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51.
抛光光学玻璃等硬脆材料时常选用聚氨酯抛光垫,其微观形貌和磨损直接影响抛光精度和效率.本文对不同抛光时长下聚氨酯抛光垫微观形貌和磨损行为及其对材料去除率和表面粗糙度的影响进行了实验研究.结果表明:当主轴转速为8 000 r/min,进给速度为0.015 0 mm/s,轴向超声振幅为5μm时,材料去除率和表面粗糙度分别为0.977μm/min和153.67 nm.聚氨酯抛光垫在30 min内磨损量较小,随着抛光时长的增加,抛光垫表面孔隙逐渐被磨粒和玻璃碎屑填充,破坏抛光垫表面的疏松多孔结构,导致抛光垫表面硬化,失去弹性.同时,侵入抛光垫表面的磨粒会阻止抛光接触区域内的磨粒更新,导致抛光质量降低.  相似文献   
52.
从岩石的矿物组成、结构和抛光工艺及参数等方面对石材抛光面光泽度不均匀问题进行了剖析。指出了岩石的矿物组成、结构和矿物的蚀变、风化是导致光泽度不均匀且是无法消除的内部因素;针对如何消除抛光工艺及参数对光泽度均匀性产生的影响,提出了合理的磨头进给路线和进给间距  相似文献   
53.
在消化吸收引进国外技术的基础上,研制了拉丝模高速线抛光机。利用线抛光工艺代替传统的针磨工艺对拉丝模进行修整,可以大幅度地提高设备的可靠性、修整质量和生产率,且延长模具使用寿命。本文介绍了线抛光工艺及线抛光机的结构原理。  相似文献   
54.
材料Au/nGaN在600度温度淬火后,利用电流-电压测量,XPS谱研究金Au和n型GaN半导体形成的接触势垒,电流-电压测量得到肖特基势垒平均高度和理想因子分别为1.24eV,1.03,理想因子为1.12的势垒最大高度为1.35eV,XPS数据表明:600度温度的淬火导致能带向上弯曲0.35eV,随着金的沉积在同一方向产生进一步的能带弯曲0.25eV,我们的结论可以用Cowley-Sze模型来解释,结合表明,在GaN表面有受主态密度。  相似文献   
55.
《中国科技成果》2010,11(12):17-18
我国能源危机日益严峻,而半导体照明可大大达到节电目的。半导体照明技术广泛应用于白光通用照明、装饰照明、汽车等各类运输工具照明、交通信号显示、背景显示、大屏幕、特种工作照明、军用照明及旅游、轻工产品等各个领域。业内普遍认为,如同晶体管代替电子管一样,半导体灯替代传统的白炽灯和荧光灯是大势所趋。  相似文献   
56.
采用信息熵作为去除函数驻留点随机分布的测度,基于熵增理论设计了局部随机加工路径,有效抑制磁流变抛光的中高频误差.在自研的KDMRF-1000F磁流变抛光机床上进行实验研究,局部随机路径加工区域的中高频误差明显小于光栅扫描路径加工区域.直径为98mm的平面镜,一次迭代修形(7.46min),面形误差峰谷值提高到0.0622(2=632.8nm),均方根误差提高到0.010λ,且未见明显的尖峰状中高频误差.实验结果表明,基于熵增原理设计的局部随机路径能有效地抑制磁流变加工的中高频误差.  相似文献   
57.
为提高渐开线齿轮齿根承载能力,研究了喷丸强度、喷丸覆盖率、电解抛光对齿根圆角表面完整性和齿轮弯曲疲劳极限的影响规律.依据啮合原理和APDL语言,对齿条型刀具展成的齿轮进行了参数化有限元建模,应用ANSYS/FE-SAFE软件对齿轮进行弯曲疲劳强度的仿真计算,并通过单齿弯曲疲劳试验进行了验证.结果表明:通过软件仿真的渗碳淬火齿轮弯曲疲劳极限载荷与试验结果相比偏大;对齿轮齿根进行喷丸,并非喷丸强度和喷丸覆盖率越高越好,而是存在最佳的喷丸工艺参数;对齿轮喷丸后再进行电解抛光,可以改善表面完整性,进一步提高齿轮的弯曲疲劳强度,但强化效果受初始喷丸工艺参数的影响.  相似文献   
58.
本文采用C语言作为工具对二维振动耦合的作用下磨料粒子的运动轨迹进行了初步的仿真分析,利用ANSYS软件模拟和分析了二维高频振动下的流场状态。最后通过初步实验验证了流体二维振动抛光效果的有效性。  相似文献   
59.
β辐射伏特效应同位素微电池具有体积小、工作稳定性好、寿命长、能量密度高、抗干扰性强等优点,逐渐成为微能源研究的方向.本文以半导体物理理论为基础,提出基于宽禁带半导体材料GaN和放射性同位素^147Pm的同位素微电池最优化设计方案.引入对同位素源自吸收效应的考量,通过蒙特卡罗程序MCNP模拟计算β粒子在半导体材料中的输运过程,对同位素源与半导体材料的最优化厚度,半导体材料PN结结深、耗尽区厚度、掺杂浓度,以及电子空穴对的产生及收集情况进行了研究和分析.提出的β辐射伏特效应同位素微电池最优化设计方案可实现:^147Pm单次衰变在能量转换单元中沉积的能量为28.2keV;同位素电池的短路电流密度为1.636μA/cm^2,开路电压为3.16V,能量转化率为13.4%.  相似文献   
60.
采用磁性复合流体(MCF)对BK7玻璃进行定点抛光实验,对抛光斑进行三维模型重构,并对磁场空间分布进行仿真与实验分析,阐明抛光材料去除机理,确定材料去除率、表面粗糙度及硬度随抛光时间的变化规律,建立了材料去除量与磁通密度的关系曲线。实验结果表明:抛光形成的抛光斑表面轮廓为蝶形,其沿抛光轮轴向的截面轮廓呈"W"形;材料去除量与磁场强弱及抛光时间密切相关,抛光深度去除率最高可达553 nm/min;表面粗糙度随抛光时间的增加先上升后下降,MCF抛光可获得表面粗糙度Ra6 nm的光滑表面,且粗糙度与硬度呈现一定的正相关关系。  相似文献   
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