P2×C5的全染色

令Pm=u1u2...um,Cn=ν1ν2...vnν1,则定义图Pm×Cn,(m≥2,n≥3)为V(Pm×Cn)={wij|i=1,2,…,m;j=1,2,…,n},E(Pm×Cn)={wijwrs|wij,wrs∈V(Pm×Cn),且i=r,νjνs∈E(Cn)或j=s,νiνr∈E(Pm)}.从而得到了图P2×C5的全色数.     

一个Erdoes—Mordell型不等式的新推广

应用一个重要的涉及两个三角形的三元二型不等式，推广了作者在文献[1]中建立的一个漂亮的三元二次Erdoes—Mordell型不等式，讨论了推广结果的应用，提出并应用计算机验证了三个尚待解决的猜想．     

毛虫树可均匀k-着色的一个充分条件

用k种颜色给一个图的顶点正常着色,即使相邻的顶点不同色,若各色类的基数至多差一,则称该图是可均匀k-着色的.基于均匀着色的理论本文得到了毛虫树可均匀k-着色的一个充分条件.     

经典Ramsey数R（5,23）和R（5,24）的新下界

构造了２个新的素数阶循环图,从而得到了２个Ｒａｍｓｅｙ数的新下界：Ｒ（５,２３）≥４２２,Ｒ（５,２４）≥４３４。     

混响室环境下小屏蔽体屏蔽效能的试验研究

采用统计方法试验研究了混响室条件下小屏蔽体的屏蔽效能.为解决传统屏蔽效能定义方法存在的问题,提出了屏蔽效能的统计定义,建议采用平均屏蔽效能和最低屏蔽效能共同表示小屏蔽体的屏蔽特性.试验结果表明,采用统计定义后测量结果可以准确反映小屏蔽体的整体屏蔽特性,能有效指导相应电子器件的电磁屏蔽;测量数据稳定,5次测量数值最大偏差小于1dB,变异系数小于0.032,具有较好的可重复性.     

苏里格气田岩石力学场建模研究

以苏里格气田为例, 运用多元回归分析的方法对常规测井曲线和岩石力学参数之间的函数关系进行分析, 并运用地质统计学的方法建立非均质的岩石力学参数场, 准确认识储层的岩石力学参数。研究结果可以为气田后期水力压裂过程中压裂设计提供依据, 降低压裂设计计算过程中的误差, 有利于得到更为准确的水力压裂裂缝形态, 降低气田开发风险。     

低度外平面图的点强全染色

图G的一个k-点强全染色是指图G的正常全染色f，若任意x，y∈N[υ]，有f(x)≠f(y)，简记为k-VSTC，称xT^υ5(G)=min｛k／G有k-VSTC}为G的点强全色数。研究了低度外平面图的点强全染色，证明了对△(G)=3的外平面图G有4≤xT^υs(G)≤5。     

若干倍图的邻点可区别均匀全染色

研究一些倍图的邻点可区别均匀全染色(AVDETC), 利用构造法和匹配法给出了偶阶完全图、 偶阶圈、 路、 星和轮的倍图的邻点可区别均匀全色数, 并验证了它们满足邻点可区别均匀全染色猜想(AVDETCC).     

一个数论函数τsp（n）的均值

引入了一个新的数论函数,称其为简单除数函数,给出了两个引理,在这些的基础上运用初等方法研究了简单除数函数的均值性质．得到了一个渐近公式并给出了相应的证明．     

加权条件数在矩阵扰动问题中的极小性质

设A∈C_r~(m×n),r≤min(m,n)。对于加权条件数K_(MN)(A)=‖A‖MN‖A_(MN)~+‖NM,本文指出在一定条件假设下,K_(MN)(A)在矩阵扰动问题中的极小性质。主要结果如下:1.设A∈C_r~(m×n),E是A的任意小扰动矩阵。R(E)(?)r(A),R(E~*)(?)R(A~*)且‖A_(MN)~+‖NM‖E‖MN<1,有(?)成立,则有K_(MN)(A)≤(?)MN(A)。2.设A∈C_r~(m×n),E为A的任意小扰动矩阵。r(A+E)=r(A),且‖A_(MN)~+‖NM‖E‖MN<1,有(?)成立,则K_(MN)(A)≤(?)MN(A)。其中(?)当r相似文献