白内障术后非球面人工晶体对比敏感度的研究

研究白内障术后早期以Tecnis为代表的非球面晶体与传统的单焦球面人工晶体功能视力的比较.试验组为白内障超声乳化联合人工晶体植入术后患者60例眼,其中30例为Tecnis组,30例为传统的球面人工晶体组.与试验组年龄匹配的门诊患者30例为正常对照组.于术后3月用CSV-1000E对比敏感度测试仪(由Vector Vision公司提供)进行对比敏感度(CSF)测定.所有患者年龄分布在50～80,矫正视力均≥20/30,且除了白内障之外无任何影响对比敏感度的眼疾,亦无其它可能会影响对比敏感度的全身性疾病.白内障术后患者的对比敏感度均较术前提高.Tecnis Z9001在6、12、18 cpd时较球面人工晶体能显著的提高患者的对比敏感度.以Tecnis为代表的非球面晶体通过其独特的Z-SHARP光学技术抵消了球面像差从而有效的提高了对比敏感度.     

非球面透镜成像研究及计算机模拟

从费马原理和折射定律出发,讲座了非球面透镜成像问题,用计算机实际模拟了2种非球面凸透镜的成像光路图,并与球面凸透镜成像结果进行了比较。     

非球面透镜成像研究及计算机设计

从费马原理和折射定律出发,讨论了非球面透镜成像问题,用计算机实际模拟了两种非球面凸透镜的成像光路图,并与球面凸透镜成像结果进行了比较.     

为什么新的反射望远镜都用六边形反光镜？

A：一般来说,望远镜口径越大,其重量也越大,当代反射式望远镜虽然可以将背面可以加工成蜂窝状以减轻重量,但总重量仍非常可观,大望远镜的非球面度很大,加工精度和难度都不断增加。2000年前后落成的4台8米口径的欧洲甚大望远镜（VLT）,每个望远镜重量22吨,厚度12厘米,其表面研磨精度达到了8.5纳米。     

小口径非球面碳化钨模具的磁场辅助抛光工艺

小口径非球面光学透镜具有优良的光学性能和广阔的应用前景，但其常用的碳化钨模具由于高硬度的材料特性，加工和抛光难度较大.为获得高质量、高精度的小口径非球面透镜，利用磁场辅助的抛光方式对其碳化钨模具进行加工：首先，通过一系列单因素试验选出合适的金刚石微粉粒度和抛光液成分配比，再采用正交试验探究多种工艺参数对抛光效果的影响规律，确定最佳工艺参数组合.结果表明，使用该组工艺参数抛光可以使检测点的粗糙度由10.3 nm降至3.2 nm,刀纹痕迹明显变浅甚至消失.因此，磁场辅助的抛光方式能够有效改善模具表面的波纹度和粗糙度，对于小口径非球面光学元件的加工具有一定的参考意义.     

高精密光学元件磨床的加工与检测系统的开发

高精密平面磨床是加工光学非球面元件的一种重要途径.出于通用性和效率的考虑,开发一套面向光学非球面元件的高精密平面磨床的加工与检测系统,以此来实现光学非球面元件的精密加工.以自行开发研制的四轴数控高精密平面磨床为研究基础,采用模块化设计,选用Delphi 7为开发语言,运用Delphi 7和Matlab混合编程技术,搭建了加工与测量系统,实现了光学非球面元件的磨削加工、面形测量、磨削补偿以及环境检测等.实验结果表明,该系统可以满足光学元件的精密加工及检测,并具有较高的工作效率.     

非球面光学零件超精密加工技术

<正>非球面光学零件是一种非常重要的光学零件,常用的有抛物面镜、双曲面镜、椭球面镜等。非球面光学零件可以获得球面光学零件无可比拟的良好的成像质量,在光学系统中能够很好的矫正多种像差,改善成像质量,提高系统鉴别能力,它能以一个或几个非球面零件代替多个球面零件,从而简化仪器结构,降低成本并有效的减轻仪器重量。     

高精度非球面制造系统控制软件的设计

根据高精度非球面制造及测量的需求,设计并实现了高精度非球面制造及测量系统的控制软件．系统基于工控PC机和Windows98操作系统,并选用Delphi6．0和Visual Fortran作为开发工具．系统采用在线误差补偿加工技术,选择平面砂轮和圆弧砂轮两种加工方式．可达到加工高精度光学非球面镜的要求．     

Φ600 R-C光学系统的研制

此轻量化R C光学系统焦距6 000 mm,相对口径1/10.其主镜通光口径600 mm,相对口径1/1.2,主镜轻量化达53%.在传统制作的基础上,提出并研究了新的检测方法和新的工艺,主镜采用会聚光和平行光奥夫纳补偿器检验,次镜采用了反射自准检验和Hindle球检验.对轻量化主镜采取多点支撑方式.次镜加工精度:Hindle球检验弥散圆直径0.02 mm,面形误差值0.12λ(λ=0.632 8μm).主镜补偿检验弥散圆直径0.02 mm,主次镜组合光学系统的弥散圆0.02 mm,WYKO干涉仪检测波前误差值1.2λ,均方根为0.18λ,完全达到了使用要求.     

用于非球面绝对检测的计算全息位相探测类剪切干涉法

分析了计算全息位相探测干涉仪系统的原理特点，提出三波面类剪切干涉法，以消除系统误差，提高非球面检测精度，达到绝对测量的目的。该法使用ＣＧＨ位相探测干涉仪测量精度提高到λ／５０。