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181.
I—69杨工业用材林直径分布及产量模型系统的研究 总被引:1,自引:1,他引:0
以分布模型方法论为研究主线,建立了I-69杨工业人工林的立地质量评价结构,直径分布模型,直径与断面积预估模型,树高曲线,单木材积与生物量模型,对直径分布模型和树高曲线的回归参数进行了动态预估,实现了林分产量和结构的动态模拟。为研制经营模型及优化栽培模式提供了必要的技术手段。 相似文献
182.
C58Si2的几何结构和电子结构研究 总被引:1,自引:1,他引:0
采用密度泛涵BLYP/6—311G和杂化密度泛涵B3LYP/6—311G方法,对C58Si2的几何结构和电子结构进行系统研究。发现在C58Si2的同素异形体中,2个Si原子位于六边形对角位置时(C58Si2-6)比2个Si原子位于五边形对角位置时(C58Si25)的能量低0.11eV,是C58Si2的基态几何结构。C58Si2同C60相比,只是在Si原子附近原子间的间距有较为明显的变化,其它部分基本保持C60的构型。在电子结构方面,由于C58Si2—6具有C8对称性,所以使原先的能级简并度消除,LUMO能级下降,HOMO能级上升,HOMO与LUMO间的能隙变小;每个Si原子均失去1.122e的电荷,主要转移到Si—C键上的3个邻近的C原子上,使C58Si2中的Si—C化学键受到极化,束缚能增大。 相似文献
183.
184.
采用燃烧合成方法制备低放热反应体系的Ni3Si和Ni3(Si0.9,Ti0.1)合金粉体材料,研究了球磨时间、预热温度、合金化元素Ti对燃烧合成的影响.实验证明,机械活化、热学活化和合金化元素Ti的加入均能降低点火温度,加速燃烧合成反应的进行.同时采用X射线衍射仪(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)分析了产物的物相组成和微观形貌变化. 相似文献
185.
186.
用直流等离子体增强化学气相沉积(PCVD)方法在T225NG钛合金基体上制备出厚度约为6μm的TiN/TiN+Si/TiN多层膜,重点研究了多层膜及钛合金基材在室温和高温条件下的微动磨损行为,采用激光共焦扫描显微镜测定磨损体积,用扫描电子显微镜观察磨痕微观形貌.结果表明:在室温(25 ℃)至400 ℃范围内,微动初期和稳定阶段多层膜的摩擦系数比钛合金基体低,磨损体积也比钛合金基材明显降低;多层膜磨损体积随着温度的升高而增大;多层膜可以显著降低钛合金基材的磨损;多层膜的损伤主要表现为剥层和磨粒磨损形式. 相似文献
187.
对直流磁控溅射方法制备Fe—Si化合物的工艺过程进行了研究.首先通过改变溅射气压,溅射功率和Ar气流量,在Si(100)衬底上沉积约100nm纯金属Fe膜,随后在真空退火炉中800℃长时间退火形成Fe—si化合物.由X射线衍射(XRD)对所形成的Fe—Si化合物的物相和晶体结构进行分析,给出了一组最优化的溅射工艺参数:溅射Ar气压1.5Pa,溅射功率100W,溅射Ar气流量20SCCM. 相似文献
188.
189.
用MBE生长了GaAs/Si/AlAs异质结及其对比样,通过深能级瞬态谱技术(DLTS)和X射线光电子谱测量(XPS)研究了Si夹层的引入对异质结的影响,研究发现Si夹层的引入不会引起明显的深能级缺陷,异质结仍保持较好的质量,但使GaAs/AlAs的带阶发生了改变。 相似文献
190.
采用基于密度泛函理论的第一性原理平面波赝势方法计算优化了Ag原子在硅惯习面Si(111)和Si(220)晶面的最佳吸附位置,并计算了Ag/Si(111)和Ag/Si(220)体系的表面吸附能和表面态电子结构.研究表明:Si基表面Ag原子的最稳定吸附居于Si(220)晶面的穴位,此时的吸附能最低,其值为5.2569eV,属于强化学吸附;同时由于在Ag/Si(220)体系中,Ag-4d轨道和表面态Si-3s、3p轨道电子的强相互作用,以及Ag-4p轨道的电子云强偏向于Si-3s、3p轨道使得体系的能隙宽度变窄,导电性急剧增大. 相似文献