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121.
122.
相对于0-1计分,多级计分考察的认知能力水平更高,能够提供更丰富的诊断信息,同教学实践更相符,而现有研究中鲜有基于多级计分的CD-CAT.该文提出了5种新的曝光控制的选题策略,分别是BSCDI_A、BSCTTID_A、BSCDI_D、BSCTTID_D和RP_PWCDI,将这5种方法同已有的PWKL和RP_PWKL进行比较,并尝试将这7种选题策略从0-1计分拓展到多级计分.研究结果表明:不管是0-1计分还是多级计分,采用统一量纲后的综合指标进行评价时RP_PWCDI(β=0.5)表现最好,题库使用均匀性各 相似文献
123.
工业探伤常用的射线有y射线和X射线。其方法是把胶片放在通当的位置.这种射线使其感光。经暗室处理后得到底片。底片上各点的黑化程度取决于射线照射量,由于缺陷部位和完好部位的投射强度不同,底片上相应部位就会出现黑度差异. 相似文献
124.
介绍了面曝光快速成形实验系统的基本原理,构建了由运动控制卡、驱动器、精密滚珠丝杠、直线导轨等组成的升降工作台,并对其运动精度进行了测试和评定.工作台向下进给时,定位精度为10.9μm,单向重复定位精度为10.8μm;工作台向上进给时,定位精度和单向重复定位精度都为7.6μm.测试结果表明,该系统能够满足制作小尺寸零件的精度要求. 相似文献
125.
韩利昌 《东北师大学报(自然科学版)》2002,34(1):81-86
应用Logistic模型拟合彩色遥感图像的D-t曲线,是定量分析Y(黄),M(品红),C(青)分解密度与曝光时间关系的一种新方法。结果表明,Y,M,C分解密度的预测值与实测值达到了较好的吻合。决定系数RY^2=0.9825,RM^2=0.9675,RC^2=0.9943,相应的标准偏差σT=0.053,σM=0.100,σC=0.015,可以满足定量计算的精度要求。 相似文献
126.
基于一般正胶光刻工艺的剥离工艺,所需胶膜的厚度要大大超过剥离薄膜的厚度,这样在剥离线宽小、厚度大的微腔结构探测器的金属互连柱图形时就会存在光刻分辨率低、剥离难的问题.本文重点研究了基于AZ5214E光刻胶图像反转性能的剥离工艺,对图像反转光刻所特有的反转烘、掩模曝光、泛曝光工艺条件进行了详细的对比实验.结果表明:当反转烘温度为96~98℃,第一次掩模曝光时间和泛曝光时间分别为8.1 s、8.4 s时,可以得到较好的光刻图形.通过电子束蒸发Ti,成功剥离出高2.40μm、面积3.0 μm×3.0 μm的Ti微互连柱.此工艺的优点在于分辨率高,胶膜与剥离薄膜的厚度比接近1时,也能剥离出所要图形,可以用于制备MEMS微腔器件中的微互连柱. 相似文献
127.
为了实现高速运动物体的高品质实时检测,提出一种基于面阵CCD的快速曝光图像采集系统的设计方法。采用VSP01M01作为驱动芯片,在外触发模式下,在同一帧图像的读出脉冲之前进行曝光,以FPGA作为图像采集系统的控制核心,完成对快速运动图像的快速采集。实验测试表明,系统具有性能稳定、数据传输实时性强、图像品质高,快门时间最快可达10-4s,充分满足了工业现场对相机采集快门速度的要求,此系统已在以直线电机为运动载体的轴承检测中实现。 相似文献
128.
利用深蚀刻二元光学理论和技术设计并制作了用于准分子激光器曝光系统的深蚀刻二元光学均匀器。与原来使用的积分均匀器(石英棒列阵)相比,该均匀器具有重量轻,安装调控方便,光能利用率高,光束均匀性好等特点,对该器件的设计性能和参数进行了研究、分析和计算机模拟;在高精度台阶仪上对所制作的深蚀刻二元光学均匀器进行了精密检测;用深蚀刻元件制作误差理论并引入“边界误差”概念,对元件的表面浮雕检测结果进行了深入的分析,理论与实验结果符合得很好。 相似文献
129.
全息图像实验的噪声及衍射效率 总被引:1,自引:0,他引:1
全面地讨论全息噪声产生的各种来源和抑制办法。在拍摄全息时,一般总希望提高衍射效率,但应依据拍摄对象来源来选择参物比,以求得总的衍射效率和整体效果最佳。在考虑到外部环境的影响时,拍摄时间不宜过长。在一定的条件下,为了获得最佳的效果,存在着一个最佳曝光时间的问题。在电镜观察下,记录材料的分辨率不够时,干涉条纹的信息将破坏。 相似文献
130.
徐成刚 《四川师范大学学报(自然科学版)》2008,31(4)
制备了含氟光致聚合物全息材料,测定了其曝光曲线,采用曲线拟合方法,得到了材料的曝光能量常数12.0 mJ/cm2.测定了全息材料的衍射效率随记录信号的空间频率的变化曲线,并根据耦合波理论计算了材料的折射率调制度随记录信号的空间频率的变化.材料的衍射效率和折射率调制度都随所记录信号的空间频率的增加而降低,材料的最大折射率调制度达到3.33×10-3. 相似文献