长序厚壳桂的硬化侵填体

经光学显微镜和扫描电子显微镜观察,发现长序厚壳桂导管分子中存在丰富的硬化侵填体,这种侵填体的发育与导管－薄壁组织细胞间纹孔口的大小无关,而与轴向薄壁组织和射线有关。     

细胞分裂素对大豆叶片衰老过程中蛋白激酶基因表达的影响

利用真核生物催化丝氨酸／苏氨酸残基磷酸化的蛋白激酶ＶＩ和Ⅷ保守区设计兼并引物,进行ＲＴ－ＰＣＲ扩增反应,研究大豆叶片衰老过程中蛋白激酶基因表达的变化及外源细胞分裂素处理的作用。结果表明人工合成的细胞分裂素－６ＢＡ预处理很可能在转录水平上正向调节一些蛋白激酶基因的表达,而诱导衰老处理则起负调控作用。     

秦安大地湾高分辨率全新世植被演变与气候变迁初步研究

主要根据孢粉分析结果,并结合磁化率,碳酸钙恢复了陇西黄土高原地区全新世期间植被气候的变化过程。结果表明全新世气候存在３个大的阶段,全新世早期气候以寒冷为主要特点,中全新世气候温暖湿润,晚全新世气候以干旱为主要特征。     

胰腺腺泡细胞胞浆游离钙浓度的测定及药物作用的研究

本文建立了用荧光指示利Fura－2测定胰腺腺泡细胞胞浆游离Ca2＋浓度（［Ca2＋］i）的实验技术,包括：胰腺腺泡的分离制备;Fura—2／AM的负载;腺泡悬液的荧光光谱测量等．测定了胰腺腺泡细胞［Ca2＋］i。的静息值和卡巴可促腺泡细胞［Ca2＋］i升高的剂量—效应关系及动力学过程,并研究了柴胡总皂甙对胰腺腺泡细胞［Ca2＋i］的影响．发现0．01mg／ml浓度的柴胡总皂甙使胰腺腺泡细胞［Ca2＋］。明显升高,0．1mg／ml浓度时可使［Ca2＋］。升高到静息值的3倍,提示柴胡总皂甙的促酶分泌作用是通过胞内［Ca2＋］i升高介导的．     

弱酸性介质中Silicalite—1分子筛膜的制备与表征

在ＳｉＯ２－ＴＰＡＢｒ－ＮＨ４Ｆ－Ｈ２Ｏ弱酸性氟离子体系中,在玻璃基片上采用水热晶化法制备了Ｓｉｌｉｃａｌｉｔｅ－１（全硅ＺＳＭ－５）分子筛膜．通过ＸＲＤ,ＳＥＭ分析测试手段对所合成的分子筛膜进行了表征,并对膜合成中硅源,水量等影响因素进行了考察．     

硒水平对食管癌发病率影响的初步研究

对比研究显示食管癌高发区磁县土壤,粮食,水和正常人发硒的质量分数「分别为０．４２＊１０＾－９,０．０８＊１０＾－９,１．２４＊１０＾－９,１．１６＊１０＾－６」最高,中发区临漳县次之「分别为０．１７４＊１０＾－９,０．０４９＊１０＾－９,０．６８＊１０＾－９,０．９７＊１０＾－６」,低发区魏县最低「分别为０．１４８＊１０＾－９,０．０２６＊１０＾－９,０．２４＊１０＾－９,０．９１＊１０＾－６」,     

热稳定剂对PVC／PU共混体系性能的影响

本文研究了ＰＶＣ的热稳定剂对ＰＶＣ／ＰＵ共混体系性能的影响．通过红外光谱、热分析和透射电镜等手段探讨造成共混物性能差别的原因．结果表明：金属皂类稳定剂最有利于共混体系的韧性改善,而有机锡化合物、铅盐均不利于提高共混物的缺口冲击强度．不同的稳定剂对共混体系的应力－应变行为影响不大．溶剂抽提和红外光谱结果表明,加工过程中可能导致的化学交联不起显著的作用．动态力学的结果表明,不同的稳定剂体系导致ＰＵ与ＰＶＣ的两相相容性有差别,从而导致共混体系相态结构的差异,透射电镜研究结果证实了这一点．     

痰和咽拭子PCR及血清学联合检测肺炎衣原体急性呼吸道感染

了解成人呼吸道感染患者急性肺炎衣原体感染的发病情况。呼吸道感染患者１１０例,同时采集痰和咽拭子标本,应用聚合酶链式反应（ＰＣＲ）检测肺炎衣原体ＤＮＡ及采静脉血检测肺炎衣原体抗体。本组患者１７例（１６％）有肺炎衣原体近期感染的急性抗体,１２例（１１％）痰和（或）咽拭子肺炎衣原体ＰＣＲ检测阳性,联合应用两种方法的阳性率为２３％（２５／１１０例）。肺炎衣原体急性感染以哮喘急性发作、肺炎、ＣＯＰＤ急性加重和急性支气管炎患者多见（分别为５７％、３５％、２６％和２５％）,其临床表现无特征性。本组成人呼吸道感染患者肺炎衣原体急性感染的发病率较高,提示肺炎衣原体是呼吸道感染的重要致病原。     

4—氨基—1,2,4—三唑Schiff碱双核M（Ⅱ）配合物的合成及磁性

合成一类新的配合物［M2L2］（ClO4）2·nH2O［M＝Cu（Ⅱ）（1）、Co（Ⅱ）（2）Ni（Ⅱ）（3）,L为4－（邻羟苯基亚甲基）亚胺－1,2,4－三唑］．元素分析、红外光谱、电子光谱等分析数据表明配合物具有酚氧桥的结构．配合物的变温（4～300K）磁化率测定值与理论模型拟合,求得磁参数分别为：配合物（1）J＝－99．32cm－1,g＝2．12;配合物（3）J＝－72．58cm－1,g＝2．12．表明金属离子间有弱的反铁磁相互作用．     

用光反射测试方法检测的硅抛光片和外延片表面的图谱

利用检测半导体硅抛光片及硅外延片表面缺陷的光反射法（魔镜法）［1］,观测到了二十余种硅抛光片及硅外延片表面缺陷的图样．本文报道了部份图样．