膜厚对NiO／NiFe／Cu／NiFe磁阻效应的影响

用射频磁控溅射方法制备多层膜，研究了双层膜ＮｉＯ／ＮｉＦｅ的矫顽力ＨＣ和交换耦合场Ｈｅｘ与反铁磁层ＮｉＯ，铁磁层ＮｉＦｅ厚度的关系。结果表明：ＮｉＯ厚度为７０ｎｍ时，Ｈｅｘ最大；Ｈｃ随ＮｉＯ厚度增大而增大。当ＮｉＦｅ厚度增加时，Ｈｅｘ近似线性减小；而Ｈｃ则随ＮｉＦｅ厚度增大开始有缓慢增加，然后才减小。     

冷轧带材前张力分布及板形与横向厚差关系的研究

本文以现场实测前张力分布为依据，考虑了前张力对板形的影响，建立起板形与横向厚差的关系．定量地解决了前张力分布对板形的影响，对于提高板形控制的计算精度很有实际意义     

AGC－AFC综合系统解耦控制

分析了板材轧制控制过程，给出了板厚板形综合系统（ＡＧＣ－ＡＦＣ）反馈闭环控制的数学模型；对ＡＧＣ－ＡＦＣ系统进行了解耦；引进Ｓｍｉｔｈ预估器补偿系统延迟环节的影响；最后采用ＰＩＤ方法实现对ＡＧＣ—ＡＦＣ系统的控制。仿真实验结果显示了上述方法的有效性。     

用衍射积分法讨论厚介质的象场分布

本文用Fresnel—Kirchhoff衍射积分理论推导出了厚介质的象场分布,论述了厚全息图的成象规律及厚全息图中存储的多重象在再现时对波长和衍射角度的选择性。     

厚圆柱壳的非轴对称自由振动

对厚圆柱壳的非轴对称自由振动进行了分析。其中除了包含通常的薄膜和弯曲效应外，还反映了转动惯性，横向剪切变形和横向挤压的影响，文中给出了固有频率的数值结果，并对由理论和改进理论所预示的结果进行了比较。     

脂润滑滚动轴承EHD膜厚的计算简式

本文导出了适用于计算各类滚动轴承脂润滑弹流膜厚的公式。计算中不需要轴承的细部尺寸,计算简便,精度较高。理论计算与实验结果十分接近。文中对若干影响膜厚的因素进行了讨论并给出了计算实例。     

霍耳测量中的新效应

用霍耳效应法测量磁场，观察到了一种新效应，即当霍耳电极不恰好处在同一等位线上时，磁阻效应对不等位电压也有贡献，从而影响到磁场测量的准确度。提出了一种克服这一困难的新方法．     

球坑仪测厚初探

本文用椭球方程对球坑仪测厚的计算公式 d=D~2/8R 进行了修正.修正后的公式与实验结果符合很好.     

微胶囊膜厚的测定及其对释放速率的影响

膜厚是微胶囊重要性能之一,直接影响芯料释放速率,较为难测。本文提出一种测定膜厚的新方法——光学显微镜二次聚焦法,即用光学显微镜二次聚焦直接测出微胶囊内、外径而得膜厚。计算发现微胶囊等光程曲线连续而不光滑(即有拐点),从光学原理上证明此法可行;观察二次聚焦的光学显微图象,发现存在贝克线、从实验结果上间接证明此法可行;此法测定的膜厚与经典法测定的膜厚相比,结果基本一致,证实此法准确。在上述理论基础上,采用相分离法制备一系列不同工艺的微胶囊,分别测出膜厚及芯料释放速率,从而揭示微胶囊膜厚对芯料释放速率的影响规律。     

具初始缺陷的反对称叠层铺设圆柱厚壳的大幅值振动

本文扩展了唐纳尔壳体理论，应用于包括横向剪切变形的具初始缺陷及混合边界条件的反对称角铺设圆柱厚壳的分析，给出了广义双富里衰级数表示的无限尼自由振动下的多模态解，其中与时间相关的系数由谐波平衡法确定，计算了不同参数下叠层圆柱厚壳的非线性自由振动基频，且有关文献进行了比较。