胍基化壳聚糖季铵盐的制备及其抗菌性能

以三聚氯氰(TCT)为中间桥梁,将聚六亚甲基双胍(PHMB)接枝到N-(2-羟丙基-3-甲基氯化铵)壳聚糖(HTCC)上,制备胍基壳聚糖季铵盐(HCP).研究制备HCP的最佳反应条件,采用元素分析、傅里叶变换红外光谱(FTIR)和核磁共振氢谱(¹H NMR)对产物的结构进行表征,并测试其抗菌性能.得到HCP的最佳反应条件为HTCC和TCT的摩尔比1.0∶2.5,HTCC和PHMB的质量比1.0∶1.2,缚酸剂为三乙胺,TCT一取代的反应时间8 h,二取代的反应时间14 h,反应温度40℃.结果表明：制得的HCP对大肠杆菌(E.coli)和金黄色葡萄球菌(S.aureus)的最低抑菌质量浓度分别为0.020,0.005 mg·mL^-1;质量浓度为1.0 mg·mL^-1的HCP对E.coli和S.aureus的抑菌率分别为89.8%和100.0%,高于相同质量浓度下HTCC对E.coli和S.aureus的抑菌率18.2%和18.7%.     

双点源干扰诱偏被动雷达导引头性能分析

以经典的双点源干扰模型为基础,简要说明了在双点源干扰下导引头的静态跟踪误差。在此基础上,研究了动态下的攻防对抗,建立了数学模型并仿真,得出了攻击误差。仿真分析了双干扰源功率变化时导弹的攻击轨迹和误差,以及功率不相等时干扰源间距和天线波束宽度对诱骗效果的影响。仿真结果表明:只要参数合适,非相干双点源干扰可以很好的诱骗导引头,达到保护目标的目的。     

Cr^3＋在AgX（X=Cl,Br）四角晶位中的零场分裂和g因子

用双自旋－轨道耦合模型研究了Ｃｒ３＋在ＡｇＸ（Ｘ＝Ｃｌ,Ｂｒ）四角晶位中的零场分裂Ｄ和ｇ因子．研究表明,中心金属离子和配体（Ｃｌ,Ｂｒ）对络合物ＥＰＲ参量的贡献都应考虑．     

钴络合物催化双羰化氯苄合成苯丙酮酸

α－酮酸是合成α－氨基酸和α－羟基酸的中间体．在Ｃｏ２（ＣＯ）８或Ｃｏ２（ＣＯ）８－Ｃｏ（ＰＰｈ３）ｍＸｎ催化下,苄基卤经双羰化合成苯丙酮酸,并初步研究了其反应机理．     

含双二苯基膦戊烷铜(Ⅰ)配合物的合成与性质

室温,氮气氛下,铜（Ⅱ）盐和双二苯基膦戊烷（ｄｐｐｐ５）在溶液中通过还原取代反应合成了８种铜（Ⅰ）配合物（１．［Ｃｕ（ｄｐｐｐ５）］２（ＢＦ４）２,２．［Ｃｕ２（ｄｐｐｐ５）２（Ｃ８Ｈ３Ｏ２ＳＦ３）２］,３．［Ｃｕ２（ｄｐｐｐ５）３］（ＣＣｌ３ＣＯＯ）２,４．［ＣｕＢｒ（ｄｐｐｐ５）］２,５．［Ｃｕ２（ｄｐｐｐ５）Ｃｌ２］,６．［Ｃｕ２（ｄｐｐｐ５）３］（ＣＨ３ＣＯＯ）２,７．［Ｃｕ（ｄｐｐｐ５）（ＮＯ３）］,８．［Ｃｕ２（ｄｐｐｐ５）３］（ＣｌＯ４）２）。通过元素分析、红外光谱、热重、摩尔电导测定对其进行表征,表明这是一种行之有效的有机膦配合物的合成方法。     

北京蹄盖蕨属孢子形态的研究

本文利用扫描电子显微镜辅以光学显微镜的方法,详细观察并描述了北京蹄盖蕨科蹄盖蕨属５种即东北蹄盖蕨（Ａｔｈｙｒｉｕｍｂｒｅｖｉｆｒｏｎｓ）,河北蹄盖蕨（Ａ．ｈｅｂｅｉｅｎｓｅ）,中华蹄盖蕨（Ａ．ｓｉｎｅｎｓｅ）,多齿蹄盖蕨（Ａ．ｍｕｌｔｉｄｅｎｔａｔｕｍ）,华北蹄盖蕨（Ａ．ｐａｃｈｙｐｈｌｅｂｉｕｍ）孢子的形态结构,讨论了各种间的差异,为蹄盖蕨科系统分类提供孢粉学方面的依据。     

多路数据动态扫描显示电路

多路数据显示,可分为静态显示和动态显示两种,静态显示稳定可靠,但电路复杂,尤其是当被显示的数据路数越多时,制造成本也越高,这～矛盾非常突出,动态显示方式由于可以公用泽码驱动电路,所以显示器件可以并联相接,不仅节省器件,而且简化方便了电路布局,在多路显示方面有比较明显的优势,图（1）为四路数据的动态显示电路．图中,F;,F。为双四选一数据选择器,构成一个四选一四位数据选择器,每个四选一数据选择器,选出四位数据中的一位．P。为七段译码驱动器,接受被数据选择器选中的四位数据进行详码,去驱动四个并联的七段…     

核酸分析中的新突破双-嵌入剂荧光探针

近年来兴起的双－嵌入剂是一类安全、方便、高灵敏度、低背景的理想核酸探针,当使用激光激发的共焦荧光扫描仪检测时,对核酸的分析可达ｐｇ级,赶上甚至超过了放射性同位素标记物．本文对双－嵌入剂荧光核酸探针的结构、性质、应用及发展展望几方面进行了综述．     

新型杀虫剂的热稳定性和降解机理的研究

研究一种新型系列杀虫剂的热稳定性和热降解机理。     

多晶3C-SiC薄层的淀积生长及结构性能分析

采用ＨＦＣＶＤ生长法,以较低生长温度,在Ｓｉ（１１１）衬底上淀积３Ｃ－ＳｉＣ（１１１）薄层。用ＸＲＤ、ＶＡＳＥ、ＸＰＳ等分析手段研究了薄层的结构、光学常数、组分及化学键等性能。ＸＲＤ显示薄层具有明显的择优取向特征。ＶＡＳＥ测量出薄层的折射率为２．６８６,光学常数随深度的变化曲线反映出薄层的多层结构。ＸＰＳ深度剖面曲线表明薄层中Ｓｉ／Ｃ原子比符合ＳｉＣ的理想化学计量比,其能谱证明Ｃ１ｓ与Ｓｉ２ｐ成键形成具有闪锌矿结构的３Ｃ－ＳｉＣ。