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1.
EBIC测定GaP的少子扩散长度和表面复合速度
李永良
杨锡震
周艳
王亚非
《北京师范大学学报(自然科学版)》
2001,2(1):62-65
应用扫描电子显微镜(SEM)对GaP半导体材料的p-n结进行线扫描,得出电子束感生电流(EBIC)的线扫描曲线,给出一简单模型,对GaP样品n区的EBIC线型进行计算,拟合实验曲线,得出少子扩散长度和表面复合速度。
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