关联多屏显示及其在电力系统中应用

提出了关联多屏显示这一全新概念,并在电力系统的背景下展开研究.首先将电力系统的显示内容分为对象类以及信息类,基于屏幕间显示内容联动性上的不同,对关联多屏显示的重要属性--关联关系进行了归纳,将其分为对象相关、信息相关、继承相关、完全相关等四大类.随后对关联多屏显示的实现原则进行了探讨,并在最后基于单机多屏的模式进行了实现.     

基于ARINC661的座舱显示控件库的特性研究

ARINC661标准定义了座舱显示系统和用户系统之间的接口,并定义了符号和控件库及其相关行为.ARINC661标准将显示软件定义为一种运行时解释程序,它提供一系列部件组成的控件库,支持显示由这些部件组成的用户应用的图形画面.本文通过对ARINC661显示逻辑及标准座舱显示控件库的特性进行研究,包括控件库的通用特性、行为...     

气粒并流向上流动中准静止颗粒团现象

为研究不同操作条件下气粒并流向上两相流动中颗粒团的特性,采用流动显示的方法对颗粒团的瞬态运动行为进行观察,采用图像灰度梯度法对颗粒团进行识别,根据颗粒团图像的面积计算颗粒团截面尺寸,采用互相关方法计算颗粒团瞬时速度,并根据相关系数的变化判断颗粒团变形和计算颗粒团生存时间。结果表明:在某种操作条件下,竖直窄槽道壁面附近会出现类似“沙丘”形状的大尺度准静止颗粒团;这种颗粒团的形状和尺寸能在较长时间内基本保持不变,其运动速度在零附近波动;准静止颗粒团的生存时间可达1~2 s,而其他类型颗粒团的生存时间不会超过0.25 s。     

森林真的在消失吗?

当今世界,为造田或采用木材而过度砍伐森林的进程之快令人忧虑。不过并非所有的国家与地区都是如此。一项最新的研究数据显示,至少在那些经济比较发达的国家,森林的再植率还是高于其砍伐率。     

上海市雷电监测数据可视化研究

基于ArcGIS软件,将GIS(地理信息系统)技术与防雷实际应用结合,对雷电灾害预警涉及的实时监测数据(闪电定位数据、大气电场监测数据、雷达监测数据),从数据特点、预处理和可视化进行分析。针对上海市防雷中心业务需求,在雷电监测数据可视化应用方面,提出了分库、分表索引和符号库方法,实现了对海量数据的实时整合转化。提出的地图文档渲染方式使雷达数据达到了良好的可视化效果。目前,此研究已投入运行,具有较强的实用价值。     

应用FLUPD-DD-PCR检测血清饥饿对胶质瘤细胞mRNA表达的影响

荧光通用引物差异显示ＰＣＲ（ＦＬＵＰＤ－ＤＤ－ＰＣＲ）是以荧光通用引物和相应１０碱基随机引物进行ＤＤ－ＰＣＲ扩增,在荧光自动测序仪上进行电泳。通过对电泳图谱的分析进行特异条带的确定,使准确度和自动化程度大大提高,尤其对于表达量上有差异的ｃＤＮＡ片段,这一方法比传统的ＤＤ－ＰＣＲ更为方便。     

高等真核细胞受极低频磁场作用后特异反应基因的克隆及鉴定

极低频磁场（ＥＬＦ ＭＦ）生物学效应的机理研究是当前生物电磁学中迫切需要解决的问题．为探索 ＥＬＦ ＭＦ的特异反应基因及这些基因的结构与功能,用 ｍＲＮＡ差异显示技术（ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌｄｉｓｐｌａｙ, ＤＤ）对受ＥＬＦ ＭＦ辐照与假辐照的Ｄａｕｄｉ细胞内的ｍＲＮＡ进行了检测,筛选到一个受ＥＬＦ ＭＦ诱导表达的ＤＤ片段（＞１ｋｂ）,反向Ｎｏｒｔｈｅｒｎ及Ｎｏｒｔｈｅｒｎ鉴定进一步证实系磁场诱导所致．经克隆测序及与ＧｅｎｅＢａｎｋ同源性比较表明该基因片段（ＭＦ－ＣＡ）是人细胞中新发现的受磁场诱导的反应基因。     

SciAO:自适应光学建模与仿真

SciAO(Scilab/Scicos Adaptive Optics)是Scilab/Scicos环境下为满足波动光学,尤其是自适应光学的建模和仿真需要而建立的工具箱,它具有源代码完全公开、支持跨平台(Windows,Gnu/Linux等)运行、使用简单方便等特点.简要介绍了SciAO的基本设计目标和设计思想,基本结构及可用功能模块,并给出几个简单应用实例.     

四针状纳米氧化锌的制备及其场致发射特性的研究

对利用高温气相氧化法制备四针状纳米氧化锌进行了研究,实验表明：制备炉的温度对样品的性能影响较大,温度低于800℃,短时间内得不到明显的反应产物,温度高于1 000℃,白雾状产物也有所下降,最佳反应温度约为900℃。样品具有优良的场发射特性,开启电场仅为1.6 V/μm。获得1.0 mA/cm^2的电流密度也只需要4.5 V/μm的电场。     

基于X射线的电容三维可视化检测

随着电子元件封装技术的发展,电子元器件集成度越来越高,对内部缺陷的检测需求也逐渐增加,而传统方法很难实现内部缺陷的检测。三维可视化技术是利用基于X光的连续断层图像进行三维立体显示的过程,可直观显示元器件表面及其内部一定深度的结构,有助于电子元件封装过程中内部缺陷的检测。文中以常见的电容元件为对象,研究了基于断层边界轮廓线的重建算法。首先对图像进行预处理得到断层图像轮廓线,然后利用最小二乘B样条拟合形成光滑的闭合轮廓线,最后将各层轮廓线堆叠形成电容的三维模型。实验结果表明算法能显示出元器件表面及内部结构,可用来检测元器件的内部缺陷,协助评估元器件质量。