首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   11544篇
  免费   281篇
  国内免费   282篇
系统科学   252篇
丛书文集   468篇
教育与普及   242篇
理论与方法论   99篇
现状及发展   70篇
研究方法   7篇
综合类   10969篇
  2024年   31篇
  2023年   134篇
  2022年   172篇
  2021年   186篇
  2020年   151篇
  2019年   185篇
  2018年   73篇
  2017年   149篇
  2016年   154篇
  2015年   239篇
  2014年   592篇
  2013年   621篇
  2012年   645篇
  2011年   759篇
  2010年   687篇
  2009年   799篇
  2008年   860篇
  2007年   792篇
  2006年   556篇
  2005年   495篇
  2004年   473篇
  2003年   408篇
  2002年   414篇
  2001年   391篇
  2000年   343篇
  1999年   293篇
  1998年   220篇
  1997年   204篇
  1996年   196篇
  1995年   171篇
  1994年   120篇
  1993年   107篇
  1992年   123篇
  1991年   85篇
  1990年   88篇
  1989年   72篇
  1988年   40篇
  1987年   39篇
  1986年   16篇
  1985年   6篇
  1984年   3篇
  1983年   5篇
  1981年   3篇
  1980年   2篇
  1978年   1篇
  1958年   2篇
  1957年   1篇
  1947年   1篇
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 265 毫秒
11.
雷电波分析与比较研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文对双指数雷电流模型和 IEC1 3 1 2—— 1推荐的雷电流模型进行了分析和研究 ,计算了这两种雷电流模型的雷电流参数。在此基础上 ,用 FFT方法分析了雷电流的频谱分布  相似文献   
12.
用动电位极化和恒电位极化法研究了A3碳钢在不同浓度NaCl的0.5mol/LNaHCO3溶液中亚稳态孔蚀行为。实验发现亚稳态电流波动峰具有快速上升、缓慢下降的特点。亚稳孔出现电位Em 服从正态分布,随着Cl-浓度的提高,Em 值向负方向移动。亚稳孔的峰频变化规律与电位关系不大。恒电位极化时,当电位高于Em而大大低于孔蚀电位Eb 时,电流波动保持一定时间后会最终消失,并产生直径为微米级的小蚀孔。当电位接近孔蚀电位时,一段时间的电流波动后电流往往迅速上升,最终转变为稳定蚀孔.  相似文献   
13.
文章介绍了桅杆结构数据采集软件的编制 ,并基于HY -8021多功能数据采集板与光电位置传感器的特性 ,使得该软件可满足以低频振动为主的建筑工程结构数据采集的要求。  相似文献   
14.
测试与评价在CMM和CMMI中有着不同的作用,这两种作用反映了两种不同模型对测试与评价技术在软件管理工程中作用的不同认识,体现了CMMI对测试与评价支持优于CMM,论证了CMMI是一个更适应于时代发展的模型。  相似文献   
15.
在工业发达国家,先进的计量控制、优质的原材料及科学的工艺装备被称为现代企业的“三大支柱”。而在我国,由于受生产力发展程度和传统管理观念的束缚,仅仅把计量控制作为“工业生产的眼睛”。  相似文献   
16.
发动机传感器的测试是进行控制和诊断的基础,故有必要对传感器输出信号的性质、特征及电路加以阐述.  相似文献   
17.
对处于磁场中的近藤体系的闭合点环系统,其基态性质用单一杂质安德森模型哈密顿量加以研究;该哈密顿量是用平均场理论Slave—Boson技术求解。结果表明:由磁场感应的电流与系统字称和环的尺寸大小有很大关系,通过理论研究得出一些新的结论并探讨了一些相关问题。  相似文献   
18.
通风机性能现场测试的可能性、规范性和准确性很大程度上取决于通风机房与峒室系统设计的的合理性。本文结合通风机性能现场测试规范性提出了设计与改进通风机房与峒室系统的建议。图5,参3。  相似文献   
19.
针对时滞试能量函数,分析了它在无冒险强健测试矢量生成时存在局限性和表达式较复杂的不足。在此基础上建立了无冒险条件下的时滞试能量函数,从而完善了Chakradhar提出的时滞测试能量和相应的测试生成算法。  相似文献   
20.
本文介绍了用于硅栅CMOSIC园片级工艺诊断和可靠性监控的微电子测试图形。重点论述了(1)用于检测漏、源及多晶硅薄层电阻和因扩散及腐蚀引起的横向变化量的组合结构,(2)用于监测CMOSIC动态参数的结构设计及其对工艺的评价。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号