基于VB的计算机考试复习系统的设计与实现

介绍了基于Visual Basic +Mirosoft Acess计算机考试复习系统的设计和实现,解决了数据库设计、操作过程等方面遇到的关键问题:登陆功能的实现,在大的总数据库基础上自动创建新的、能快速使用的数据库和表的实现,实现了试题的任意编辑和自动组卷,从而最大程度地加快了系统的速度和严密性.     

不确定离散多时滞系统的模糊动态输出反馈保性能控制

针对一类用T-S模糊模型描述的不确定离散多时滞系统,研究了其动态输出反馈保性能鲁棒控制问题.通过构造一个相应的Lyapunov函数,给出了系统模糊输出反馈保性能控制律存在的一个充分条件和性能上界.并证明了该条件等价于一组线形矩阵不等式的可行性问题.进而,通过建立和求解一个凸优化问题,给出了系统设计次优保性能模糊输出反馈控制律的方法.最后通过一个算例来验证所给结果的有效性.     

菲涅耳波带片衍射产生的光谱奇异现象

研究高斯型光谱的完全空间相干光经菲涅耳波带片后,远场轴上点的光谱奇异现象.结果表明,在相位奇异点处,高斯型光谱一分为二,出现光谱开关现象.在相位奇异点附近,一些点处的光谱发生蓝移,而另一些点处的光谱发生红移.这些光谱奇异现象与观测点位置有关,光谱开关总是发生在光强为极小值处.分析和比较几种菲涅耳波带片的光谱奇异现象,以及其光强分布情况.     

傅立叶近红外漫反射光谱的偏最小二乘法应用研究

对小麦粉的傅立叶近红外漫反射光谱和成分浓度数据进行了偏最小二乘法处理,对小麦粉的水分、蛋白质干基以及湿面筋干基同时进行了定标和预测.结果证明:偏最小二乘法充分利用了样品的光谱信息和化学组分浓度信息,对于成分复杂以及光谱重叠现象严重的光谱仍然给出了优良的定标和预测结果.     

世界海洋环境中的塑料污染现状分析及治理建议

塑料碎片在环境中广泛存在,目前已成为海洋污染的重要来源,是当今海洋环境中不可忽视的新型污染物。本文对近几年国际上有关海洋塑料污染的研究进行了梳理,综述了塑料碎片在世界海洋环境中的含量分布及对海洋生态环境的危害,分析了国际上为应对海洋塑料污染采取的相关行动举措,同时对加强海洋塑料污染的防治提出了建议。     

国际临界带研究发展回顾与美国临界带研究进展介绍

基于对临界带国际发展态势的分析,梳理了临界带的概念;回顾了国际临界带研究的发展历程;并重点对美国在临界带研究方面的进展及其已经部署的6个临界带观测站进行了详细的介绍。     

信息可视化和可视分析：挑战与机遇——北戴河信息可视化战略研讨会总结报告

由天津大学软件学院发起并召集,东北大学秦皇岛分校和燕山大学承办的信息可视化战略研讨会于2012年6月9-10日在北戴河成功举行．本文总结了此次会议的讨论内容和达成的共识,对当前信息可视化和可视分析领域的挑战和国际上这方面的研究方向做了大致的分析,并对今后信息可视化和可视分析的大方向提出一些建议,以及对具体行动提出一系列倡议．     

基于共形阵的角度和极化信息联合估计算法

针对复杂载体上共形阵列存在多极化接收和遮挡效应的问题,本文提出一种基于方向图矩阵重构导向矢量的改进极化多重信号分类(multiple signal classification, MUSIC)算法。首先对共形天线阵列进行建模,在获取各个阵元的方位和俯仰分量方向图数据后,将方向图数据分解并重构阵列的导向矢量矩阵,最后结合极化MUSIC算法进行波达方向(direction of arrival, DOA)和极化参数联合估计。相对于理论导向矢量的极化MUSIC算法,本文所提改进算法在解决了遮挡效应的同时具有更高的估计精度,并可有效降低运算量。仿真实验结果验证了这一结论。     

基于DEM的民航地空VHF通信有效覆盖仿真研究

针对起伏地形环境下求解民航地空甚高频(very high frequency, VHF)通信有效覆盖范围冗余较大、精度较低的问题,采用改进的最大斜率法进行了仿真研究。首先,考虑遮蔽角计算存在计算冗余,提出"高程清洗"方法,降低计算量。其次,考虑求解最大斜率遮蔽角存在误差,采用改进的反距离加权插值法对原始数字高程模型数据进行插值提升分辨率,提高了切点逼近点位置精度。然后,为确定遮蔽区域具体点位,提出"切点截止法"进行求解。最后,为得到准确覆盖率,采用"网格法"分析计算。实验表明,改进的最大斜率法可有效减少计算冗余,提高信号覆盖求解精度,覆盖率相对改进前分别降低9.58%、4.10%和1.26‰。改进的VHF有效覆盖范围仿真程序可为VHF地面通信站选址、飞机航线规划提供支撑。     

反应离子刻蚀剥层的微分霍耳法表征超浅pn结

用反应离子刻蚀(RIE)剥层的微分霍耳法(DHE)对等离子体掺杂、离子注入制备的Si超浅p n结进行了电学表征.通过对超浅p n结样品RIE剥层的DHE测试和二次离子质谱(SIMS)测试及比较,发现用反应离子刻蚀(RIE)剥层的DHE测试获得的杂质浓度分布及结深与SIMS测试结果具有良好的一致性,DHE具有良好的可控性与重复性.测试杂质浓度达1021cm-3量级的Si超浅结样品,其深度分辨率可达nm量级.