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61.
用传统固相法制备了Ba(Zn0.5W0.5)O3掺杂Ba[(Zn0.2Co0.8)0.33Nb0.66]O3微波介质陶瓷,通过XRD和HP8720ES网络分析仪分别对其晶体结构和微波介电性能进行了研究.实验结果表明,少量的Ba(Zn0.5W0.5)O3可以把体系的烧结温度从1430℃降低到1380℃,促进了烧结.在烧结过程中Zn的挥发会促使掺入的Ba(Zn0.5W0.5)O3转变成BaWO4,以第二相的形式存在于陶瓷样品表面,而内部并没有明显的第二相生成.这说明烧结过程中Zn的扩散很有限.在微波介电性能方面,随着Ba(Zn0.5W0.5)O3的掺杂量的增加,Ba[(Zn0.2Co0.8)0.33Nb0.66]O3的相对介电常数(εr)略有减小,谐振频率的温度系数(Tf)略有增大,而其Q×f值则在测量误差范围内波动不大,说明掺入少量的Ba(Zn0.5W0.5)O3对Ba[(Zn0.2Co0.8)0.33Nb0.66]O3在微波频率下的品质因数影响不大.  相似文献   
62.
水泥石中羟钙石的X射线衍射定量分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
用x衍射法对水泥石中羟钙石作了定量分析,得到了比较准确的结果,这些实验结果对阐述羟钙石的形成机理和抗腐蚀机理有理论和实际意义。  相似文献   
63.
利用 FT- IR和 XRD两种光谱学方法 ,对阳离子表面活剂十六烷基三甲基溴化铵( CTAB)在高岭土、石英砂和蒙脱土颗粒上的吸附进行了光谱学表征 .实验结果表明 ,光谱分析能够直观地反映矿物颗粒对活性剂的吸附、定性的确定不同矿物粒子吸附量的相对大小和吸附表面活性剂造成的矿物结构的变化  相似文献   
64.
氧化锌的XRD和TG—DTA分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
应用恒电流电化学沉积技术,在阴极表面得到ZnO薄膜,并就电流密度、沉积时间、电解液浓度和反应温度等电化学沉积工艺条件对薄膜材料的组成及结构的影响进行了讨论.  相似文献   
65.
用电子束蒸发制备一系列纳米ZnO薄膜,用XRD和AFM研究其结构和形貌,重点研究其拉曼谱.ZnO靶的拉曼谱出现了4个明显的峰,与文献报道基本一致.室温下沉积的ZnO薄膜中存在大量缺陷和氧空位,其拉曼频移只有LO模和低频E2模,且其LO模有相对频移,峰展宽,强度加强.ZnO膜的高频拉曼谱对其结构不敏感,各种制备条件下的ZnO膜其高频拉曼谱基本一致.对拉曼谱,结合XRD和AFM分析给出了初步的解释.  相似文献   
66.
A series of Mn x Co_(1-x) Fe_(1-y) Nd_yO_3(where x=0.0–1.0 y=0.0–0.1) multiferroic nanocrystals was synthesized via sol-gel auto-combustion technique. The structure was confirmed by X-ray diffraction(XRD)while morphology was investigated by scanning electron microscopy(SEM). The electrical resistivity was observed to increase from 2.14 * 10~7 to 8.77 * 10~9 Ω-cm and activation energy was found to increase from 0.64 to 0.75 e V, while the drift mobility decreased from 4.75 * 10~(-13) to 1.27 * 10~(-15)cm~2V~(-1)S~(-1) by the substitution of Mn and Nd contents. The dielectric constant, dielectric loss and dielectric loss factor decrease with frequency and Mn-Nd contents. The saturation magnetization was increased from 34 to 70 emu g~(-1) while the coercivity decreased from 705 to 262 Oe with the increase of substituents.The increase in electrical resistivity and saturation magnetization while decrease in dielectric parameters and coercivity make these nanomaterials suitable for applications in microwave devices and longitudinal magnetic recording media.  相似文献   
67.
反式—9,10—二苄基—9,10—二氢—9,10—菲二醇的晶体结构   总被引:2,自引:0,他引:2  
合成了化合物反式-9,10-二苄基-9,10-二氢-9,10菲二醇,通过m.p。.,IR,^1HNMR对其进行了表征;并经过X-射线分析确定了基单晶结构,晶体属三斜晶系,空间群Pi,a=8.058(2),b=9.715(2),c=14.437(3)^°A,α=109.59(3),β=95.96(2),γ=95.96(2)°,Z=2,V=1047.1(4)°A^3,没有发现其包合物,从结构上分析了不  相似文献   
68.
利用金刚石压腔(DAC)和原位同步辐射X射线衍射(XRD)技术, 研究天然黑柱石单晶室温下的高压结构稳定性和压缩性, 实验最高压力为39.5 GPa。实验中观察到黑柱石在19.2 GPa 时从斜方晶系α相(空间群Pnam)转变为单斜晶系β相(空间群P21/a), 转变过程中晶胞体积没有明显的不连续变化。利用Birch-Murnaghan状态方程, 对黑柱石单胞体积随压力的变化关系(P-V)进行拟合, 得到α相黑柱石状态方程参数为K0=118(4) GPa, V0=671.9(5) A3, K0′=6.6(7); β相黑柱石初始相变压力Pr=19.2 GPa, 状态方程参数为Kr=157(3) GPa, Vr=599.3(6) A3, Kr′=4 (固定)。此外, 确定了α相和β相黑柱石的轴压缩系数, 并从化学组成和晶体结构压缩性各向异性的角度讨论相变机理。  相似文献   
69.
采用TiO2作为原料与载带氯化钛的氢气高温合成单相Ti2O3.研究了氢气的一,载带物的种类,载带物量,固气反应温度,反应时间等对产物物相的影响,产物经XRD谱分析结果表明,合成单相Ti2O3的较好实验条件是:氢气流量90mL/min,载带物为TiCl4(25℃),反应时间4h.  相似文献   
70.
当半导体材料中位错密度大于107cm-2,难以用传统的腐蚀法进行测量时,可以利用高分辨X射线衍射(XRD)峰的半高宽估算材料中位错密度.该文利用该方法研究了位错密度小于107cm-2时是否适用的问题.结果表明,材料中位错密度较低(5.3×105cm-2)时,利用XRD测得的位错密度值与实际值存在3个数量级的偏差.分析认为,当晶体中位错密度较低时,参与衍射的晶面就越多,衍射峰就越窄,当位错加宽值与仪器精度接近时,就会产生较大偏差.因此在低密度位错时,利用XRD方法测量材料中位错密度时容易产生较大偏差.  相似文献   
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