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171.
本文通过扫描电镜和透射电镜对Mo粉和Si粉在球磨过程中颗粒微观形貌的变化规律进行了分析 ,表明Mo粉的球磨过程是塑性颗粒的反复变形、焊合、断裂的细化过程 ,而Si粉的球磨过程是脆性颗粒的破粹细化过程 ;确定了MoSi2 的机械合金化过程属延性金属与脆性非金属体系。图 4,参 4。 相似文献
172.
Fe3Si基合金板材的制备技术 总被引:5,自引:0,他引:5
在既有的研究工作基础上,给出了更为合适的锻造、轧制等工艺参数和工艺方法。利用普通的锻造和轧制设备,成功制备了良好的约1.5mm厚的Fe3Si基合金薄板。制备过程中典型的微观组织变化如下:铸态组织 的晶粒较大且很不均匀;锻造组织为通过再结晶而形成的晶粒较细且均匀的等轴状组织;轧态组织为纤维组织。 相似文献
173.
国产空间实用太阳电池抗质子辐射性能研究 总被引:2,自引:1,他引:1
研究了国产卫星用背场Si太阳电池和GaAs/Ge太阳电池性能随质子辐照注量1×109 -5 × 1013 cm-2的变化.实验表明,2种太阳电池的电性能随辐照注量增加有不同的衰降趋势.背场 Si太阳电池性能参数短路电流Isc和最大输出功率Pmax衰降变化快,辐照注量为2 × 1010cm-2时, Pmax就已衰降为原值的75%,而GaAs/Ge太阳电池对应相同的衰降辐照注量达8×1011cm-2,且 Isc和Pmax衰降变化起初缓慢,当辐照注量接近3 × 1012 cm-2时才迅速下降.背场Si太阳电池性能 衰降与质子辐照引入的Ev+0.14 eV和Ev+0.43 eV深能级有关,而GaAs/Ge太阳电池性能衰降 与辐照产生的Ec-0.41 eV深能级有关. 相似文献
174.
采用随机扩增多态性DNA(RAPD)技术,对螽Si总科10种昆虫的RAPD带型变异进行了分析。带型显示出属、种间多态性明显,能够明显区分。利用NU取得遗传距离与遗传一致性矩阵,并用UPGMA聚类法进行分析,取得了系统树。 相似文献
175.
单层硫化钼(MoS2)因具有直接带隙和特殊的六方晶系层状结构,而呈现优异的光学特性和电学特性。基于p-n结扩散模型推导了MoS2/Si异质结的接触特性和伏安特性,分析了不同施主掺杂浓度(n-MoS2)和受主掺杂浓度(p-Si)对能带结构和输运特性的影响。研究表明:MoS2/Si异质结的内建电势和势垒区宽度由施主、受主掺杂浓度共同决定。随着掺杂浓度的升高,内建电势VD逐渐增大,而势垒区宽度XD呈明显减小的趋势。另外,发现p-Si的受主掺杂浓度决定了MoS2/Si异质结的电流密度和反向饱和电流密度,均随着p-Si的受主掺杂浓度的增大而减小,但与n-MoS2的掺杂浓度关系不大。 相似文献
176.
177.
通过800 ℃高温下的氧化实验,结合X射线衍射仪、扫描电子显微镜、电子探针显微分析仪,研究了金属Al复合Fe3Si有序合金的高温氧化行为.结果表明:元素Al很好地改善了Fe3Si的高温抗氧化性能,其氧化动力学曲线由抛物线加直线的混合规律转变为完全的二次抛物线型,且氧化增重降低了近一个数量级;氧化动力学主要机制是Al通过亚晶界由基体内部向外扩散并形成保护性氧化膜Al2O3 ,阻止Si和Fe的向外扩散氧化;同时氧化膜保护性的好坏还受到氧化产物Al2O3的相结构以及扩散通道等诸多因素的影响. 相似文献
178.
以Fe粉与Si粉为混合粉原料,研究经机械球磨、退火热处理后混合粉的形貌、结构与恒电流充放电性能,同时对比研究Si-Fe合金粉的性能.研究结果表明:混合粉原料经过高能机械球磨,生成了Si-Fe合金相,而Si-Fe合金的生成改善了Si作为锂离子电池负极材料的循环性能;与工业级Si-Fe合金负极材料相比,合金化程度影响了合金材料的电化学性能,合金化程度越高,合金材料电化学性能越好;而退火热处理也可以在一定程度上改善合金材料的脱嵌锂性能. 相似文献
179.
A ball grid array (BGA) package based on Si interposer with through silicon via (TSV) was designed. Thermal behaviors of the designed BGA with Si interposer has been analyzed and compared to a conventional BGA with BT substrate in the approach of finite element modeling (FEM). The Si interposer with TSV was then fabricated and the designed BGA package was demonstrated. The designed BGA package includes a 100 μm thick Si interposer, which has redistribution copper traces on both sides. Through vias with 25 to 40 μm diameter were fabricated on the Si interposer using deep reactive ion etching (DRIE), plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD), copper electroplating and chemical mechanical polishing (CMP), etc. TSV in the designed interposer is used as electrical interconnections and cooling channels. 5 mm by 5 mm and 10 mm by 10 mm thermal chips were assembled on the Si interposer. 相似文献
180.
为了研究外加电场对脉冲激光沉积纳米Si晶粒的影响,采用XeCl准分子激光器,烧蚀高阻抗单晶Si靶,在10 Pa氩气环境下,调整外加电压的强度,沉积制备了一系列Si薄膜.X线衍射(XRD)谱仪、拉曼(Raman)谱、扫描电子显微镜(SEM)图像均显示纳米Si晶粒已经形成,随着靶衬间距的增加,所形成的纳米Si晶粒的平均尺寸... 相似文献