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61.
龙显昭 《达县师范高等专科学校学报》2004,14(3):64-70
巴西之名源于巴郡行政建制的分化,201年是其产生的始年.巴西郡所辖范围,约相当今四川省之南充市、广安市、巴中市和达州市所辖各区县.巴西郡从汉末到隋虽有分合变化,然要不越出汉巴西的范围.巴西文化源远流长,积淀厚重.其内涵体现在人文历史上,是多元而多彩的.它既有忠肝义胆的刚烈之气,又有进德修业的讲学之风.其价值趋向是好学崇实,博取专精;从政不尚空谈,以务实为民,造福社会为己任.胸存浩然之气,不以官爵之崇卑为价值判断,遇合则仕,不合则去.巴西文化的独特内涵,随着我们的深入了解和认真总结,必将显得更为多彩,更具活力. 相似文献
62.
采用溶胶凝胶法在石英基体上制备Ba4(In0.95Cr0.05)2O7薄膜。通过X射线衍射,扫描电镜,紫外漫反射光谱,光照下水溶液中甲基橙降解实验表征材料性能。SEM结果表明薄膜由均匀纳米棒组成,紫外漫反射结果表明材料吸收边为450nm,具有较宽的光谱响应范围。光催化实验表明材料在2h内甲基橙降解率达到76%。由于该材料易于回收再利用,可重复使用,并且其光催化效率可通过材料和光催化反应体系的不断改性来继续提高,因而在光催化方面具有较理想的研究及应用前景。 相似文献
63.
64.
采用高通量催化剂评价技术,筛选开发了具有高活性高选择性的甲醇制丙烯反应(MTP催化剂.分别以商品和自制ZSM-5沸石为对象,详细研究了沸石硅铝比,晶粒大小对丙烯收率和选择性的影响,并对ZSM-5沸石进行了酸改性和孔道结构改性等优化处理,得到了性能优异的MTP催化剂.研究表明,复合改性后催化剂的甲醇转化率为100%,丙烯收率最高可以达到42%以上;在470℃,WHSV=2h,甲醇浓度为60%时,催化剂寿命超过700h. 相似文献
65.
《华东理工大学学报(自然科学版)》2012,40(1)
通过固相反应法制备Mn、Zr共掺杂钛酸锶钡/氧化镁陶瓷粉体,经干压成型后在空气气氛中于l450℃烧结4h,通过扫描电子显微镜和X射线衍射研究了ZrO2和MnO2共掺杂的Bao6Sro4TiO3/MgO复合陶瓷材料的微结构和介电性能。结果表明:Zr02可以显著降低材料的介电常数和介电损耗,有效提高了陶瓷材料的温度稳定性;随ZrO2添加量的增加,体系的晶胞参数略有增加,MgO在钛酸锶钡中以独立相的形式存在:制备出的BST铁电陶瓷材料的25℃相对介电常数较低(&〈110),介质损耗小于1.0×10^-3(在频率为10kHz时),温度系数小于6.012×10^-3,可调性大于20%(8.0kV/mm),适用于制作移相器。 相似文献
66.
目的综述介电材料CaCu3Ti4O12(CCTO)研究的新进展,提出本研究领域需要进一步深入的方面,并在此基础上分析其发展前景。方法在介绍CCTO相结构的基础上,对其巨介电机制模型、制备方法、掺杂改性及其复合材料的研究进展进行总结。结果根据CCTO巨介电机制模型,设计新的巨介电材料或者复合材料,进一步降低其介电损耗,开发该类巨介电材料的应用新领域。结论 CCTO陶瓷具有巨介电常数及优异的温度稳定性,进一步降低其介电损耗将有很好的应用前景。 相似文献
67.
本文采用基于密度泛函理论的第一性原理方法研究了Bi,Se,Te在缺陷(单空位,B掺杂和N掺杂)石墨烯上的吸附结构及电子和磁性质.研究表明:在能量稳定的Bi(Se)/石墨烯吸附体系中,Bi吸附诱导产生磁性;在空位缺陷石墨烯上的吸附会改变费米能级处态密度分布,影响体系的导电性质;在B(N)掺杂吸附体系中,B比N对吸附原子的影响大;除Se在B掺杂石墨烯上吸附外,Bi,Se,Te在其它n/p型掺杂吸附体系中均显示磁性.缺陷增强了Bi,Se,Te与石墨烯之间的相互作用,对吸附体系的电子结构和电荷分布有较大的影响. 相似文献
68.
利用固相反应法制备了Ca0.85Bi0.10Cu3Ti4O12 (BCCTO)高介电陶瓷材料.通过X射线衍射、介电频谱、阻抗谱和I-V特性曲线等测试,研究了不同烧结时间对BCCTO陶瓷结构和介电性能的影响.研究发现不同烧结温度的BCCTO陶瓷均为立方相钙钛矿结构,随烧结时间的延长其介电常数和非线性特性均有明显提高,样品表现出明显的Maxwell-Wagner (M-W)弛豫特征,表明样品中包含半导型的晶粒和绝缘层,这种IBLC结构对其介电和I-V特性都有重要贡献,延长烧结时间可以显著增强M-W弛豫特性. 相似文献
69.
高温超导体YBaCuO光掺杂效应的正电子寿命谱研究 总被引:6,自引:3,他引:3
报道了YBaCuO高温超导体进行光掺杂的基本情况,提供了正电子寿命与光掺杂量之间的变化关系,讨论了光掺杂机理,并将实验结果与理论模型进行了对比. 相似文献
70.
运用熔凝工艺在非晶态SiO2薄膜驻极体中掺入质量分数为0.2的Al2O3和质量分数为0.4的PbO.高温恒栅压正电晕充电及等温电荷衰减等实验表明,经Al(3+)和Pb(2+)离子掺杂改性的SiO2薄膜(SiO2-Al2O3-PbO)具备较好的正极性驻极体性能,其正电荷储存稳定性在210d后高于95%;热激放电(TSD)正电荷电流谱成为简明的负向放电曲线,峰值稳定于t=290℃附近;薄膜成形温度降低为800℃左右,工艺得到简化.这表明有针对性的离子掺杂可以有效改善SiO2薄膜体内的微观网络结构,从而提高其电荷注人与存储能力. 相似文献