一种用于Web应用程序测试的对象模型

Web应用程序开发的复杂性使得Web应用程序测试技术的研究成为软件测试领域的研究热点。提出了一种用于Web应用程序测试的对象模型,该模型从便于测试的角度将Web应用程序抽象成三种对象:客户端对象、服务端对象和组件对象。与以往的模型相比较,该模型不仅有助于测试人员理解Web应用程序,也有助于测试用例的直接提取。     

铝镁复合氢氧化物的合成研究

以硝酸铝、硝酸镁为原料,ＮａＯＨ 为沉淀剂,采用变化ｐＨ 值法,经过共沉淀水热合成了铝镁层状复合氢氧化物。详细测定了不同镁铝摩尔比混合盐溶液的碱滴定曲线,利用正交设计探讨各个主要因素在合成过程中的影响,借助ＸＲＤ鉴定合成物相结构。结果表明,当混合盐溶液中ｎ（Ｍｇ）／ｎ（Ａｌ）＝ １．０～１０．０ 时,在ｐＨ＝ ５．０～１０．０ 下,与ＮａＯＨ 共沉淀物经回流处理后,均能合成层状复合氢氧化物;最佳合成条件为：ｎ（Ｍｇ）／ｎ（Ａｌ）＝ １．０～６．０,ｐＨ＝ ８．０～９．０,１１０℃,３ ｈ 的水热处理。     

WINDOWS 98中文版系统配置文件MSDOS．SYS的组成分析

本文对WINDOWS98中MSDOS．SYS文件的组成及各参数的设置进行了分析,并介绍了WINDOWS98启动过程中不同启动特性的设置。     

响应面法优化制备巨菌草基高比表面积活性炭

以巨菌草作为原料,化学活化法制备高比表面积活性炭,在单因素考察基础上,采用响应面分析法对活化温度、活化时间、碱炭比等影响因素进行了条件优化.通过模型分析确定了最佳制备工艺条件为活化温度920℃、活化时间50 min、碱炭比4∶1,该条件下制备的巨菌草基活性炭实际碘吸附值与预测值相近,证明响应面法模型优化分析结果可靠.通过BET、IR和SEM等进行表征,表明所制备的巨菌草基活性炭表面官能团种类丰富,孔隙结构发达,达到了超级活性炭的标准,为巨菌草基活性炭的开发应用提供了制备工艺参数及材料性能参考.     

退化羊草草原浅耕翻处理植物群落恢复演替的研究

对退化羊草草原浅耕翻处理后植物群落恢复演替动态的研究结果进行了报道．１１年的变化结果如下：处理群落种的丰富度增加．群落种多样性指数在１１年中的分布符合方程Ｄ＝２．４３－０．４９ｔ＋０．０４ｔ２,均匀性指数分布符合方程Ｅ＝１．４３－０．８５ｔ＋０．０２７ｔ２．群落密度和生物量均较处理前有显著的增加．羊草是造成群落密度和生物量变化的最主要种群,其重要值在１１年中分布符合方程Ｉ＝２０２．９－７８．４／ｔ－０．２２／ｔ２,表明在演替开始的前几年羊草恢复较快,随着时间的延长,增加变缓并保持在一定的水平．１１年的恢复过程可划分为羊草＋少年生杂类草、冰草群落（１—４年）;羊草群落（５—８年）和羊草＋冰草＋多年生杂类草群落（９—１１年）三个群落阶段．１１年的恢复处理群落并未恢复到原生羊草草原群落的水平、演替将继续进行     

计算机系统的安全与保护

文章概述了关于计算机系统安全方面的知识,全面而又详细地介绍计算机系统安全史上著名的安全缺陷,分析了ＩＮＴＥＲＮＥＴ网虫和通常的安全性攻击,并讨论了操作系统保护机制方面的诸多问题,阐述了保护域的概念以及隐蔽信道的多种形式。     

锥形薄壳的低频薄膜振动解及其在扬声器振膜的应用

采用摄动法求解旋转薄壳的轴对称自由振支方程,在低频中得到４个边缘弯矩解析解和２个通常采用数值计算的薄膜无矩解,本语文把锥壳无矩方程表示为以频率参数和几何参数的组合－－ｋｘｉａｎａ为自变量的形式,采用幂级数法求得了锥壳薄膜无矩解,结合弯矩解,求解了扬声器锥形振膜的低频强迫振动,并采用有限元数值计算方法验证了结果的正确性,对解的分析表明,在低频段,求解扬声摹辱劝可采用纯薄膜近似－－求满足薄膜边界条件的     

家鸽肠道嗜银细胞的分布及形态学观察

本文用Ｇｒｉｍｅｌｉｕｓ银染法对家鸽肠道嗜银细胞的分布及形态在光镜下进行了研究。     

广义系统多传感器信息融合降阶状态估值器

对于带多传感器的广义线性离散随机系统,基于奇异值分解,将其化为等价的两个降阶多传感器子系统。应用Kalman滤波方法,在线性最小方差最优加权融合准则下,提出了最优加权融合降阶稳态广义Kalman估值器。可统一处理融合滤波、平滑和预报问题,可减少计算负担和改善局部估计精度。为了计算最优加权,提出了局部估计误差方差阵和互协方差阵的计算公式。     

用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C TiO2薄膜的组分和厚度

在X射线荧光（XRF）分析中应用基于基本参数法的FP—Multi软件,采用C固定道和Ti、Al、Si扫描道,以99．999％石墨及纯Al、Ti、SiO2四个块样做标样,对玻璃基材上含有C元素的TiO2薄膜厚度及成分进行了测试分析。薄膜厚度的测定结果还与用nkd干涉仪、扫描电镜断面分析等方法的测试结果做对比。证明X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C＋TiO2薄膜厚度及成分是可行的。