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71.
72.
精密金属零件非ODS清洗技术研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
由于精密金属零件表面洁净度要求很高,目前一般采用ODS溶剂清洗.介绍了一种非ODS清洗技术,并利用X射线光电子谱等测试方法,分别比较用两种清洗技术清洗过的金属零件表面,结果表明新型清洗技术优于传统ODS清洗技术.  相似文献   
73.
利用恒电位电沉积技术实现在ITO导电玻璃上沉积ZnS薄膜,用X射线粉末衍射、扫描电镜、原子力显微镜和X射线光电子能谱对制得的薄膜进行了研究.实验表明,用该方法制得的薄膜样品的主要成分是α-ZnS,薄膜表面均匀、致密和平整,平均粗糙度为3.112 nm,颗粒的粒径大约为50~100 nm.该薄膜中Zn原子和S原子化合价分别为+2价和-2价,原子个数比接近于1∶1,没有探测到单质元素(Zn或S)沉积.  相似文献   
74.
采用液相激光烧蚀法制备了二氧化钛纳米颗粒,研究了二氧化钛纳米颗粒的生长与微结构.XRD、TEM、XPS等表征表明:此方法可在室温条件下一步获得金红石型二氧化钛纳米颗粒胶体,颗粒直径约50nm,尺寸分布窄,分散性好,从而显示出良好的应用前景.结合微观表征与激光诱导的瞬态等离子体分析对TiO2纳米颗粒形成机理进行了探讨.  相似文献   
75.
利用电化学及扫描电子显微镜(SEM)对316L与316LN两种不锈钢在高温高盐环境中的耐蚀性能进行了对比研究,利用Mott-Schottky曲线研究了两种材料的钝化膜半导体特征,借助X射线光电子能谱(XPS)研究了316LN不锈钢的钝化膜结构以及N元素在钝化膜中的分布状态。结果表明:在高温高盐环境中,两种材料形成的钝化膜都为n型半导体;316LN不锈钢形成的钝化膜耐点蚀性能更好,其钝化膜内缺陷浓度更低,N元素会在钝化膜中富集。最后利用点缺陷原理对316LN钝化膜的耐蚀机理进行了研究。  相似文献   
76.
聚醚砜酮炭膜炭化过程中炭结构形成   总被引:2,自引:0,他引:2  
XPS谱图分析出PPESK除了H以外的主要组成元素为C、N、O和S.且随着炭化温度的升高,N、O和S元素的质量分数减少,而C的质量分数增加;d002值由室温的0.458 10mm降至950℃的0.350 37nm,接近于石墨的标准层间距(0.335 40nm),表明PPESK易于石墨化.根据FTIR谱带的变化规律.提出了样品在炭化时会沿着二氮杂萘环的N—N键断裂,形成共轭腈基及异氰基的苯环化合物.异氰基化合物进一步二聚成二苯基碳化二亚胺.后者又聚合生成含氮杂环的多环芳烃.继续炭化会导致芳杂环的合并和HCN等气态小分子的脱除,生成连续巨大的含氮杂芳环多环化合物.  相似文献   
77.
采用磷酸铁锂作为正极材料,分析两种不同的化成制度对锂离子电池性能的影响.结果显示采用阶梯式化成的锂离子电池正极材料的比容量要比阶梯式化成的比容量高3 mAh/g左右,并且整个电池的充放电效率也要略高.从SEM图,没有发现不同,但是从XPS分析,阶梯式化成后锂离子电池负极CMS表面Li+含量明显要比恒流式化成要高,并且F和P峰明显要比恒流式化成更加复杂.  相似文献   
78.
煤显微组分表面含氧官能团的XPS分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
氧原子作为煤中最丰富的杂原子,C-O官能团的形态对煤的性质有重要影响。为了研究煤岩显微组分的含氧官能团,对手选高纯度镜质组和惰质组进行了XPS分析和化学计算。结果表明,煤岩组分的元素组成以C、O为主,含少量的N和无机矿物元素。其中的氧主要以-OH、-O-、COO-和SiO_2形式存在。C-C、C-H、C-O单键和COO-是碳的主要存在形式。镜质组中的脂肪族侧链和-OH基团较多;惰质组中-O-的原子浓度明显高于镜质组,而COO-略多于镜质组。镜质组表面总极性含氧官能团数量更多。研究结果有助于全面认识煤的结构和性质。  相似文献   
79.
CeO2包覆TiO2的XPS研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
利用光电子能谱XPS研究CeO2包覆TiO2后氧化还原性能。TEM照片证明实验中制备出包覆材料:Ce3d谱线说明加入TiO2后CeO2非常容易还原,吸氧时它能够再氧化。  相似文献   
80.
射频磁控溅射方法制备氧化钒薄膜的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用射频磁控溅射的方法.在不同的衬底温度和溅射功率下制备了氧化钒薄膜样品,并在纯氩气环境下作了退火处理,用X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)和激光扫描共聚焦显微镜扫描图像,对样品进行研究.XRD分析显示退火前样品为非晶态,退火后为结晶态.并用激光共聚焦显微镜对图像做了验证.对比退火后样品的XRD图谱显示在其它条件相同时.可以通过增大溅射功率或降低衬底温度.来提高退火后薄膜样品的结晶程度,并增强V2O5(001)晶面的取向性;通过对比退火前样品的XPS谱可知在其它条件相同时,通过升高衬底温度或减小溅射功率.可以提高薄膜样品中高价钒的含量.  相似文献   
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