不同壁材辣素微胶囊的化学法制备与性质研究Ⅰ:表面结构分析

在乳液体系中,选择蜜胺甲醛、尿醛、聚脲、聚氨基甲酸酯四种壁材,以原位聚合法和界面聚合法制备了辣素同系物--N-香草基壬酰胺微胶囊.电镜与红外光谱显示了微胶囊的形成.以X射线衍射、光电子能谱和比表面分析探索了徽胶囊的表面性质,根据微胶囊的外观和囊壁结晶状态,囊壁可分为有规则结晶状态的无孔膜和无明显结晶峰的有孔膜两类,其表面碳原子的化学位移类似碳单质sp3杂化态的构型,是导致各类壁材出现不同程度结晶区的重要原因.微胶囊颗粒间无明显孔分布、符合紧密堆积方式和Langumire解析式.     

制备微胶囊时界面张力的影响

主要探讨在制备微胶囊时囊心、壁材、介质、界面张力大小及固体界面吸附关系 ,对囊心包覆效果的影响 .     

“新中大”：扬帆远航创辉煌

1995年楼昕“误打误撞”选择了软件业，进入杭州新中大软件研究所(即杭州新中大软件股份有限公司的前身)。新中大软件股份有限公司(以下简称新中大)创立于1993年．是目前中国最大的最具竞争力的企业管理软件开发商、供应商及电子商务时代解决方案供应商．是中国软件产业的杰出代表和领导厂商之一。自成立以来．公司先后与中国轻     

不同药液浸泡树棒培养蜜环菌材试验

本文对六种不同药液浸泡树棒培养密环菌菌材进行了研究，结果表明：0．5ppm三十烷醇加300ppm单宁酸的混合液浸泡树棒，培养蜜环菌，其接菌率高、菌生长势好，明显优于沿用已久的0．25％硝酸接溶液浸泡树棒培养密菌菌材的方法。     

电子束熔化成形与锻造Ti6Al4V合金的腐蚀行为对比研究

本工作采用电化学工作站研究了电子束熔化技术（EBM）成形TC4样品和传统锻造TC4在3.5wt% NaCl溶液中的电化学腐蚀行为. 结果表明EBM成形TC4样品的非平衡微观结构使其与传统锻造的TC4相比,表现出不同的耐腐蚀性. EBM成形TC4样品与锻件TC4相比,EBM成形样品不同平面存在耐蚀性差异,而且EBM水平面大于锻件,EBM垂直面小于锻件. EBM成形TC4样品垂直面出现的腐蚀性能的各向异性主要是β柱状晶导致的. 在腐蚀的过程中,点蚀优先发生在α晶界,因为晶界能量较高,形成多孔的钝化层. 本项工作有助于丰富增材制造制备TC4合金在航空钛合金领域的腐蚀性能研究.     

覆冰地区分裂与扩径导线表面电场特性

输电线路覆冰对电力系统安全运行具有严重威胁,目前已经发展了多种防冰除冰方法,但每种方法都有其局限性,对于一些具有微气象、微地形特征的重覆冰地区尚未有较好的解决方法。文中考虑到扩径导线的特点和分裂导线输电线路的局限性,根据波阻抗和自然功率将分裂导线等效为单导线,并考虑电流的集肤效应,得到了等效的单根扩径导线,进而分析比较覆冰地区的分裂导线及其等效的单根扩径导线的表面电场特性。研究表明：等效前后导线截面面积相同且波阻抗一致时,扩径导线与分裂导线相比,不仅显著降低了子导线根数和输电线路的覆冰荷载,而且在扩径导线的半径等于分裂导线的等效单导线半径时,扩径导线的表面最大电场强度小于分裂导线。因此,在严重覆冰地区,采用分裂导线等效半径的扩径导线具有非常好的表面电场特性,且可显著降低冰风荷载,提高抗冰强度。     

超低空目标的广义布儒斯特效应

超低空预警是当今研究的热点,而多径干扰是影响超低空目标探测的主要因素。针对多径干扰的问题,从电磁散射的角度出发,提出"广义布儒斯特效应",以降低多径干扰的影响。运用小面元高频近似方法(PO+MEC)快速计算目标散射场并生成回波信号;在物理光学法的基础上推导了复反射系数公式;根据"四路径"建立多径回波信号模型。以此为基础,研究了多径信号的广义布儒斯特效应的产生机理,找出多径干扰最小的入射角,并研究其存在的条件。通过改变环境类型及相关参数和入射频率,得出广义布儒斯特效应的内在规律,为超低空对抗打下基础。     

稳定非线性动力系统周期的计算机分析

提出采用后继函数法来确定非线性动力系统的周期,并编制计算机程序对Ｖａｎ ｄｅｒ Ｐｏｌ方程实例计算周期和绘制相图,结果表明,该方法计算结果准确且实用性强,本方法不但适合于求解保守系统和具 周期解非线性动力系统的周期,也适合于耗散系统和不稳定系统的分析。     

Bi系高温超导带材冷压工艺优化试验

采用套管法（ＰＥＴ）制备Ｂｉ系高温超导带材,进行了冷压工艺的优化研究。试验结果表明,Ｂｉ系带材所能承受的压力有一个限值,若超过这个限值后,密度虽可提高,但晶粒破碎严重Ｊｃ值反而降低,带材优化的冷压工艺参数是８３８℃／６０ｈ＋冷压＋８３８℃／６０ｈ。第１次压力为２ＧＰａ,第２次２．５ＧＰａ;冷压压下速率为１．５×１０＾－４ｍｍ／ｓ。同时研究还表明冷压的主要作用是提高带材的致密度和晶粒取向度,最终改善     

M-ary 正交调制 DS/CDMA 在衰落信道中的性能分析

讨论了Ｍ－ａｒｙ正交调制ＤＳ／ＣＤＭＡ系统在瑞利及莱斯衰落下的误码性能。采用理论分析的方法,推导出了在瑞利及莱斯衰落下ＤＳ／ＣＤＭＡ系统误码率的闭式表达,理论分析与数值积分结果相符。对于实际信道功率时延曲线为指数衰减的情况,讨论了不同指数衰减率对系统性能的影响,并就分集接收方案及不同系统参数的影响也作了分析。结果表明随着指数衰减率的增加和莱斯参数的减小,误码逐渐增大;而随着分集的加入,系统误码性能可大大改善。