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161.
采用固相反应法制备了(Ba0.85 Sr0.15)(Ti1-xZrx)O3(x=0.10,0.15,0.20,0.25)陶瓷.通过X射线粉末衍射、介电温谱测试和电子顺磁共振技术对其进行了结构表征、介电性能评价和杂质定性检测.结果表明:(Ba0.85 Sr0.15)(Ti1-xZrx)O3陶瓷显示平均立方钙钛矿结构,随着...  相似文献   
162.
以聚乙二醇(PEG)为模板剂、正硅酸乙酯(TEOS)为硅源,采用溶胶-凝胶法合成了铜掺杂介孔硅铝氧化物复合材料,并通过N2等温吸附-脱附法、X射线衍射、红外光谱等测试对产物进行表征,考察了PEG质量、分子量以及CuO掺杂量对复合材料孔结构的影响.结果表明:加入PEG能够明显增加复合材料的比表面积,随PEG质量增大,介孔孔容增多,孔径分布较均匀,加入24 g PEG时比表面积增加一倍达到约500 m2.g-1.PEG的分子量为600~2 000时样品以4 nm介孔为主,而分子量为10 000时,样品以小于2 nm的微孔为主.  相似文献   
163.
采用传统陶瓷工艺制备了(Bi0.94(Na0.94-xLix))0.5Ba0.06TiO3(缩写为BNBT6 - xL)无铅压电陶瓷.研究了Li+取代A位Na+后,(Bi0.5Na0.5)0.94Ba0.06TiO3(缩写为BNBT6)陶瓷的物性变化.x在0.01 ~0.11之间变化,BNBT6陶瓷三方-四方共存的晶体...  相似文献   
164.
在实际爆破工艺中,钻孔、装药等工序是联系相当紧密的,降低炸药单耗是生产中比较直接、显见效果的一项技术经济指标.如果单纯从炸药单耗和爆破块度之间予以研究,则不会达到预期的效果,有时二者甚至会产生矛盾,如何使它们均达到预期的指标,应进行综合研究,需要进一步在技术上有所创新和理论上的深层次研究.于是针对这一系列问题,经过深入的理论分析、论证,提出了宽孔距小抵抗线微差爆破的技术.  相似文献   
165.
在实际爆破工艺中,钻孔、装药等工序是联系相当紧密的,降低炸药单耗是生产中比较直接、显见效果的一项技术经济指标。如果单纯从炸药单耗和爆破块度之间予以研究,则不会达到预期的效果,有时二者甚至会产生矛盾,如何使它们均达到预期的指标,应进行综合研究,需要进一步在技术上有所创新和理论上的深层次研究。于是针对这一系列问题,经过深入的理论分析、论证,提出了宽孔距小抵抗线微差爆破的技术。  相似文献   
166.
二步法合成笼状大孔/介孔三维有序Cs2O-Sb2O5/SiO2   总被引:1,自引:0,他引:1  
以聚氯乙烯(PS)胶晶束为模板,正硅酸乙酯(TEOS)为硅源,采用原位溶胶凝胶-水热法负载活性组分Cs20-Sb2O5,制备出具有笼状大孔的介孔Cs2O-Sb2O5/SiO2材料.用透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)、物理吸附与化学吸附(N2-TPD、CO2-TPD和NH3-TPD)以及X衍射(XRD)等手段对样品...  相似文献   
167.
竹叶中黄酮提取纯化工艺研究   总被引:12,自引:3,他引:9  
采用正交试验的方法对竹叶中黄酮的乙醇提取条件进行了系统研究,同时采用大孔吸附树脂吸附法对纯化条件进行了研究.结果表明:以30倍体积80%的乙醇水溶液在80℃水浴中浸提3 h为最佳,4种大孔吸附树脂中AB-8树脂为纯化的最适树脂.  相似文献   
168.
采用溶胶-凝胶法制备CaCu3Ti4O12(CCTO)陶瓷粉体,研究煅烧后CCTO前驱体晶相对烧结成型后的陶瓷介电性能的影响.通过控制煅烧温度(450℃,500℃,550℃,600℃)来控制粉体物相,最后用1 050℃进行烧结.结果表明,在低温下煅烧的粉体经过高温烧结也可以得到纯CCTO晶相.在未形成CCTO晶相下烧结...  相似文献   
169.
在实际飞行工况下,热力载荷会改变高速飞行器天线罩原有的电磁特性,从而影响制导性能。提出了一种基于六面体网格划分的热-力-电耦合模型及仿真方法,可准确表征高速飞行工况下天线罩介电温漂和结构变形对电性能的影响。基于天线罩热-力-电共享网格模型,首先通过瞬态热仿真得到天线罩响应温度场,通过静力分析得到天线罩结构变形场。然后,将天线罩介电温漂和结构变形准确传递到其电磁仿真模型中,并采用三维射线跟踪法计算其电性能。最后通过一个典型算例对高速飞行工况下天线罩电性能的变化进行仿真和分析,结果表明电性能变化非常明显,也进一步说明了所提方法的可行性和研究的必要性。  相似文献   
170.
介观金属环中量子干涉晶体管对电子相干性的影响   总被引:3,自引:3,他引:0  
研究了介观金属环1个通道上的量子干涉晶体管的栅极电压及其在通道上的位置对电子相干性的影响。理论结果表明,一般情况下改变栅极长度L6(下通道长度L2)会使透射率以π(2π)周期性变化。同时发现栅极在通道上的位置对透射率的周期性不产生影响,仅改变透射率的大小。但当kL6=nπ时,透射率为kL2的函数,周期为π;当kL6=(2n+1)2π时,量子干涉晶体管的位置不影响电子透射率的相干性;当上、下通道长度相等,且kL2=kL=nπ时,透射率恒为1,与栅极长度及其在通道上的位置无关。  相似文献   
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