基于单片机的红外发射器

本设计便是采用MCS-51系列AT89C51的8位单片机微处理器,通过软件模拟实现红外遥控编码的发射。从而达到本设计的目的——基于单片机的红外遥控发射器。本论文介绍了红外线遥控通信的原理,给出用单片机AT89C51作为遥控编码发射的实现方法。包括按键电路、调制电路、红外发射原理图及其编程的主要思想和流程图,从而完成此设计的要点,参考统程方程图的构思过程,编写出了应用软件。红外发射电路具有体积小,低消耗,低成本等特点。     

一种基于直扩码分多址系统的复信号空时扩频算法

基于直扩码分多址系统下行链路，提出了一种针对复信号的空时扩频算法．该算法采用发射分集技术，将空时分组编码与直接序列扩频相结合，依靠空时分组码和扩频码的双重正交特性以及复信号自身的特性，充分利用了空域和时域资源设计出新的收、发和解码算法，解决了复信号空时分组编码非正交所导致的解码复杂度过高的问题，将最大似然检测简化为一个线性过程．在独立瑞利衰落信道和给定收、发天线数的条件下，能够实现系统所能达到的最大的分集增益．理论分析及仿真结果表明，与未加扩频的发射分集系统及现有的空时扩频算法相比，该算法不仅能够显著提高数据传输速率，增大系统容量，还具有误码性能好，解码复杂度低、接收机结构简单等优点．     

含氢a-Si:H/SiO2多层膜的蓝光发射及其发光机理研究

在等离子体增强化学气相淀积(PECVD)系统中, 采用a-Si:H层淀积与原位等离子体氧化相结合逐层生长的方法成功制备了一个系列的不同a-Si:H子层厚度的含氢a-Si:H/SiO₂多层膜, 在室温下用肉眼观察到了较强的光致蓝光发射, 与此同时还观察到其发光峰峰位和吸收边随a-Si:H子层厚度的减小而逐渐蓝移. 对a-Si:H/SiO₂多层膜的蓝光发射机制及氢的作用进行了分析和讨论.     

IBM蓝色基因／L夺取最陕计算机之冠

11月4日，蓝色巨人宣布它新创造的超级计算机能够执行每秒70．7万亿次运算，此时IBM公司蓝色基因／L就成了超级计算机王者之争的最强竞争者。     

多发串联有控发射武器系统内弹道物理过程

该文根据多发串联预装填有控发射方式武器系统的工作原理，提出了拟静力燃烧时期、拟内弹道过程、强耦合、弱耦合及非耦合等概念，详细分析了多发串联预装填有控发射方式武器系统内弹道物理过程，为多发串联预装填有控发射方式武器系统内弹道控制研究提供了理论依据。     

一种新型的非正交空时编码设计

空时分组码和BLAST系统是两种利用多发多收传输的典型的空时编码系统。但由于空时分组码受正交条件限制,传输效率得不到提高,而BLAST系统存在差错传播制约着误码率的下降。综合了这两种系统的优点,提出了一种非正交空时分组编码设计,并将其描述为空时分组BLAST系统。仿真结果表明,新系统在不同信道环境、不同调制方式和天线数目的情况下都具有良好性能。可以显著改善空时分组码和BLAST系统的性能。     

印度发射世界上首颗教育卫星

据英国“新科学家”网站报道，2004年9月20日，随着印度一颗专用于远程教育卫星的成功发射，那些地处偏远乡村的数百万印度文盲不久将获得接受教育的机会。据印度空间研究组织(ISRO)称，这颗卫星是世界上首颗专用于教育的卫星。该卫星重2吨，耗资2000万美元，是由位于孟加拉湾印度一个小岛上的Satish Dhawan卫星发射中心     

气动式水下发射装置的可调节发射阀仿真研究

为实现气动式水下武器发射装置对不同武器出管速度的调节，提出了使用新型可调节发射阀的气动式水下武器发射装置的实现方案。根据该方案建立了内弹道教学模型，并进行了系统仿真。仿真结果表明：所提出的实现方案是可行的。     

力学性能对矿柱体系破坏影响的三维数值分析

在深部高应力等复杂地质条件下开采时,由多个矿柱构成的矿柱体系的稳定性对矿山安全生产至关重要.利用RFPA^3D-Parallel程序,研究了单轴抗压强度对串行和并行矿柱体系破裂过程的影响.结果表明,串行矿柱中强度较弱部分的失稳决定整个体系的稳定,对该段加固和监测有助于体系的稳定性控制;对并行布设的矿柱体系,其压力传递与柱的抗压强度密切相关,较弱柱先破坏,应力依次向强度较高的柱转移,直到矿柱系统失稳;可将声发射数的多峰现象或声发射累积增长阶梯型弧段作为矿柱体系中弱柱失稳破裂、应力向相邻强柱转移的依据.     

含孔花岗岩破裂过程不同区域声发射特征

利用孔洞对声发射(AE)传播的阻隔作用,对AE探头监测区域进行分区.通过含孔花岗岩双轴加载破坏过程的AE多通道监测实验,研究了岩石变形破坏过程不同区域AE特征及其与破坏模式之间的关系.结果表明:试件的AE探头监测区域分为独测区、共测区、盲测区;试件共有两种破坏形式,“V”型和贯穿型;对于“V”型破坏的试件,主破裂发生在独测区,各通道的AE特征明显不同;对于贯穿型破坏试件,主破裂发生于共测区,各通道的AE特征较为相近.