轻松一刻——填空补白

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扫描隧道显微镜针尖的电化学腐蚀制备方法

本文利用电化学腐蚀方法设计并搭建了一种扫描隧道显微镜（ＳＴＭ）针尖制备的直流腐蚀电路。电路中使用了９０１３三极管和ＬＭ３１１快速比较器，使电解池切断时间低于５００ｎｓ。成功地制备了质量较高的钨针类。     

基于纤维弯曲伸长模式的Ｚ向钢针针尖形态优化

分析了整体穿刺过程中纤维弯曲伸长机理，建立了钢针的力学模型，分别讨论了作用在针尖上的最大弯曲正应力、最大剪切应力以及穿刺阻力与针尖半径和针尖长度之间的关系，然后根据获得的结果对钢针针尖的形状进行了优化。     

导电原子力显微镜在介质薄膜电流图像检测中产生的假像

对导电原子力显微镜在介质层电流图像检测中存在的假像进行了研究。发现这种假像归因于导电探针针尖较大的直径,其大小与被检测样品表面的缺陷点、漏洞、沟穴大小相关。研究表明,为提高图像分辨率,避免检测过程中存在的假像,需要使用具有纳米直径针尖的超尖导电探针。     

负离子原子探针中负离子的飞行轨迹

本基于双曲面形样品针尖，计算了负离子原子探针中负离子的飞行轨迹，结果表明，虽然负离子的飞行轨迹与样品针尖形状、针尖到荧光屏的距离、正偏压、负脉冲、负离子的质荷比等因素有关，但除样品针尖附近外，在外针尖到荧光屏的整个区域内，负离子的飞行轨迹近似为线性，并且比同一系统正场蒸发时正离子的飞行迹略向荧光屏边缘偏离。     

整体穿刺机织布顶弯模式下的钢针针尖形态优化

整体穿刺是一种制造纤维立体织物的工艺技术.穿刺过程中钢针针尖与碳布之间产生顶压、摩擦作用,碳布损伤和针尖破坏是影响穿刺织物质量的主要因素.为选择合理的钢针结构形态,建立了机织布顶弯模式下钢针针尖的力学模型,提出了针尖压弯微分方程和边界条件,得出了不同曲线形状针尖临界压力的方程,并用MathCAD软件求出了临界压力的数值解,为确定合理的针尖形态提供了理论依据.     

多针对板电晕放电中针尖半径对伏-安特性影响

研究了多针对板电晕放电中针尖半径a变化时放电电流I和外加电压V的关系.实验得到,当a在0.3 mm到1.0 mm之间时,对I的变化影响不大;在a变小过程中,I值略有增加;当a小于0.1 mm时,I值有明显的提高,前期研究中近似得到的伏-安关系式I=CV(V-Vs)中C反比于dln(2d/a),这同实验结果矛盾.分析指出伏-安关系式中Vs引入不正确,以阈值场强Ec处电压Vc代替Vs,修正伏-安关系式,最终得到实验和分析一致的结果,并解释了多针对板放电中a对伏-安特性的影响.     

使用碳纳米管AFM针尖的蛋白质高分辨率成像

原子力显微镜(AFM)是分析生物分子结构的有效手段,而目前使用的探针针尖的性质限制了高分辨率图像的获得。该文将碳纳米管安装到原子力显微镜的传统针尖上,制作出碳纳米管针尖以解决这个问题。运用碳纳米管针尖在大气常温条件下获得了由3个单元组成的小鼠抗体IgG蛋白质的Y形结构,并且分子的尺寸与X射线晶体衍射的结果非常接近,这种效果用传统针尖是无法获得的。获得的蛋白质分子超微结构的高分辨率图像为研究蛋白质分子功能提供了有价值的信息。     

磁力显微镜中镍针尖的制备

讨论了磁力显微镜中的镍针尖的制备技术；并通过改进以往采用直流电化学腐蚀方法制备针尖的电路，可以在金属丝被腐蚀断裂瞬间获得更短的腐蚀电流切断时间，当腐针电路切断时间减少到200ns时，可重复获得半径优于10nm的镍针尖。     

时问与温度对纳米光纤针尖腐蚀影响的研究

为增大纳米光纤针尖的锥角（即透过率）,通过实验研究了腐蚀时间与温度对光纤针尖锥角、直径及表面的影响,结果表明,光纤针尖的腐蚀是非自动截止的,针尖的锥角和直径随着腐蚀时间的增加而增大,提高温度可改善针尖表面,通过选取腐蚀时间与温度可以制作不同的纳米光纤针尖。