首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   280篇
  免费   10篇
  国内免费   15篇
丛书文集   9篇
教育与普及   30篇
理论与方法论   8篇
现状及发展   2篇
综合类   256篇
  2024年   1篇
  2023年   2篇
  2022年   1篇
  2021年   5篇
  2020年   2篇
  2019年   2篇
  2018年   1篇
  2017年   1篇
  2016年   3篇
  2015年   6篇
  2014年   6篇
  2013年   7篇
  2012年   10篇
  2011年   12篇
  2010年   7篇
  2009年   9篇
  2008年   11篇
  2007年   13篇
  2006年   5篇
  2005年   6篇
  2004年   4篇
  2003年   4篇
  2002年   9篇
  2001年   6篇
  2000年   11篇
  1999年   13篇
  1998年   5篇
  1997年   17篇
  1996年   6篇
  1995年   13篇
  1994年   14篇
  1993年   11篇
  1992年   16篇
  1991年   20篇
  1990年   18篇
  1989年   15篇
  1988年   8篇
  1987年   1篇
  1986年   3篇
  1985年   1篇
排序方式: 共有305条查询结果,搜索用时 62 毫秒
41.
42.
43.
44.
本文提出了一种无任意参数的正电子与原子的关联极化相互作用势,并用之对氩原子激发阀值(11.07eV)以下的低能正电子被Ar散射的截面进行了计算,对计算结果进行的分析及与实验的比较证明了所提极化势模型的合理性。  相似文献   
45.
正电子湮没技术测得了两组驱氢后试样的多谱勒加宽参数S随驱氢温度T变化的曲线。结果表明,两组试样的S~T曲线均存在三个S极小值,三个极小值温度分别对应氢从晶界、位错和微空洞处释放,并计算得到了氢从各类缺陷处的释放激活能E_(?)。  相似文献   
46.
采用固相反应方法制备了名义成分为La0.67Sr0.33Mn1-xFexO3(0≤x≤0.20)的系列样品.通过对La0.67Sr0.33MnO3系列样品的XRD曲线、R—T曲线的测量,研究了Fe掺杂对样品磁电性质的影响.室温下利用正电子湮没技术对样品进行了研究,根据正电子寿命谱参数的变化情况讨论了掺杂样品中缺陷及电子结构的变化.实验结果显示,该系列样品可以忽略氧空位缺陷的影响,样品中位错、微空洞和晶界等缺陷的存在、铁磁与反铁磁作用的相互竞争及样品内部电子局域化所形成的极化行为等因素导致了样品性质的变化.  相似文献   
47.
迭代重建算法已成为PET的标准重建方法,其系统响应矩阵实现图像空间和投影空间之间的映射关系,是迭代重建算法的关键.面向list-mode断层重建,以优化Siddon算法为基础,实现了一种敏捷的正交距离射线追踪方法,实时计算系统响应矩阵,生成近似高斯形的LOR线,有效建模了探测器响应函数.结果表明该算法在重建精度和效率之间达到较好的平衡,满足了list-mode断层重建的需求.  相似文献   
48.
 正电子发射断层成像(PET)作为一种前沿的疾病检测技术,在神经系统疾病、癌症和心脑血管疾病等医学领域发挥着重要作用,产生了巨大经济价值。围绕PET的3大核心部件,以专利分析为切入点,对比国内外PET专利申请现状,发现中国PET核心部件存在专利申请人结构不协调、东西部研究水平存在差异、科研水平比较不足等一系列问题, PET产业结构改革势在必行。从产学研角度,对政府、社会、企业、高校和科研院所各个主体提出了若干改革措施。  相似文献   
49.
郁伟中  史航  高岚  李兴中 《科学通报》1998,43(2):158-163
用气态充氢的办法向钯中充氢 ,最大含氢量达到 0 .734(原子比 ) .通过研究正电子湮没寿命谱发现钯金属在高氢含量下 ,在充氢产生缺陷和使晶格膨胀的同时 ,样品中的H会通过Pd原子影响到正电子的湮没寿命 ,使曲线出现较复杂的变化 .  相似文献   
50.
高温超导体YBaCuO光掺杂效应的正电子寿命谱研究   总被引:6,自引:3,他引:3  
报道了YBaCuO高温超导体进行光掺杂的基本情况,提供了正电子寿命与光掺杂量之间的变化关系,讨论了光掺杂机理,并将实验结果与理论模型进行了对比.  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号