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151.
报道了水热法制备氧化亚铜晶粒的实验结果. 大部分晶粒呈长柱状, 间有长柱状晶粒沿某些特定方向联生而成的晶粒, 包括6个线度基本等长的柱状晶粒沿3个相互垂直的方向联生而成的晶粒, 锥面在柱体顶端显露. 这表明在晶粒的形成过程中, 发生了由于某些显露的晶面之间结构相容而使得晶粒取向连生为主要内涵的第2类聚集生长. 从氧化亚铜晶体结构出发, 选定了其生长基元的基本结构单元, 通过各类基元稳定能的计算, 确定正方柱状和三轴生长基元为有利生长基元. 第1类聚集生长在水热条件下晶粒生长过程普遍存在, 但是, 并不是所有的晶粒都能在水热条件下发生第2类聚集生长. 晶粒是否可发生第2类聚集生长取决于其自身的结构.  相似文献   
152.
采用磁控溅射方法制备了Ta/NiFe/非磁金属隔离层/FeMn多层膜, 研究了交换耦合场Hex相对于非磁金属隔离层厚度的变化关系. 实验结果表明: 随非磁金属隔离层厚度的增加, 以Bi和Ag为隔离层的Hex薄膜急剧下降, 以Cu为隔离层的薄膜的Hex下降较缓慢. 对Cu而言, 它的晶体结构与NiFe层晶体结构相同且晶格常数相近, Cu层以及FeMn层都可以相继外延生长, FeMn层的(111)织构不会受到破坏, 因此, Hex随Cu沉积厚度增加缓慢下降. 对Ag而言, 虽然它的晶体结构与NiFe层晶体结构相同, 但晶格常数相差较大, Ag层以及FeMn层都不可能外延生长, FeMn层的织构将会受到破坏, Hex随Ag沉积厚度增加迅速下降. 对Bi而言, 不仅它的晶体结构与NiFe层的不同, 而且晶格常数相差也较大, 同样, Bi层以及FeMn层也不可能外延生长, FeMn层的织构也会受到破坏, 因此, Hex也随Bi沉积厚度增加迅速下降. 但是, X射线光电子能谱研究表明: 极少量的表面活化原子Bi沉积在NiFe/FeMn界面时, 会上浮到FeMn层表面, 因而Hex下降很少.  相似文献   
153.
该文剖析了静电能,自能,相互作用能和电场能的内涵及它们之间的关系。  相似文献   
154.
理论模型基于一级含时波恩近似,只考虑长程相互作用势,在此基础上给出了原子与^1П态双原子分子体系的干涉势.  相似文献   
155.
利用全实加关联(FCPC)方法计算了类锂离子(Z=11-20)激发态1s^25p的能级及精细结构劈裂,在此基础上计算了1s^2s-1s^25p的跃迁能和振子强度,相对论和质量极化效应对能量的修正用微扰论计算。还估算了来自量子电动力学效应的修正,所得到的理论结果与现有的实验数据符合得很好。  相似文献   
156.
讨论和研究了累积量域自适应滤波原理及代价函数,给出了一个新的代价函数J3(n)及基于J3(n)的CSWLMS算法。CSWLMS算法的性能优于基于代价函数J1(n) 的CLMS算法和基于代价函数J2(n)的CRLS算法。另外,还对CLMS算法和CRLS算法进行了改进。对上述算法进行了计算机模拟仿真比较,仿真结果表明改进的算法及给出的CSWLMS算法收敛性能良好。  相似文献   
157.
圆断面倾斜管道内平面水跃消能系数分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
在定义水跃消能系数的基础上,推导计算圆断面倾斜管道内平面水跃消能系数的公式,并分析了它的基本变化规律。  相似文献   
158.
根据两格点分子场理论,在考虑重稀土与钴的磁矩偏离反平行倾角的基础上,分析了钴基化合物RCo5(R=Y,Pr,Nd,Gd,Tb,Dy)的磁化与温度的关系,采用数值拟合的方法得到了描述3种磁作用的分子场系数n(CoCo),n(RCo)和n(RR),计算出了Tc,结果表明,RCo5中的磁作用主要由钴3d电子问的交换所决定。  相似文献   
159.
目前在广泛应用的核反应统计理论模型计算程序中从来没有考虑到非稳定核5He的发射, 这些程序是用来解释实验数据和评价核数据的有用工具. 然而, 对从轻核到重核所计算的5He发射阈能结果可以看出, 在大多数情况下, 入射中子形成的复合核发射5He比发射3He要容易. 由于5He是非稳定核, 它自发分裂为一个中子和一个α粒子, 因此, 在5He的发射过程中总是伴随中子的产生. 建立了5He发射后两体崩裂过程中产生的中子和α粒子的双微分截面计算公式表示. 因为5He发射存在比较强的核反冲效应, 为满足核工程需要, 核反应能量平衡被严格考虑. 提出了对于统计理论模型计算程序在该方面的改进建议. 另外, 期待同时测量5He发射中产生的中子和α粒子的关联测量实验的实现, 以证实5He发射机制的存在.  相似文献   
160.
在物理化学及相关教材中得出的吉布斯自由能判据是(△G)T,P,W=0≤0及(△G)T,P≤-W',它们分别是恒温恒压下不做非膨胀功和做非膨胀功两种情况下变化过程方向的判据.在此提出吉布斯自由能一般判据是(△G)T,P≤0,该式不受过程是否存在非体积功的限制,仅凭△G值的正负即可判断过程的方向(自发与否),只有使用该式才能判断那些伴有非膨胀功过程的方向.  相似文献   
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