可用于HDTV解码器的基于ROM查找表的IDCT电路大规模集成电路实现

介绍了采用基于ROM查找表的全数字反离散余弦变换(IDCT)电路的算法原理及其并行架构的大规模集成电路实现.首先将二维IDCT转换为两个一维IDCT变换,根据蝶形算法进一步转换为矩阵的乘加运算.通过将连续输入的一个块的奇列或偶列的4个数据进行数据位重排,即将4个数据中相同的位组合在一起,则可用一个ROM查找表实现不同位的乘加运算.避免了硬件上的乘法器开销,具有很高的实现效率并节省硬件资源面积,因此可用于HDTV的实时解码器中,有助于降低电路的功耗.该电路已用于已开发的MPEG-2 MP@HL高清解码芯片,采用0.18μmCMOS工艺成功进行了流片.     

政策导向

中俄“国家年”科技活动确定近日,中俄两国决定于2006年在中国举办“俄罗斯年”,2007年在俄罗斯举办“中国年”。“俄罗斯国家年”主要科技活动包括:一系列高水平学术会议或研讨会(激光、航天、纳米、新材料等)、中国东北地区中俄科技合作高层论坛、中国长江三角洲跨区域科技与     

分辨率达1纳米的金属透镜

突破光学显微镜限制的成像技术，一提到“透镜”，大家立刻会想到放大镜、隐形眼镜等用透明物质做成的东西。但是，本文所讨论的透镜，却是用金属制造的，而且这种金属透镜的分辨能力，远远超过了光学显微镜。采用金属透镜，可以研制出前所未有的新型显微镜，还能够用于制造超精细的半导体集成电路芯片等，因此，金属透镜是划时代的研究成果。[编者按]     

基于电热模拟的电迁移可靠性诊断及时钟完整性分析

为诊断大规模集成电路设计过程中电迁移可靠性及分析时钟信号完整性,开发一种用于集成电路片上时钟信号模拟软件Etsim3。该模拟软件考虑了集成电路自热效应,通过电热耦合模拟以及金属连线温度分布解析模型获得更准确的集成电路芯片表面以及各金属连线网络上的温度分布。模拟结果表明,考虑集成电路自热效应前后,电迁移诊断以及时钟信号完整性分析结果都有了较大程度上的改变,Etsim3可以得到更为精确的分析以及诊断结果。     

三相交流电机变频调速单片智能芯片MC3PHAC及其应用

基于三相交流电机变频调速单片智能芯片MC3PHAC和6输出高压栅极驱动器IR2133，设计了应用于小容量三相交流电机的变频调速系统．电路实现简单方便、成本低、工作可靠，具有一定的通用性．     

“海尔集成”：用心打造“中国芯”

朱建国毕业于上海交通大学，他一心希望自己在集成电路的技术和产品上开拓一片天地，为民族的科技作一点贡献。     

模拟电容与电感及其仿真分析

模拟电容与模拟电感在集成电路中得到了广泛的应用．本文引入模拟电容与模拟电感模型，对两模型电路作了详细的时频分析和EWB(Electronics Workbench)软件仿真分析．以五阶Butterworth滤波器电路为例，通过对滤波器电路及其仿真电感替换电路的仿真对比分析，进一步验证了仿真电感模型的电感特性．     

垂直氮化镓功率晶体管及其集成电路的发展状况

氮化镓作为第三代宽禁带半导体材料的代表之一,因其优越的性能,例如高电子迁移率、高电子饱和速率、耐高温及高热导率等优点吸引了越来越多的关注.也正是因为这些优点,垂直氮化镓功率晶体管在未来的电力电子领域中具有很大的发展和广泛的应用前景.本文列出了氮化镓材料和其他半导体材料主要的物理参数、氮化镓单晶制备及其外延生长的主要方法,阐述了氮化镓功率器件在目前环境下的优势.针对器件结构,列出了横向器件本身存在的问题和垂直器件的优点,解释了垂直器件为何能够成为未来功率器件的主流结构.在此基础上,详细介绍了氮化镓电流孔径垂直晶体管、垂直氮化镓沟槽金属氧化物半导体场效应晶体管、基于原位氧化物氮化镓夹层的垂直沟槽金属氧化物半导体场效应晶体管和垂直氮化镓鳍式场效应晶体管的结构、工作原理、研究进展及所存在的一些问题,并将文中所提及的垂直氮化镓功率晶体管的性能参数按器件种类和时间顺序进行归纳为未来氮化镓功率晶体管的发展提出了大致的方向.针对集成电路系统,归纳了氮化镓功率器件在驱动芯片方面的特殊要求和关键技术.最后,针对当下的市场环境,列举了垂直氮化镓功率晶体管在中、低压范围内比较热门且发展前景较好的应用场景.     

胡新新：科技领域主要税收优惠政策解读

正2008年《企业所得税法》颁布以来,税收对科技发展的支持力度越来越大,从根本上改变了以往税收优惠以区域性为主的局面,形成了以产业优惠为主、区域优惠为辅的新优惠政策格局。高新技术企业。高新技术企业按照15%的优惠税率一、与科技进步有关的各类企业优惠     

JTAG软核设计与仿真

硬件系统的规模越来越大,复杂度越来越来高,对其进行测试也越来越困难,JTAG边界扫描技术较好地解决了传统测试的不足,边界扫描测试是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法。JTAG是符合IEEE规范的测试技术,JTAG的设计实现了测试复杂度的降低,适合进行大规模集成电路的测试。论述边界扫描技术的结构特征及软核设计方法的同时,分析了JTAG电路中数据传输的路径及电路对速度的影响,并以采样指令为例进行了功能仿真。