首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   126篇
  免费   0篇
  国内免费   2篇
系统科学   5篇
丛书文集   7篇
教育与普及   8篇
理论与方法论   10篇
现状及发展   3篇
综合类   95篇
  2022年   1篇
  2021年   1篇
  2019年   1篇
  2018年   1篇
  2014年   4篇
  2013年   4篇
  2012年   5篇
  2011年   9篇
  2010年   9篇
  2009年   15篇
  2008年   12篇
  2007年   9篇
  2006年   12篇
  2005年   9篇
  2004年   4篇
  2003年   8篇
  2002年   6篇
  2001年   1篇
  2000年   3篇
  1999年   5篇
  1998年   2篇
  1997年   3篇
  1993年   1篇
  1992年   1篇
  1991年   2篇
排序方式: 共有128条查询结果,搜索用时 15 毫秒
51.
基于十字结微带结构的等效电路,建立了平面波照射下不连续微带电路的电磁敏感性模型.利用场耦合理论计算入射平面波在微带电路终端产生的等效源表达式,并分别对十字结微带结构和单级放大器等电路的电磁敏感性模型进行计算和仿真验证.结果显示,仿真结果与测量结果具有很好的一致性,且仿真时间短,有助于设计者更加快速准确地预测电磁干扰对不连续微带电路的影响.  相似文献   
52.
王竞 《科技资讯》2009,(27):100-100
集成电路作为电子信息产业的核心,它能在短短的几十年内得到如此迅速的发展,并非偶然,它有着它自身的发展规律。在发展的同时也与其他行业一样面临着一些阻碍发展的严峻问题,像特征尺寸进一步减小及在深亚微米情况下互连线影响等问题。  相似文献   
53.
针对各种响应情况(过阻尼、欠阻尼、临界阻尼),给出了斜阶跃信号激励下的RLC互连线时延模型.该模型计算所得的结果与SPICE仿真结果的误差小于3%.时延解析式的提出,给实际电路(信号为斜阶跃的,而非理想阶跃)的时延分析带来方便.  相似文献   
54.
通过对200nm厚,2μm宽的金互连线施加高电流密度交流电,研究该互连线的失效行为.通过解析金互连线在交流电作用下失效熔化过程的温度场模型,得到了高电流密度下的金线失效熔化过程温度场的解析解.实验数据与理论计算值的对比表明,在高电流密度交流电加载下,由于金互连线的局部过热,导致其中间熔断而造成失效,而不是由热疲劳导致的损伤.  相似文献   
55.
美国麻省理工学院大脑与认知科学院经实验研究,发现了在记忆过程中起关键作用的神经路径。 要想形成情景记忆和工作记忆,就要必须将各种不连续的短暂因素串在一起,而这要依靠大脑中的海马回——内嗅皮质网络接收来自周边脑区的信息,再把信息传递给海马回。但是哪些神经线路促成了这些因素互相连接还是个谜。  相似文献   
56.
本文提出了分段等厚干涉法测量平面直线度误差的方法系统误差和方法随机误差的计算式,并指出了这种方法的缺点。  相似文献   
57.
增强型并行端口EPP具有数据双向传送,通过硬件自动握手的特点,用它实现微机之间的通信具有传输速度快,软件设计方便的特点.设计了一种利用EPP端口实现微机通信的方法,给出了它的连线方法和软件设计的主要部分.  相似文献   
58.
通过实验研究阶段全面描述金属互连电迁移过程的参量集合,发现了电阻和金属薄膜电阻的低频涨落在金融互连电迁移演化过程中的变化规律,实验结果表明,将电阻与金属薄膜电阻的低频涨落点功率谱幅值及频率指数3个指示参数相结合,可以明确指示和区分电迁移过程中材料的空位扩散,空洞成核和空洞长大3个微观结构变化的阶段,上述3个参量作为一个集合才能够全面表征金属薄膜电迁移退化的过程,在此基础上可望发展新的超大规模集成电路(VLSI)电迁移可靠性评估技术。  相似文献   
59.
为在一定的时间限制下得到最少的缓冲器插入数目和连线分段数目,提出了一种深亚微米电路设计方法。该方法通过将传统的可变尺寸驱动连线模型改为缓冲器连线分段模型,得到了最优的缓冲器插入数目和连线分段数目。实验结果表明,在不同的时间限制下,缓冲器数目和连线分段数目是不同的。  相似文献   
60.
在大量仿真数据以及当前集成电路设计工艺的基础上,提出了一种简单互连线负载的有效电容计算模型.该模型基于精确的互连线π模型,考虑了互连线电阻对负载互连线的屏蔽作用,并能与目前常用的器件时延公式兼容.实验结果表明,该模型与电路模拟软件SPICE仿真结果相比较误差小于1.2%.  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号