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191.
介绍了一种新型β射线电离式气体流量计.该流量计基于标记分子法测气体流速,通过硬件模拟电路对所得微弱电流信号进行放大滤波,经A/D转换输入计算机,由软件寻峰定时,实现对大管径高温气体流量的非接触测量.设计并制作了硬件电路,给出了详细的软件设计流程图. 相似文献
192.
合成了o,o -二(β -叠氮乙基)-α-对甲苯磺酰胺基对硝基苄基磷酸酯(C18H21N8O7PS),通过元素分析、IR和1H NMR对化合物进行了表征,用X射线单晶衍射法测定了该化合物的晶体结构. 结果表明晶体属三斜晶系,P1空间群,a=0.8136(1)nm, b= 1.1872(1)nm , c=1.3412(1)nm, α=109.455(7)°, β=90.880(8)°, γ=96. 863(9)°, V=1.2106(3)nm3, Mr=524.46, ρc=1.439 g·cm-3, Z=2, μ(MoKα)=0.260mm-1, F(000)=544, 在0°< 2θ<50°范围内收集3560个独立衍射点,其中可观测衍射点2700个( |F|2≥6.0σ|F|2). 晶体结构用直接法解出,经全矩阵最小二乘法修正,最后的偏离因子为R=0.106,RW=0.095. 化合物的分子中,2个取代苯环位于分子主 链的同一侧,2个苯环平面近于平行. 2个取代的叠氮乙基的取向近于平行地指向同一方向, 向着几乎垂直于苯平面的方向伸展. 2个独立的分子之间以1对N-H…O氢键连接形成中心对称的二聚体,成为晶体结构的基本重复单元. 相似文献
193.
磁性多层膜中SiO2/Ta界面反应及其对缓冲层的影响 总被引:3,自引:0,他引:3
磁性多层膜常以金属Ta作为缓冲层,利用磁控溅射方法在表面有300nm厚SiO2氧化膜的单晶硅(100)基片上沉积了Ta/NiFe/Ta薄膜,采用X射线光电子能谱(XPS)对该薄膜进行了深度剖析,并且对获得的Ta4f和Si2p的高分辨XPS谱进行计算机谱图拟合分析,结果表明在SiO2/Ta界面处发生了化学反应;15SiO2 37Ta=6Ta2O5 5Ta5Si3,该反应使得界面有“互混层”存在,从而导致诱发NiFe膜(111)织构所需的Ta缓冲层实际厚度的增加。 相似文献
194.
报道了具有菱形隧道的配位聚合物:[Nd2(C8H5NO4)3·4H2O]∞的单晶结构.它有两个晶体学独立的金属Nd(Ⅲ)离子中心,每个金属Nd(Ⅲ)离子处于8配位的环境中.8个配位的氧原子中7个氧原子来源于6个5-氨基间苯二甲酸有机配体,另一个氧原子由配位水提供.羧基通过η1,1和η1,3方式连接两个Nd3+.晶体数据:三斜晶系,空间群P1,a=1.03680(5)nm,b=1.66934(15)nm,c=0.88221(14)nm,α=99.754(2)℃,β=111.169(4)°,γ=85.400(4)°.一部分配体在平行于ab面连接金属Nd(Ⅲ)形成分子梯,另一部分配体沿着c轴分子梯构成菱形隧道,同时配位水分子和氨基悬挂在隧道中. 相似文献
195.
介绍一种测定工业射线胶片重要参数 (感光度、平均斜率及增感系数 )的方法 .通过一次射线曝光获得 14对光学密度与曝光量的对应值 ,用这一组数据就可得到一条完整的特性曲线 ,从曲线上可求出胶片的感光度、平均斜率、灰雾度、宽容度和最大黑度 (即最大光学密度 )等参数 .如果曝光时在胶片的一半加上增感屏 ,还可同时获得有增感屏时的特性曲线 ,从两条曲线上可求出胶片加铅箔增感屏的增感系数 .测量了不同电压下的增感系数 ,结果表明 ,随着管电压的增加 ,2 0 0kV后 ,增感系数快速增加 . 相似文献
196.
X射线荧光光谱仪测定地质样品中的23个常量元素和微量元素,采用粉末压片法,测量范围常量元素从0.0026%到90.36%;微量元素从0.094ug/g到1900ug/g。该方法具有简便、快速、准确等优点。 相似文献
197.
本文计算了Ge的KαX射线光子逃逸所致之逃逸峰的强度,给出GMX型探测器逃逸峰的实验数据,说明了识别逃逸峰的方法,并提出锗探测器用于低能光子能谱测量的注意事项。 相似文献
198.
199.
几年来,一系列研究结果报道了X射线、电子和中子衍射以及透射电镜等观察Bi系高温超导材料中不同调制的无公度结构;但常规处理的Bi_2Sr_2Ca_(n-1)Cu_nO_(2n+4)超导材料往往存在二、三个超导相,其T_c分别为20K,85和110K的2201相(n-1),2212相(n-1)和 相似文献
200.
连续谱的紫外大包是类星体能量分布的最显著特征之一,大包从可见光波段延伸到远紫外及软X光波段。这种特征一般认为是由于离中心致密天体几十个Schwarzschild半径的吸积盘的热辐射所致。McDowell等人在研究31个类星体能量分布(100μm—4keV)时,却发现了少数弱包源,他们认为包弱是源的固有性质,却没有说明起因。本文对这些源的紫外光谱进行了研究,发现弱包很有可能是由于视向效应造成的。 相似文献