基于4f光学系统的透镜FT、IFT变换光学频谱特征分析实验

分析了基于4F光学系统的透镜FT、IFT变换光学的数学表述,指出其参数所表征的物理意义;据此提出利用若干等焦距透镜建立变换光学频谱特征分析实验的构思,利用CCD件和计算机进行采样、分析,阐述d0试件几何孔径等因素对其变换光学频谱特征的影响．     

面阵CCD空间滤波技术测量颗粒流速度场分布

为解决线阵CCD空间滤波技术无法直接测量滚筒颗粒流速度场的整体分布,并且难以准确测量颗粒流中具有复杂速度变化的单点区域的问题,提出了基于面阵CCD空间滤波技术的滚筒颗粒流测量方法。通过对采集图片进行分割,模拟子滤波器,对每个模拟子滤波器区域分别进行空间滤波测速,最终得到滚筒颗粒流速度场整体分布。对于滚筒颗粒流中具有复杂速度变化的边壁区域采用正交算法进行速度矢量和运算,避免了角度测量的误差,从而提高了对单点位置速度测量的精度。最后,搭建了实验装置,对测量方法进行了实验验证,并分析了方法时空分辨率,标定了方法精度。研究结果表明,该方法能够测量滚筒颗粒流速度场整体分布,测量误差小于2%。     

三维测量中的照相机单机定标原理和实验研究

在分析了普通数码照相机中的CCD的透视投影矩阵的内外参数,及它们的相互关系的基础上,研究了单个CCD用作三维测量的快速定标方法.校正实验采用VC 程序提取靶图基点的像素坐标值,用最小二乘法求解构造透视投影矩阵元.实验结果表明,本方法效果理想,精度较高.     

基于面阵CCD测量镜头焦距的一种方法

提出一种实时测量镜头焦距的方法,用彩色面阵CCD实时采集光谱图像,然后利用MATLAB软件环境计算出镜头焦距值,并对结果进行误差分析.     

电磁振荡系统激光点信息提取及轨迹叠加程序处理

对于电磁振荡系统,采用拍摄速度为60帧/秒以上的CCD高速相机对激光光点运动路径的实时拍摄,通过对所获图像集的处理,可以得到每一帧图像中参考光点在某一时刻所到达的位置信息,通过对图像进行图像平滑和灰度变换等图像处理,可以准确提取各幅图像中目标图像的位置坐标,然后将只含目标图像的多幅图像进行叠加处理,进而获取在一段时间内的各个离散的位置坐标,最后采用多项式拟合完成对振荡系统运动状态的刻画,以实现对振荡系统相关物理量的测试。     

边缘检测方法在线阵CCD大坝位移计中的应用

根据大坝变形监测的实际需求,采用先进的CCD以及FPGA技术,设计了用于大坝水平位移监测的高精度位移计．根据线阵CCD的特性,论述了利用平行光源进行测量的结构及原理．通过对CCD图像进行数字化,采用数字的高斯滤波及边缘检测算法对CCD图像进行像元级的边缘定位．在实验中运行了FPGA作为处理部件,采用VerilogHDL对处理算法进行逻辑设计,通过论证,系统具有很高的测量精度以及集成度．     

基于MSP430的线阵CCD数据采集系统

基于电荷耦合器件和单片机技术, 设计一个2 160像元的线阵图像采集系统. 该系统根据线阵电荷耦合器件驱动模块的要求, 设计了图像数据的高速采集与缓存、 串行通信接口上传与上位机显示软件. 该数据采集系统具有单次采集和连续采集两种工作模式, 图像刷新率可达5帧/s. 实验测试结果表明, 该线阵图像采集系统成本较低、 工作稳定、 使用方便, 可应用于产品尺寸测量和非接触尺寸测量.     

基于CCD与CMOS图像传感新技术的研究

介绍了CCD（电荷耦合器件）与CMOS图像传感器新技术,对两者的性能特点进行了比较。最后,预测图像传感技术的发展趋势。     

一种高精度CCD测试系统的非均匀性校正方法

针对高精度光电耦合器件(CCD)测试系统中像素的非均匀性给测试结果带来较大误差的问题,根据引起图像像素非均匀性噪声的特性,建立了对应的图像模型.采用自适应阈值分割算法将图像二值化分离出有效使用像素,并提出了一种采用两点线性方法对非均匀性像素进行校正的算法.仿真实验采用高速面阵CCD采集由激光器发射的圆形光斑图像,并通过计算图像光斑的中心坐标进行了验证.结果表明,该算法能够将图像的复杂背景与光斑分离,可校正其像素的非均匀性,稳定光斑的像素灰度值.在相同条件下连续采集图像,图像光斑的中心坐标稳定.     

全自动焦度仪电路系统的设计

本文介绍了全自动焦度仪的电路系统设计,着重论述了一种基于DSP控制与CPLD图像采集与处理系统的工作原理。该系统能够准确测量眼镜片的屈光参数,技术指标达到了国家相关检验标准。