首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   2296篇
  免费   86篇
  国内免费   129篇
丛书文集   148篇
教育与普及   94篇
理论与方法论   7篇
现状及发展   14篇
综合类   2248篇
  2024年   15篇
  2023年   74篇
  2022年   65篇
  2021年   87篇
  2020年   76篇
  2019年   58篇
  2018年   40篇
  2017年   41篇
  2016年   44篇
  2015年   68篇
  2014年   109篇
  2013年   99篇
  2012年   131篇
  2011年   128篇
  2010年   131篇
  2009年   172篇
  2008年   178篇
  2007年   139篇
  2006年   116篇
  2005年   102篇
  2004年   62篇
  2003年   67篇
  2002年   47篇
  2001年   68篇
  2000年   52篇
  1999年   43篇
  1998年   22篇
  1997年   47篇
  1996年   46篇
  1995年   54篇
  1994年   24篇
  1993年   19篇
  1992年   28篇
  1991年   20篇
  1990年   14篇
  1989年   7篇
  1988年   7篇
  1987年   5篇
  1986年   3篇
  1984年   1篇
  1982年   1篇
  1981年   1篇
排序方式: 共有2511条查询结果,搜索用时 13 毫秒
21.
采用掺杂和表面修饰技术制备LaFeO3乙醇气体传感器,明显地改善了传感器的特性.元件的灵敏度β≥10(当乙醇气体浓度为200×10-6时),乙醇气体和汽油的分离度α为14.3,在整个相对湿度变化范围内,元件阻值的相对变化在4%~6%之间,元件不通电存放7d,其初期恢复时间为70s,不通电贮存270d,其初期稳定时间小于3d,在使用环境中连续工作90d其阻值相对变化率小于5%.  相似文献   
22.
Na0.5Bi0.5TiO3-BaTiO3无铅压电陶瓷制备及性能   总被引:1,自引:0,他引:1  
研究了不同烧结制度下的NBBT6陶瓷的致密度、介电和压电性能.870℃左右预烧,可以得到致密且压电和介电性能较好的陶瓷(d33=107 pC/N.∈r=750,tanδ为3.23%).通过相应的粒度分析可知,提高预烧温度对粒度的影响不太大,但可用于湿法制备工艺中的原材料制备,解决湿法工艺中材料易被极性水分子解离而影响材料组分的问题.加入少量的BaTiO3到NBT中形成NBT-BT的固溶体,通过对压电介电性能及XRD的分析可知.当质量分数x=0.06时.(1-x)Na0.5Bi0.5TiO3-xBaTiO3晶体结构出现由三方相到四方相的转变,此时的性能达到最大值(d33=114 pC/N,∈r=1 173.tanδ为3.4%).  相似文献   
23.
采用基于密度泛函理论的超软赝势法(USPP)并选择GGA-PW91交换关联势对V掺杂、(VN)共掺杂和(VAl)共掺杂ZnO进行了几何结构优化及最稳定结构的电子结构和差分电子密度计算.V掺杂、(VN)共掺杂和(VAl)共掺杂不同程度地影响了ZnO晶格常数,V掺杂ZnO表现铁磁性,(VN)共掺杂对体系铁磁稳定性没有改善作用,而(VAl)共掺杂由于电子载流子在双交换机制中起到了媒介作用使基体的铁磁性更稳定.  相似文献   
24.
通过溶胶—凝胶法制备了Co掺杂ZnO稀磁半导体纳米颗粒,利用X射线衍射仪、透射电子显微镜和振动样品磁强计等测试手段对Co掺杂ZnO稀磁半导体样品进行了结构和磁性表征.结果表明,随着烧结温度的升高,样品的固溶度逐渐增加.当样品的烧结温度为800℃时,样品为单相的ZnO结构.磁性测试结果表明,Co掺杂ZnO稀磁半导体在室温下具有铁磁性.  相似文献   
25.
采用传统陶瓷制备技术制备了新型的0.95K0.47Na0.47Li0.06NbO3-0.05Ba(Zr1-xTix)O3体系无铅压电陶瓷,研究了该体系陶瓷的压电性能和微结构.研究结果表明,在1120℃、4h的烧结条件下,获得了致密性良好的陶瓷样品,并在x为0.95时性能达到最佳,其压电常数d33为133pC/N,机电耦合系数kp为0.34,机械品质因素Qm为148,介电常数εr为1138,介质损耗tanδ为0.017.  相似文献   
26.
ZnO是一种宽带隙Ⅱ~Ⅵ族半导体材料,由于其独特的性能,如高电子迁移率、广泛的激子结合能,是一种很有前途的光电器件材料;但因本征施主缺陷和施主杂质引起的自补偿效应等很难使其有效地实现n型向p型导电的转变.介绍了ZnO的p型掺杂机理、掺杂元素分类及国内外对p型ZnO研究的最新进展.  相似文献   
27.
利用射频磁控溅射结合离子注入的方法在石英玻璃衬底上成功地实现了ZnO薄膜的N-In共掺杂,借助于XRD、霍耳测试、透射谱测试等手段分析了不同退火条件下对ZnO薄膜的结构及光电性质的影响.实验结果表明,在氮气环境下,退火温度介于550~600℃,退火时间控制在5~10 min内,可以获得较稳定的P型ZnO薄膜。其中,经过580℃退火20 min的ZnO薄膜具有最佳的电学特性,即空穴浓度达到1.22×1018cm-3,迁移率为2.19cm2>V -1s-1,电阻率是2.33 Ωcm.另外,制备的ZnO薄膜在可见光范围内都有很好的透射率,其常温下的禁带宽度为3.25 eV,相对块材本征ZnO的禁带宽度略有减小.  相似文献   
28.
采用沉淀-煅烧法制备F掺杂的FHA(Ca10(PO4)6(OH)2-2xF2x,0≤x≤1)粉末.通过X线衍射(XRD)、热重分析(TG)研究反应物浓度、F掺杂量和煅烧温度等制备工艺参数对粉末的物相组成、晶格点阵参数、晶胞体积和密度以及高温热稳定性的影响.研究结果表明:当反应物F-的浓度为0.5 mol/L时,产物为纯FHA;当F-浓度增大至1.0 mol/L时,煅烧后产物中有明显的CaF2相;当热处理温度为70~1 250℃时,随温度升高,F0.75HA晶胞体积呈线性增加,密度线性减小;随F含量增加,FHA晶体中a轴点阵参数呈非线性减小;F掺杂能够提高FHA的高温热稳定性,当x≥0.5时,FHA粉末在1 250℃时不分解.  相似文献   
29.
金刚石具有的一系列优良特性使其成电极材料的重要选择之一,采用P型掺杂金刚石薄膜电极可制备具有一定应用价值的双电层电容器.本文介绍了金刚石薄膜电极电化学双层电容器的基本原理、结构和主要参数.并通过对实验制备出的电容器进行相关参数的测定,证明了以P型掺杂金刚石为电极材料的双电层电容器具有优良的特性和良好的应用前景.  相似文献   
30.
The multiferroic properties of Bi Fe O3-based ceramics were improved through optimizing their sintering method and doping with certain rare earth elements in pure Bi Fe O3. Some methods, especially liquid-phase sintering method has largely decreased the densities of oxygen vacancies and Fe2in Bi Fe O3-based ceramics, and thus their resistivity became high enough to measure the saturated polarization and the large piezoelectric d33 coefficient under the high electric field of [150 k V/cm. Besides,multiferroic properties were improved through the rare earth elements’ doping in pure Bi Fe O3. Magnetization commonly increases with the proportional increase of Nd,La, Sm and Dy contents up to *30 %, while ferroelectric phase can transform to paraelectric phase at a certain proportion. An improved magnetoelectric coupling was often observed at ferroelectric phase with a relatively large proportion. Besides, an enhanced piezoelectric coefficient is expected in Bi Fe O3-based ceramics with morphotropic phase boundaries as they are already observed in thin epitaxial Bi Fe O3 films.  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号