X射线荧光光谱法测定化探样品中的主次痕量元素

采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用ZSX primus Ⅱ X射线荧光光谱仪测定化探样品中C、N、Na、Mg、A1、Si、P、S、C1、K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Br 、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Sn、Ba、La、Ce、Hf、U、Th、Pb和Nd,共39个组分,C、N的分析采用RX45、RX61专用分析晶体.使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质检验的分析结果与标样值吻合.用GBW07308国家一级标准物质作精密度试验的统计结果,除U的RSD(n=12)为23.8%,Cl、Sc、Mo、Sn的RSD＜13.0%以外,其余各组分均小于6.0%.     

图论数学模型在砂浆界面过渡区中的应用

运用图论数学理论建立了关于砂浆中的界面过渡区的数学模型，可计算细水泥颗粒的质量。细水泥颗粒被预先包裹在集料表面，降低了界面过渡区的厚度及减少连通情况。实验结果表明：进行集料预包裹可以降低砂浆的孔隙率，从而提高抗压强度。     

柔性形态边缘检测算法在菌类显微图像中的应用

在灰度图像的柔性形态学概念及特性的基础上,根据菌类显微图像的边缘特点,提出了均衡化的柔性形态边缘检测方法.以霉菌图像为例,通过实验结果和传统的canny算子、LOG算子边缘提取结果进行对比,证明了算法的有效性,为菌类识别打下了良好的基础.     

原子荧光光谱法在中药痕量元素分析中的应用进展

介绍了原子荧光光谱法的发展及其在中药元素分析中的应用,包括样品的消解技术、元素含量及形态分析,对近年来该领域的研究进展进行了综述,并对其应用前景加以展望.     

核心元素的特征及其在决策树生成中的应用

利用粗糙集约简的辨识矩阵，给出属性是核心元素的充要条件为该属性是辨识矩阵中单元素集．利用上近似与下近似给出了判断是否核心元素的两个充分条件，指出利用核心元素简化决策树比用熵函数ID3方法简化的决策树更简单．     

土壤地下点源入渗的基本特性研究

基于大量的大田土壤点源入渗试验，提出了地下点源入渗系统的新理念——管道-土壤系统，分析了地下点源入渗中累积入渗量与入渗率随时间的变化过程及入渗界面问题，建立了地下点源土壤入渗模型，并利用数理统计理论证明了该模型的有效性。研究成果对研究土壤水分运动理论和指导农业地下灌溉实践都具有重要的意义。     

土工格栅与膨胀土界面摩擦阻力系数试验研究

为满足土工合成材料在道路工程应用中的技术要求,开展了合理选取土工格栅与膨胀土界面摩擦阻力系数的研究.以正交设计原理为指导,选取筋土界面参数的4个影响因素(上覆压力、膨胀土体含水量、土工格栅尺寸和拉拔速度),进行了筋土界面摩擦阻力系数测试的拉拔试验.通过分析筋土界面各参数的影响因素,提出了当量拉拔位移的概念和筋土界面参数拉拔试验测试结果的过程分析方法,获取了各影响因素对摩擦阻力系数的影响程度及其在拉拔试验过程中的变化规律,并提出了拉拔试验的测试要求、步骤和结束标准.     

Au/Au-Be与GaP欧姆接触的表面分析

用表面方法(SEM,SAM,XPS)研究了在不同温度热处理后Au/Au Be与GaP接触的特性.结果显示,Au Be与GaP接触的界面特性强烈地依赖于热处理温度.经550℃热处理过的界面均匀、平整,其I V特性斜率大,接触电阻小;经较高温度(580℃)热处理过的表面有结晶团状物产生,晶粒变粗,接触电阻增大.AES和XPS分析表明,经540～550℃温度热处理后,界面生成Au Ga P化合物;Be原子由表面向界面扩散,在界面处出现最大值.     

粉煤灰中主要有害元素的浸出与迁移实验研究

通过系统模拟实验研究了粉煤灰中主要有害元素在灰场正常运行条件下的浸出与迁移规律.结果表明,这种废水中的主要污染物是F和Cd,pH值严重超标.     

电感耦合等离子质谱法测定地质样品中的稀贵金属元素

研究建立了直接用王水消解地质勘探样品，利用电感耦合等离子质谱仪(ICP—MS测定其中稀贵金属元素Au、Pt、Pd、Ir、Ru、Rh的分析方法,建立校正方程及引入内标元素Cs，有效克服了质谱干扰及由于基体效应产生的非质谱干扰．方法的测定下限为0．7—2．0ng/g，精密度为3．3％-7．4％，加标回收率为91％-113％，适于大量地质样品中稀贵金属元素的及时分析。