Superresolution measurement on the minute fluctuation of cell membrane

A wide variety of the physical properties of cell membrane reflect life-cycle processes, including me- tabolism, respiration, photosynthesis, signal transduc- tion, transmembrane transport, and so on. So it is sig- nificant to investigate the elastic prop…     

敦煌壁画数字图像的三维信息恢复

详细阐述了用数字近景摄影测量和计算机图像处理技术来恢复敦煌壁画三维信息的过程,以达到原样数字保存敦煌壁画的目的.通过建立洞窟的统一坐标系统,对洞窟壁画进行近景摄影测量,并把近景摄影测量获取的底片用高分辨率的扫描仪扫描成数字图像.然后经过坐标变换,建立每个墙面壁画的辅助空间坐标.在此基础上,经过模型定向、核线重采样、影像匹配、数字表面模型的生成,直至最后生成正射影像,恢复壁画的三维信息.从壁画图像处理的结果来看,所有控制点绝对定向的残差都在毫米级,壁画数字表面模型的中误差也在毫米级,也就是说敦煌壁画图像数据的几何纠正达到了毫米级.这表明用近景摄影测量和计算机图像处理技术可以很精确地恢复敦煌壁画的三维空间信息,从而达到保护和永久地数字化存贮敦煌壁画、塑像文物的目的.同时也为我们提供了一种文物保护的新方法和新思路,为古代珍贵文物的保护、复原与研究提供了新的手段.     

用VB6.0建立液体表面张力系数实验数据处理程序

利用VisualBasic6．0编制了“拉脱法测液体表面张力系数”的实验数据处理程序，该程序计算方便、快捷、准确，有利于节省学生处理实验数据的时间，提高了实验效率．     

锥管螺纹基面中径测量不确定度的评定

分析了圆锥外螺纹基面中径的测量不确定度的各种评定方法，在此基础上论述了基面中径测量不确定度的来源、测量方法及计算公式，最后通过实验数据，对基面中径的测量不确定度的评定方法进行了实例分析。结果表明，该评定方法既具有理论意义又具有实际意义。     

玻璃瓶垂直度无接触测量及其误差分析

对玻璃瓶垂直度的检测是利用计算机视觉的方法，通过两台摄像机从相互垂直的方向同时获取玻璃瓶的一幅图像，采用计算机图像处理技术的双目视觉测量方法，较精确地求出了玻璃瓶垂直度的偏差．文中主要阐述了如何进行摄像机定标及玻璃瓶垂直度偏差测量计算原理，并在此基础上较为系统地分析了主要测量误差的产生原因及对检测精度的影响．     

应用虚拟仪器软件实现单片机与微机的通讯

利用先进的虚拟仪器软件，实现微机与单片机之间的通讯，利用PC计算机显示功能模拟传统仪器的控制面板，用图形化G语言代替传统的编程方法，简化了软件的工作量，是一种具有实用价值的应用系统。它的核心就是“用软件代替硬件”，可以节省大量的用于购买硬件的资金，具有很高性能价格比，而且具有推广价值。也体现了测试技术与计算机更深层次的结合，在工程应用和社会经济效益方面具有优势。     

基于PLS模型的自适应间歇过程质量预测

间歇生产过程中,很多质量指标不能在线测量,导致过程很难控制。该文应用部分最小二乘(PLS)方法建立软测量模型,通过批次初期在线测量的过程变量对最后的产品质量进行预测。同时,利用过程中得到的中间质量测量值对最后的预测结果进行修正。为了解决过程参数随时间变化的问题,在每个批次结束后利用新数据对原模型进行更新。将该法用于异丁烯酸甲酯(MMA)聚合反应过程,仿真结果显示,该法能够克服过程参数变化的影响,有效地预测最后的产品质量。     

应用时域相位解包方法的三维形貌测量系统

为了解决投影法三维形貌测量中测量点误差受相邻点影响的问题,投射计算机按照所需频率和相位生成的正弦条纹,利用时域相位解包算法实现每个测量点的独立计算。为了降低测量复杂形貌时因栅距变化产生的误差,发展了虚参考平面法。列举了在真人头面部和鼠标测量中的应用。实验结果表明,在进行复杂形貌三维测量时,采用时域相位解包方法可以抑制误差的扩散,不受不连续区域的影响。整个测量过程可在5s之内完成,测量平面时精度可达0.78%。     

基于组态软件的变电所微机监控系统

为解决目前中小变电所监控系统实时性差、误差大，不利于联网调度的缺点和不足，文提出一种在组态软件开发平台下的实时数据采集及调度自动化系统。利用工控机、智能模块，485总线及设备构成硬件系统，应用公共电话交换网实现变电所与远方调度的互联，利用工业组态软件开发软件控制系统，设计并实现了变电所微机监控集散控制系统功能。     

不同衬底生长ZnO薄膜的结构与发光特性研究

采用射频磁控溅射方法分别在蓝宝石(Al2O3)(0001)和硅(100)衬底上制备ZnO薄膜．通过X-光衍射测量与分析表明两者都沿C轴方向生长，在Al2O3衬底上的ZnO薄膜结晶质量优于在Si衬底上的薄膜样品．然而，由原子力显微镜观测发现在Al2O3衬底上的薄膜晶粒呈不规则形状，且有孔洞，致密性较差；而在Si衬底上的ZnO薄膜表面呈较规则的三维晶柱，致密性好．光致发光测量表明，不同衬底上生长的ZnO薄膜表现出明显不同的发光行为．