金属基体表面热熔敷玻璃涂层耐蚀性研究

利用斑点试验、点蚀试验、电化学测试及扫描电镜等方法 ,研究了熔敷温度、保温时间和稀土添加量等工艺参数对热熔敷法制备的玻璃涂层耐蚀性的影响 ,探讨了添加稀土提高玻璃涂层耐蚀性的机理。试验结果表明 ,采用热熔敷法制备的玻璃涂层有较好的耐蚀性。随着熔敷温度的提高和保温时间的延长 ,形成了一定量的晶相后会降低涂层的耐蚀性。试验结果表明 ,熔敷温度为 70 0℃、保温 5min后能够得到耐蚀性良好的玻璃涂层。添加稀土提高了釉料的软化温度和熔融釉料的粘度 ,阻止了结晶形核和晶核长大 ,减少了晶相 ,同时提高了涂层的电极电位 ,使涂层耐蚀性显著提高。当稀土含量为 2 %时 ,涂层的耐蚀性较好。     

窗口条件对共生纹理在磨玻璃影自动识别中的影响

以肺部高分辨率CT(HRCT)为研究对象,探讨了常用的宽窄两种肺部CT窗口对共生纹理参数在磨玻璃影(GGO)自动识别中的影响.通过改变共生矩阵生成参数和窗口设置形成不同的初始特征集,用逐步判别法分别从中选出判别能力较强的若干特征,再由这些特征变量设计线性分类器,并用回代法和刀切法评估各分类器的性能.经比较发现,如果初始特征集只包含常用的6种共生纹理特征时,在窄窗条件下设计出的分类器对GGO的识别效果要优于宽窗条件下的;如果增加初始特征集维数,使其包含所有14个共生纹理参数时,窗口条件对分类器性能的影响可以忽略.     

不同碳源对红边朱蕉组培苗生长的影响

从碳源角度进行了降低红边朱蕉组培苗生产成本的试验；比较分析了蔗糖、葡萄糖、果糖、食用白糖和红糖等5种碳源对红边朱蕉试管苗增殖速度、根诱导效率、内含物积累的影响，分别以蔗糖、葡萄糖、果糖、白糖、红糖为碳源培养4周，培养物均能很好地生长、生根，同时有利于可溶性糖和蛋白质的积累。结果表明，在组培快繁中。为降低成本，可以食用白糖、红糖等为碳源，替代分析纯蔗糖。     

玻璃陶瓷基板上铜薄膜的化学气相沉积

使用低介电常数基板和高电导率、高抗电迁移的金属Cu进行布线,可以提高高密度电子封装的传输速度和可靠性。采用乙酰丙酮铜作为前驱体,在常压下利用化学气相沉积技术对玻璃陶瓷基板进行Cu薄膜金属化。利用热重分析、X射线衍射和扫描电子显微镜等技术对前驱体、Cu薄膜进行分析观察。结果表明:影响Cu导体的电阻的主要因素是沉积温度。在温度为290～310℃,N2气流量为200～350mL/min和H2气流量为450～600mL/min的条件下,获得了致密的Cu薄膜,Cu导体方块电阻为25mΩ。     

静电键合用微晶玻璃的研究

采用传统熔体冷却方法,研究以TiO2为成核剂、以Li2O Al2O3 SiO2为基础组成的玻璃的制备工艺;根据差热分析(DTA)的结果确定玻璃的核化与晶化温度,然后针对基础玻璃组成,采用二步热处理方法获得透明的微晶玻璃;用X射线衍射分析(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)对晶化试样的物相和显微结构进行研究;用热膨胀仪测定玻璃在热处理前、后的热膨胀系数;用绝缘电阻测试仪测试该微晶玻璃的电阻率.研究结果表明:微晶玻璃的主晶相为Al2O3·TiO2微晶体,次晶相为ZnSiO3;微晶玻璃与硅片有相近的热膨胀系数,约为32.5×10-7/℃;微晶玻璃晶化后的电阻率较低,为6.8×1010Ω·cm.     

晶化时间对微晶玻璃结构与性能的影响

通过测试不同晶化时间条件下热处理后微晶玻璃收缩率、体密度的变化 ,研究晶化时间对微晶玻璃热处理时表观性能的影响 .采用X射线衍射、环境扫描电镜对不同晶化时间下微晶玻璃中晶相和晶相显微形貌的变化进行分析探讨 .     

在磷硅酸盐玻璃中八面体配位的硅:K边X射线吸收光谱研究

<正>众所周知,在高压条件下,硅酸盐矿物和玻璃中的硅可以形成八面体配位,但在通常的低压硅酸盐玻璃中,硅为四面体配位,因为玻璃中硅的八面体配位会迫使形成周期性结构,破坏玻璃的非晶态。目前几乎没有文献报道在低压硅酸盐玻璃中存在八面体配位的硅。很久以来,人们一直对于含磷的硅酸盐玻璃和熔体有很大兴趣,因为一方面含磷的硅酸盐玻璃是很有前景的光导纤维材料,另一方面,在地球化学上P_2O_5加入到岩浆体系中,会导致液相不混溶,降低岩浆的液相线温度和粘度,影响元素在固相-液相和液相-液相之间的分配,尽管有报道证明在钠的磷硅酸盐玻璃中存在八面体配位的硅,但此结果仍有一定的争议。本文采用同步辐射的硅K边X射线吸收光谱研究了硅在SiO₂-P₂O₅和Na₂O-SiO₂-P₂O₅体系的磷硅酸盐玻璃中的结构与配位,以及硅的配位几何随玻璃中P₂O₅含量的变化。     

应用Raman光谱方法研究玻璃炭纳米晶体的键距畸变特征

键距(或晶格)畸变与晶粒尺寸、晶界结构一样都是纳米晶体结构研究的重要方面.有关晶格畸变对纳米晶体性能的影响已有较多研究工作发表,但关于纳米晶体的键距(或晶格)畸变特征则未见专门报道.本文从Fitzer炭键键距公式出发,建立一种键距畸变的Raman光谱分析方法.应用这种方法可以测量玻璃炭纳米晶体sp~2杂化键的最可几键距b_g、平均键距(?)_g、键距畸变△b_g以及键距膨胀率α等参量.指出,畸变可能主要存在于晶粒边界附近形成畸变键距过渡层,并对过渡层中的键距膨胀现象从电子结构角度进行了初步探讨.1 实验过程通过控制炭化温度制备具有不同晶粒尺寸的玻璃炭试样.试样的X射线分析在D/max-rA衍射仪上进行.分析结果表明经800℃至2300℃炭化得到的玻璃炭均具有乱层石墨微晶结构.试样晶粒尺寸(六元环炭原子面大小)L_a的X射线测试结果列于表1,L_a的测量误差为0.04nm.Raman光谱分析在Spex-1403型谱仪上完成.Ar~+激光器的波长为488nm、功率为500mW.试样环境为室温大气环境.测试结果如图1所示.由于玻璃炭Raman谱中G线与D线略有重叠,故图中的G线谱形已经过计算机分峰处理.     

水稻胚性悬浮细胞的玻璃化法超低温保存和可育植株再生

玻璃化法超低温保存(Cryopreservation by vitrification)是1980年代兴起的一种冷冻保存新技术,它的基本过程是将生物样品用一定配方的玻璃化法保护剂处理后快速投入液氮贮存。描述离体培养物或再生小苗高度含水化时也用“玻璃化”一词,但本文中的“玻璃化”是指一个生物物理学过程——细胞和溶液在快速降温时进入一种均一的无定形态,细胞里的水不转变成冰,而呈超冷液体状态,一种对细胞冷冻损伤最小的状态。为了使细胞呈玻璃化,首先要     

玻璃熔制过程的定量化评价

提出了评价玻璃熔化过程和玻璃澄清过程的定量指标——熔化指数和澄清指数，从而建立了应用数值模拟手段来定量地评价和分析玻璃熔制过程的方法。用澄清指数考查了熔窑结构和操作参数对彩色显像管玻璃熔制质量的影响，为玻璃生产提供了理论依据，指出了改进方向。研究成果已成功地应用于实际生产，经济效益显著。