TiO2过渡层对BiFeO3薄膜微结构和铁电磁性质的影响

研究了TiO2过渡层对BiFeO3薄膜微结构和铁电磁性质的影响.采用溶胶-凝胶法分别在Si（100）和Pt（111）/Ti/SiO2/Si（100）衬底上制备了BiFeO3薄膜.通过加入约10 nm厚度的TiO2过渡层,在两种衬底上均制备出了纯相BiFeO3薄膜,而未加过渡层的薄膜均有杂相存在.与未加TiO2过渡层相比较,BiFeO3/TiO2薄膜表面颗粒大小更加均匀、致密、平整.在室温10kHz下沉积在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上的薄膜的损耗从0.094下降到0.028;而薄膜的介电常数变化不大,分别为177和161.在室温下同时测得了薄膜的电滞回线和磁滞回线.BiFeO3/TiO2薄膜的饱和磁化强度为16.8 emu/cm3,在600kV/cm电场下,剩余极化强度为9.8μC/cm2.研究表明,TiO2过渡层能够有效地抑制Bi FeO3薄膜杂相的生成,提高薄膜的表面平整度以及耐压性.     

酸催化二氧化硅溶胶的制备及稳定性研究

以正硅酸乙酯、水、乙醇为原料，硝酸为催化剂，制备了SiO2溶胶．研究了pH值、水量、乙醇量、反应温度、反应时间以及溶胶陈化温度等因素等对SiO2溶胶稳定性的影响，以便实现对二氧化硅溶胶稳定性的控制．实验结果表明，随着体系pH值的升高、乙醇量的增大，溶胶的凝胶时间延长，溶胶的稳定性也增强．随着体系水量的增加，溶胶的稳定性先减小后增大，在水酯摩尔比Rw=7．2时，溶胶的稳定性达到最小；随着反应温度的升高、反应时间的延长，溶胶的稳定性降低；采用较低的陈化温度有利于提高溶胶的稳定性．在溶胶粘度发生急剧变化之前溶胶是相对稳定的．     

纳米TiO2/玻璃膜的制备及其光催化性能

以钛醇盐为原料, 采用溶胶-凝胶法制备了纳米TiO2/玻璃薄膜. XRD、AFM和厚度分析表明,纳米TiO2/玻璃薄膜中TiO2为锐钛矿型结构, 粒径为纳米级, 三层膜的总厚度为200#nm.通过调节热处理温度, 能有效控制薄膜中粒子的大小.UV-VIS吸收光谱表明,TiO2/玻璃薄膜可以有效地降解罗丹明B染料废水,其光催化活性随TiO2粒径的减小而增大,受膜厚增加的影响不大.     

聚合物有序孔凝胶模板制备三维有序二氧化钛材料

以聚合物有序大孔凝胶为模板，结合溶胶/凝胶过程合成了三维有序二氧化钛材料，重点研究了聚合物凝胶组成对无机材料形态的影响，当凝胶网络中不含酸时，得到无机单分散微球有序排列的结构，当聚合物凝胶含有酸时，得到无机有序孔材料，分析了酸在无机物的溶胶/凝胶过程中的催化作用和对产物结构的影响。     

甲酰胺对正硅酸乙酯水解的影响机理

介绍一种低温法制造玻璃的方法,该方法利用醇盐即M(OR)X进行水解和缩聚反应,形成凝胶玻璃;以正硅酸乙酯(TEOS)为原料,详细讲述甲酰胺作为化学添加剂对TEOS水解的影响机理,即起着碱催化剂的作用.     

TiO2溶胶的制备和后处理条件对镀膜玻璃表面亲水性的影响

考察了TiO2 溶胶的制备方法和微波后处理对胶粒粒径及玻璃表面TiO2 膜亲水性的影响 .结果表明 ,解胶温度为 40℃制备和经一定时间微波处理得到的TiO2 溶胶的胶粒尺寸较小 ,平均粒径为 13nm ,用此溶胶制得的镀膜玻璃由于结构均匀和致密表现出良好的亲水性能     

新型纳米复合杂多酸催化剂H3PW12O40/SiO2催化合成双酚A的研究

研制了新型复合杂多酸钠米粒子H3PW12O40／SiO2，并用于催化合成双酚A；用IR、XRD、TEM等研究了它的结构形态，考察了原料配比、反应时间、反应温度、催化剂用量等对催化性能的影响，实验结果表明，使用溶胶凝胶法得到的纳米复合杂多酸催化剂，双酚A单程收经达到65．5％。     

SiO_2PMMA复合材料的粒度和结构

溶胶 凝胶技术合成了SiO2 PMMA无机 有机复合材料的均匀体系。用小角X 射线衍射、X 射线能谱仪对所合成的SiO2 PMMA无机 有机复合材料体系进行了粒度的测量。给出了在该种复合材料中 ,无机与有机成分的含量相对变化时 ,体系的粒度并不发生显著变化 ,该体系是有机相被包覆在无机相中所形成的网络等结论     

新型负膨胀系数材料ZrW2O8的合成与特性

ZrW2 O8 是新发现的由 0 3K至分解温度 1 0 5 0K都具有各向同性的负热膨胀化合物 ,但由于其分解温度和窄的热稳定范围反应合成相当困难 .本文综述了氧化物直接合成、微波合成和溶胶 -凝胶法制备ZrW2 O8以及单晶ZrW2 O8的生长方法 ,讨论了ZrW2 O8的特性 ,介绍了其负膨胀机理和潜在的应用     

纳米多孔 WO3薄膜的溶胶-凝胶制备与热处理

以金属W粉为无机原料，采用溶胶－凝胶技术，结合浸渍镀膜方法，制备出纳米多孔WO3薄膜，研究了热处理对薄膜性能的影响。采用原子力显微镜、红外光谱仪、可见光分光光度计、椭偏仪等仪器测量了薄膜的特性。实验表明：热处理使得薄膜致密，折射率增大（从1．77增加至2．03），厚度减小，WO3颗粒增大；WO3结构发生变化，桥键W－O－W吸收逐渐减弱，且向低波数方向移动，共角W－O－W键吸收越来越强。这些变化归因于热处理导致的WO3颗粒形状、团聚状态的变化以及应力键的产生。