞利判据的光强关系

根据瑞利判据，具体计算了夫琅和费单缝衍射、光栅衍射、国孔衍射的合成强度的光强关系。     

微粒的夫琅和费衍射

本实验是用微米数量级的不透明颗粒与光的相互作用,产生小角度夫琅和费衍射和干涉图样,可以通过图样照片来测定微粒的几何结构。     

用X射线衍射法测定聚酰亚胺薄膜取向结构

聚酰亚胺薄膜的取向结构对机械性能影响很大。薄膜取向结构可以用普通的x射线衍射方法,从x 射线入射方向垂直和平行于薄膜平面两个方向进行测定,在这个测定中,我们制作了一个槽盖压紧样品架,用于进行入射x 射线平行于薄膜平面方向的测定。测试结果可表明被测薄膜的取向类型和取向程度,在理论研究和制造工艺上都有重要的意义。     

Stokes波对垂直圆柱体的绕射问题

将Stokes波对垂直圆柱体的绕射分成四个边值问题,继而逐一求解,所求的解满足所有方程和边界条件;并给出算例.     

（Ba0．2Sr0．8）1-1．15yGdyTil-0．5xZnxO3系列陶瓷的物相、结构与晶粒尺寸的X射线衍射研究

用X射线衍射方法,对采用固相反应方法制备的（Ba0．2Sr0．8）1-1．15yGdyTil-0．5xZnxO3（x=0．03864,y=0,0．04,0．05,O．06）系列陶瓷样品的物相、结构和晶粒尺寸进行测量与分析,结果表明：（1）当Gd3’含量y〈0．04时,（Ba0．2Sr0．8）1-1．15yGdyTil-0．5xZnxO3的晶体结构分别属于空间群P432（207）、P23（195）的立方晶系,晶胞体积随y增加而略有减小（-0．6％）;（2）当v=0．05,0．06时,晶体结构变为属于空间群P4／n（85）、P41（76）的四方晶系,晶胞体积减小量较大（-2．7％）;（3）该系列样品主要是由尺寸在441-1222A晶粒堆砌而成的晶相单一的陶瓷．