语言传输指数STI评价汉语清晰度的失效性

为了研究针对汉语清晰度的客观评测方法,通过汉语清晰度主观评价实验和客观测量对现有语言传输指数STI评价汉语清晰度的失效性进行分析。从汉语清晰度与STI的关系、STI的掩蔽模型、STI的权重系数三方面论述了采用STI评价汉语清晰度可能存在的问题,对引用IEC标准作为评价汉语清晰度的国家标准或工程规范提出了一些建议。     

采用知识流理论的高速滚动轴承打滑失效试验台集成设计

为了降低高速滚动轴承打滑失效试验台设计中知识获取的复杂度,结合知识流理论对试验台集成设计过程进行了知识梳理与基于流程分解的知识解耦,在对功能质量约束需求进行分析的基础上研制了打滑失效试验台。提出了一种支持产品全生命周期设计的一体化知识集成框架,并基于这一框架对打滑失效试验台从需求分析直至交付的全生命周期设计过程中的设计知识及其与设计过程的集成模式进行了研究。建立了高速滚动轴承打滑失效试验台集成设计的知识流模型,对试验台集成设计服务及其知识流动情况进行了分析;研究了分布式资源环境下设计知识服务的发布与发现机制,对建立的资源单元进行了基于网络的知识服务注册与发布,以利于分布式资源环境下用户的搜索与发现。研究结果表明,从知识流视角出发对试验台集成设计进行研究是可行的,有助于提高设计效率与质量。     

城市快速路驶入匝道瓶颈车辆汇入行为

基于上海延安高架两个驶入匝道(南线虹许路驶入匝道、虹井路驶入匝道)瓶颈的汇入行为视频,对汇入车辆、当前和目标车道汇入交互车辆进行了轨迹和汇入行为参数提取,共获得416个汇入行为样本;应用分类回归树(CART)对3种汇入行为分别进行建模,分析影响不同汇入行为的因素,并用混淆矩阵对分类结果进行评价.结果表明,CART能较好地预测3种不同汇入类型,其分类准确率均达到了75%以上.CART与经典离散选择模型和朴素贝叶斯分类结果对比表明,CART的分类效果明显优于上述两类模型.     

浅谈边失效可靠性研究的主要内容及进展

无论对于点失效、边失效还是点边混合失效网络模型,精确计算任意网络的可靠度都是NP-hard问题;随着现代网络规模的不断扩大,快速精确地计算可靠度是一个摆在我们面前的现实难题.因此,部分研究者关注于网络可靠度上下界的确定问题.采用相对简单的计算方法,通过网络可靠度上下界值评估网络可靠性,以此对网络可靠性分析和可靠性综合提供有价值的参考依据.针对网络可靠性分析和综合的研究十分活跃,内容也十分丰富,主要包括边失效情况下网络可靠性的分析与设计,点失效情况下网络可靠性的分析与设计和点边混合失效情况下网络可靠性的分析与设计,主要针对网络在规定的条件下和规定的时间内的生存能力和网络在规定的条件下和规定的时间内完成规定任务的能力.     

MEMS微悬臂梁在冲击环境下的可靠性

由于MEMS器件的可靠性成为MEMS产品商业化过程中一个重要问题,而冲击断裂是导致器件失效的一个重要原因。本文主要研究多晶硅微悬臂梁在冲击条件下的可靠性,文中阐述了断裂失效机理,并使用应力-强度模型对可靠度进行建模。通过实验统计在各种加速度冲击下的可靠度,并将实验实测值与理论值进行对比。     

邻近区域模型敏感失效算法的改进

随着技术的快速发展,随机存储器记忆体的测试越来越需要更多可行的失效模型和有效的测试算法。基于对记忆体的邻近区域模型敏感失效模式以及其它失效模型的分析,本文提出了一种新的测试算法,较以往的具有更短的测试长度,是65.2倍存储器记忆体的比特数。而且有较高的测试覆盖率。     

正项级数敛散性一种判别方法

对于正项级数敛散性判定,当比式判别法失效时,给出一种新方法.该方法在判别某些正项级数敛散时比拉贝判别法更方便.     

新型SL3-1双翻斗型雨量传感器口径圈过早腐蚀的失效分析(英文)

对一种新型双翻斗型雨量传感器用口径圈过早发生腐蚀失效进行了全面、系统的分析.为找出其失效起因和失效机理,一系列表征分析手段用于该口径圈的材质检验及宏微观表面形貌分析.结果表明:材质本身存在的缺陷以及因加工引起的表面镀层不均匀是引发该新型口径圈过早腐蚀失效的主要原因.最后,针对上述结论对该失效提出了相应的解决建议.     

有固定墩钢质管道冲沟状态下动荷载失效长度数值分析

通过对有固定墩钢质管道在地质灾害冲沟发生时管道失效过程的研究,建立了描述这一破坏过程的力学模型;再利用ANSYS有限元分析软件,建立了埋地管道有限元数值分析模型。通过输入地震波,对不同地震烈度下的地震响应进行了有限元数值仿真计算,得到了在不同地震动荷载作用下管道的最大应力和位移情况,给出了管道动载失效长度,为管道的抗震设计提供理论依据。     

高量程加速度计测试电路板的可靠性分析

测试电路是高量程加速度计的重要组成部分,其抗冲击能力直接影响高量程加速度计的可靠性。在理论分析高量程加速度计测试电路在冲击环境下的失效模式与机理的基础上,运用ANSYS/LS-DYNA对测试电路的抗过载能力进行了模拟仿真。完成了测试电路在0—40 000 g范围内的冲击测试。试验结果发现在19 750 g的冲击下电路失效。并且对电路板的可靠性采用应力—强度干涉模型进行评估。