Al掺杂ZnO光学性能的第一性原理研究

本文用平面波赝势方法(PWP)计算了Al掺杂ZnO前后的光学特性,即介电函数虚部2ε(ω)并从能带结构和态密度图上解释了为什么掺Al后ZnO的光学谱在3.045、7.158、10.066、11.386和13.649eV处的峰消失了,在1.835、4.329、5.460、6.592、10.668和12.024eV处的峰值减小了,而在8.100和8.855eV处的峰值增大了的原因,并从光谱图上分析得出,掺杂后的ZnO要发生蓝移现象。     

磁旋光成像地球磁场测量方法

提出了磁旋光成像地球磁场测量方法.利用地球表面反射的太阳光的偏振特性以及地球大气层的磁致旋光效应,可在卫星上利用光学系统对地球磁场进行探测.从原理上讲,这一方法具有三维成像能力,可直接获取地球磁场的空间结构图样,其测量速度很高,可在很短时间内完成全球测量任务,同时其测量无盲点,无畸变.文中介绍了这一地磁场测量方法的原理,并对其中的关键问题进行了讨论.     

AlN薄膜的椭圆偏振光谱模型研究

采用椭圆偏振光谱对MOCVD生长的AlN薄膜在波长430~850 nm的光学参数进行了测量.通过建立不同的物理和色散模型,分别考察了薄膜表面和界面的椭偏效应.拟合结果表明,AlN薄膜的物理模型在引入表面层后,两类色散模型拟合的数据均与椭偏光谱实验数据吻合得很好.进一步考虑界面层所拟合的结果显示,界面层对Lorentz色散模型的影响较小,并且,其拟合所得AlN薄膜厚度与扫描电镜所测厚度一致,因此,认为仅含表面层的Lorentz色散模型更简单实用.     

GaN薄膜光学常数的椭圆偏振光谱研究

采用椭圆偏振光谱法,在1.5~6.5 eV光谱范围研究了纤锌矿结构GaN外延薄膜.通过物理模型建立和光谱拟合得到了GaN外延薄膜的厚度和光学常数.所得厚度值与扫描电子显微镜测量的结果相差仅为0.4%.表明所采用的模型和Cauchy吸收色散表式适用于GaN薄膜.进一步采用四相逐点拟合算法得到更全面更准确的GaN薄膜光学常数.     

能够实现芯区均匀场的几种三层平板波导结构

通过对非线性包层三层平板波导典型实例的理论研究和数值计算，发现存在5种波导结构，当光功率合适时，芯区场能够实现均匀分布，此时包层场分布呈指数衰减. 分别给出5种结构的场分布曲线. 波导芯区中存在均匀场分布，对于波导、光电子及光子器件具有潜在的应用前景.     

近场光学高密度存储研究进展

鉴于高存储容量和高传输率在未来数据存储方面的重要性 ,近场光学存储作为一种新的高密度存储手段 ,近年来受到很多关注 .近场光学存储主要有三种方案 :固体浸液透镜方案、探针型方案以及超分辨率的近场结构 .本文对这三种方案的实现方法以及最新的进展作了较详细的阐述 .     

用于增强现实的平视显示器的设计

用于增强现实的平视显示器作为航空飞行器的主显仪表,较好地解决了飞行员不能同时观察飞行参数和外界环境的矛盾.本文论述了用于增强现实的平视显示器的设计思想和显示器部分的设计方法.     

822e型DSC测定纯度的影响因素

研究了梅特勒－托利多822^e型差式扫描量热仪用于纯度测定的影响因素，分别对扫描速率，样品重量，热阻R0，坩锅种类，装样与扫描技术等5个影响因素进行了讨论。结果表明，扫描速率，热阻R0，装样与扫描技术3个因素对纯度测定结果影响较大，而样品质量和坩埚种类则对纯度测定影响较小。     

光学CT技术的研究进展

介绍了光学CT技术发展的历史和现状，重点讨论了当前普通采用的重建算法的原理及公式，指出了影响图像重建精度的关键因素，在此基础上，预测了光学CT技术的未来发展趋势。     

光学超晶格的多波长倍频实验研究

介绍了在同一块非周期结构的LiTaO3光学超晶格中，直接对皮秒掺钛蓝宝石泵浦的多波长参量激光器输出的脉冲激光倍频，实现了从可见光到红外光的倍频激光输出，其最大光－光转换效率达到90％。