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31.
对计算机工具软件的概念、知识产权、版权分类、界面结构、基本使用方法及设计方法等进行了论述.工具软件从版权意思上可以分为:公用软件、商业软件、共享软件、免费软件.工具软件一般具有标题栏、菜单栏、快捷按钮(工具)栏、正文操作区、右键快捷菜单栏、状态栏等界面结构. 相似文献
32.
讨论了工艺过程中产生的界面态陷阱电荷Q(it)对高频MOS-CV特性线的形变规律,提出了一种沿电压方向形变的数据处理方法,以此算出Q(it)密度在禁带中的分布,并对常规高频CV法的测量误差作了讨论和修正,由于数据的采集和处理可以由微机完成,使这种方法变得简便、准确并易于在工艺线上推广使用。 相似文献
33.
非欧姆氧化锌陶瓷的界面态和晶界势垒模型的探讨 总被引:2,自引:0,他引:2
本文对非欧姆氧化锌(ZnO)陶瓷的界面态进行了探讨,提出了控制非线性电导特性的界面态是由于晶界的深能级电子陷阱,且深能级电子陷阱的形成是由于存在氧缺位缺陷和金属离子正电中心的观点.本文在实验分析的基础上提出了一种新的晶界势垒模型,认为晶界势垒分为主晶界势垒和次晶界势垒,两种势垒的物理性质相同,但形成和蜕变的温度不同。 相似文献
34.
刘子建 《湖南大学学报(自然科学版)》1992,19(3):33-37
CEDS-MD是为彩色电视机机壳结构设计研制的专用微机CAD系统,本文介绍了系统的数据分类,表示模型的选取,数据处理方法及相应的文件系统. 相似文献
35.
本文介绍乌龙茶做青环境电脑控制系统中的温、湿度测量、A/D转换卡、输出控制电路的硬件、接口设计原理以及系统软件与控制方式。该系统对乌龙茶做青生产过程的环境能进行自动巡回检测,控制温、湿度达到最佳状态,并使生产过程自动化。 相似文献
36.
采用雪崩热电子注入技术和高频C-V准静态C-V特性测试,研究了新型快速热氮化的SiOxNy介质膜界面陷阱的特征,侧重于研究界面陷阱的特性与分布。结果表明:这种SiOxNy薄膜禁带中央界面陷阱密度随氮化时间的分布变化呈现”回转效应“,且存在着不同类型、密度悬殊很大的电子陷阱、指出雪崩热电子注入过程中在Si/SiOxNy界面上产生两种性质不同的快界面态陷阱;给出了这两种界面态陷阱密度在禁带中能量的分布 相似文献
37.
38.
ZrO2-ZiCrAl系功能梯度热障涂层界面残余热应力研究 总被引:5,自引:0,他引:5
研究用等离子喷涂方法制备Zro2-NiCrAl系功能梯度热障涂层的不同梯度过渡层之间,以及与基体之间界面的残余热应力和功能梯度热障涂层厚度、组分对残余热应力的影响.方法来用热弹性有限元方法.结果所设计的功能梯度热障涂层的界面残余热应力得到有效缓和.结论对于所要保护的基体,可用有限元数值分析结果选择适当的功能梯度材料体系. 相似文献
39.
王鲁 《北京理工大学学报》1998,18(4):401-405
研究金属-陶瓷功能梯主材料的基体与颗粒的界面热应力。方法给出功能制备的有限元计算优化设计方案,针对所制备的梯度材料的结构特点,采用双层嵌套模型研究基体与颗粒的界面热应力与两相材料体积分数的变化关系。 相似文献
40.
The (111)-orientated NiFe/Cu multilayers were prepared by magnetron sputtering method. At room temperature, saturation magnetoresistances
of NiFe/CU multilayers oscillate as a function of Cu spacer layer thickness. Two peak GMR values of 19.4%, 11.6% and 11.2%,
1% appear, respectively, at Cu sublayer thickness of tCu,= 1.0, 2.2 nm while the deposition pressures are 0.25 and 0.45 Pa. X-ray small-angle reflections and diffuse scattering at
Cu K-edge (8.979 keV) by synchrotron radiation source were used to characterize the interfacial roughness. Diffraction anomalous
fine-structure scattering (DAFS) was performed to investigate the local structure of NiFe and Cu sublayers. Results show that
the deposition pressure has effect on interfacial roughness of the samples obviously, and the interfacial roughness also affects
the GMR values of the samples strongly. 相似文献