普遍声逆散射微扰论与形式参数展开法

使用第一作者提出的形式参数展开法给出了在Ｂｏｒｎ 和Ｒｙｔｏｖ 变换下的有限形式声衍射层析成像理论算法．所给出的Ｂｏｒｎ 变换下的有限形式重建公式对散射体的要求比较松,适用于一类中强散射情况,而且计算量也不大．Ｒｙｔｏｖ 变换下的有限形式重建公式,因涉及广义散射,所以Ｓｏｍ ｍ ｅｒｆｅｌｄ 辐射条件不再成立,用它进行重建仍有很大困难．本文还给出了单频任意波阵面入射波情况下更普遍逆散射微扰论,包括Ｒｙｔｏｖ 变换下积分形式声逆散微扰理论．     

Hermite插值与Jacobi展开在过收敛方面的关系

对纽线内部的解析函数,得到了Hermite插值与Jacobi多项式之差的过收敛性的精确估计;此外还指出有关的差在过收敛区域的边界上一致收敛的充分必要条件。     

沉淀聚合提高水溶性单体共聚产物分子量

针对目前溶液聚合体系中、后期粘度高,热扩散不利,从而影响分子量提高的问题,进行乙烯基类单体在同等条件的水溶液聚合及沉淀聚合,比较了获得的聚合物产物在分子量及应用性质上的差异。结果表明:沉淀聚合产物分子量高于溶液聚合产物的分子量,在抑制粘土颗粒膨胀性质上优于溶液聚合产物,对提高水溶性聚合物在油田化学领域及其它方面的应用,有着积极的意义。     

镁氧类油井水泥膨胀剂膨胀机理的研究

基于膨胀剂原地反应模型和化学热力学原理,讨论了晶体生长压的源动力及水泥浆体体积膨胀与结晶压的关系。经过分析得知:膨胀驱动力来自于水化体系化学势的降低而产生的结晶膨胀压,即化学能被转化成机械功。采用镁氧油井水泥膨胀剂和高抗硫G级油井水泥,考察了油井水泥浆塑性体的塑性强度和膨胀的关系以及硬化体的膨胀性能,为理论分析提供了有力的实验证据。结果表明:水泥浆体产生膨胀的充要条件是①浆体的塑性强度足够大(受限的晶体生长);②在水泥浆体中反应物的局部浓度过饱和(反应产物的溶度积比标准状态下大)。     

用 1/N 展开法研究钨的能谱

用玻色子1／N展开技术研究了6个钨同位素的能谱和约化电磁跃迁概率B(E2)．结果表明,展开式的高阶项十分重要,6个核的能级能量的理论值和实验值的方均根差,最大的是154keV,最小的只有11keV,符合得令人满意．而且理论能正确地符合实验方面跃迁概率的“回弯”现象．     

非线性阻尼下裂纹非匀速扩展问题的零级近似解析解

探讨了非线性阻尼下无限岩板内张开型裂纹非匀速扩展的瞬态分析问题．在现有断裂动力学问题文献中,一般采用拉氏变换与积分变换方法,得到的回路积分最后还需借助于数值方法求解．作者在断裂动力学基本方程中引入一个非线性阻尼项来考虑能量损耗,采用小参数摄动,得到零级近似动力学方程组,而且自始至终采用解析方法进行计算,获得了问题的零级近似解析解．如果沿裂纹长度上有剪应力作用,采用本文方法也可获得其零级近似解析解．本文方法将有利于改善非线性断裂动力学中应用有限单元法求数值解的收敛性．因而本文为解决这类非线性断裂动力学问题提供了一条新的途径．     

孔挤压强化有限元分析及疲劳寿命估算

目前孔挤压强化过程仿真方面的文献主要是对于残余应力的分析,疲劳寿命主要由试验测量得到,对疲劳寿命的估算较少。通过三维非线性有限元方法,对7075铝合金芯棒和衬套挤压强化过程进行了仿真。分析了不同强化方法强化后的残余应力分布。在残余应力分析的基础上,估算了循环载荷下不强化、芯棒挤压和衬套挤压强化后元件的疲劳寿命;并与相应的试验数据进行了对比。结果表明,疲劳寿命估算结果与试验结果基本一致,估算方法可行。     

指数有界C半群的逼近问题

讨论了指数有界C半群的Laplace逆变换形式,并通过限制预解式得到了指数有界C半群的留数型逼近式.     

ZrO2粒径对ZrO2/ZrW2O8复合材料性能的影响

分别采用Nano-ZrO2和Commercial-ZrO2制备ZrO2/ZrW2O8复合材料,并对所得复合材料的微观结构、烧结质量及其热膨胀性能进行了研究.结果表明,当ZrO2和ZrW2O8的质量比为2∶ 1时,ZrO2/ZrW2O8复合材料的热膨胀系数极低,接近于零.然而Commercial-ZrO2/ZrW2O8复合材料存在致密度不高,气孔率大的缺点.Nano-ZrO2的采用,可以降低基体的烧结温度,改善复合材料的烧结质量,Nano-ZrO2/ZrW2O8复合材料的相对密度达到94%,比Commercial-ZrO2/ZrW2O8的相对密度75%有明显提高.     

薄膜线膨胀系数的一种精确测量方法

热膨胀系数(α)是衡量材料性能优劣的一个重要参数,但目前对薄膜试样热膨胀系数测量方法的文献报道较少.具体介绍一种采用热机械分析仪测量薄膜试样热膨胀系数的方法.在此基础上分析引起测量误差的原因,并通过参比铜箔对仪器进行了校正,获得仪器的修正参数.结果表明,通过校正消减了仪器自身热膨胀,能精确求出薄膜的热膨胀系数.